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基于FPGA的電容在線測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
PCB板在焊接后可能存在元器件的開(kāi)路、短路、漏焊等故障，所以需要在不將元器件焊離PCB板的情況下設(shè)計(jì)一種在線測(cè)試。本文研究了一種電容在線測(cè)試方法，并以向FPGA內(nèi)植入Nios II軟核作為控制器，以控制信號(hào)源的發(fā)生與測(cè)試檔位的自動(dòng)切換。實(shí)驗(yàn)證明了該測(cè)試方法的可行性及較高的精準(zhǔn)度，達(dá)到了設(shè)計(jì)目的。
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安捷倫 T3111S 測(cè)試系統(tǒng)獲 NFC 論壇最新發(fā)布的認(rèn)證
2014年 4 月 23 日，北京――安捷倫科技公司（NYSE：A）日前宣布，旗下的 T3111S NFC 測(cè)試系統(tǒng)順利通過(guò) NFC 論壇（NFC Forum）最新發(fā)布的射頻模擬（Analog）測(cè)試系統(tǒng)的驗(yàn)證。NFC 論壇于 3 月 17 日至 21 日在美國(guó)舊金
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安捷倫最新PXI 功能測(cè)試系統(tǒng)亮相 Nepcon 中國(guó)電子展
21ic訊 安捷倫科技公司日前宣布，旗下最新款 PXI 功能測(cè)試系統(tǒng)、邊界掃描分析儀以及最新在線測(cè)試系統(tǒng)將亮相 NEPCON 中國(guó)電子展(NEPCON EMT China 2014)。本屆展會(huì)將于 4 月 23 日至 25 日在上海世博展覽館舉行，安捷
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4G時(shí)代強(qiáng)勢(shì)來(lái)襲 安立引領(lǐng)通信測(cè)試
[導(dǎo)讀] 伴隨著TD-LTE市場(chǎng)應(yīng)用的不斷發(fā)展，測(cè)試儀表和測(cè)試系統(tǒng)作為TD-LTE產(chǎn)業(yè)鏈的重要組成部分，對(duì)于產(chǎn)品的性能、研發(fā)和產(chǎn)業(yè)化起到了關(guān)鍵的推動(dòng)作用，特別是在有關(guān)終端測(cè)試的多模功能一體化測(cè)試系統(tǒng)、高速數(shù)據(jù)業(yè)務(wù)仿真
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艾德克斯電源測(cè)試系統(tǒng)自由組合 靈活應(yīng)對(duì)企業(yè)需求
艾德克斯展臺(tái)全景2014年4月10日，第二屆中國(guó)電子信息博覽會(huì)(CITE2014)在深圳會(huì)展中心召開(kāi)。艾德克斯作為專業(yè)電源測(cè)試領(lǐng)域領(lǐng)導(dǎo)企業(yè)，展示了多種測(cè)試電源及電子負(fù)載產(chǎn)品亮相。其中可以自由組合的IT9500電源自動(dòng)測(cè)試系
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《NI自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望2014》助您優(yōu)化測(cè)試策略
[導(dǎo)讀] 2014年4月－美國(guó)國(guó)家儀器公司（National Instruments， 簡(jiǎn)稱 NI）近期發(fā)發(fā)布了《自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望2014》，重點(diǎn)闡述了該公司對(duì)最新測(cè)試和測(cè)量技術(shù)方法的研究成果，總結(jié)了將會(huì)影響許多行業(yè)的技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)。工
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《NI自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望2014》助您優(yōu)化測(cè)試策略
美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近期發(fā)發(fā)布了《自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望2014》，重點(diǎn)闡述了該公司對(duì)最新測(cè)試和測(cè)量技術(shù)方法的研究成果，總結(jié)了將會(huì)影響許多行業(yè)的技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)。工程師和經(jīng)理們可借助該
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安捷倫NFC測(cè)試系統(tǒng)獲NFC論壇認(rèn)證
安捷倫(Agilent)的T3111S近距離無(wú)線通訊(NFC)測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)NFC論壇(NFC Forum)類比測(cè)試系統(tǒng)驗(yàn)證。臺(tái)灣安捷倫科技電子量測(cè)事業(yè)群總經(jīng)理張志銘表示，安捷倫將全力與NFC論壇及全球客戶合作，以便推動(dòng)NFC技術(shù)的大規(guī)模應(yīng)用
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元暉光電：LED行業(yè)的常青企業(yè)
LED半導(dǎo)體照明網(wǎng)訊 在LED這個(gè)新興行業(yè)，名聲大噪的企業(yè)有之，曇花一現(xiàn)的企業(yè)有之，若問(wèn)及哪家企業(yè)能經(jīng)得住時(shí)間的考驗(yàn)、堅(jiān)持走品質(zhì)路線且呈現(xiàn)出一種歷久彌新的行業(yè)影響力，元暉光電就是這么一個(gè)例子。不久
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新的吉時(shí)利電源允許高達(dá)10kV的安全擊穿測(cè)試
市場(chǎng)上最具成本效益的高電壓擊穿測(cè)試方案21ic訊 吉時(shí)利儀器日前宣布，推出兩款優(yōu)化的高壓電源，用于高電壓的設(shè)備和材料測(cè)試，高能物理和材料科學(xué)研究。2290-5 5kV型電源和2
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基于SPCE061A傳感器測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用與設(shè)計(jì)
引言近些年來(lái)，氣敏傳感器研究發(fā)展迅速，對(duì)氣敏傳感器的測(cè)試也越來(lái)越普遍。傳感器測(cè)試主要是為了檢測(cè)傳感器的指標(biāo)從而判斷該傳感器是否為合格產(chǎn)品，傳感器的性能指標(biāo)一般包
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豐富的產(chǎn)品線提供多元化測(cè)試方案
艾德克斯(ITECH)位于美國(guó)和臺(tái)灣的研發(fā)中心每年都會(huì)引用最核心的技術(shù)，結(jié)合行業(yè)發(fā)展方向，開(kāi)發(fā)出多款最新電源、電子負(fù)載等測(cè)試儀器。多年來(lái)，ITECH專注于以電源測(cè)試為主的產(chǎn)品，故產(chǎn)品線較全，即使同一功率，也能找出
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基于LabVIEW的繼電器測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案
本文介紹了一種繼電器測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案，它是基于LabVIEW設(shè)計(jì)，解決了小電流測(cè)量不準(zhǔn)確的問(wèn)題，降低了繼電器測(cè)試誤判率，測(cè)量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確，使用方便，完全智能化測(cè)試，有效地提高了工作效率。
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多傳感器空氣流量測(cè)試系統(tǒng)方案
1系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)本設(shè)計(jì)將LabVIW軟件、多傳感器、計(jì)算機(jī)結(jié)合，構(gòu)建了一個(gè)空氣流量測(cè)試系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)多傳感器信息的融合。系統(tǒng)包括被測(cè)對(duì)象、傳感系統(tǒng)、信號(hào)調(diào)理電路、數(shù)據(jù)采集與處理系統(tǒng)，系統(tǒng)框圖如圖1所示。1.1被測(cè)對(duì)象
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安捷倫面向大型多通道測(cè)試系統(tǒng)推出高性能 14 插槽 AXIe 機(jī)箱
21ic訊 安捷倫科技公司日前宣布推出一款高性能 14 插槽 AXIe 機(jī)箱和系統(tǒng)模塊。這項(xiàng)獨(dú)有技術(shù)支持多模塊系統(tǒng)功能。在雷達(dá)、天線、高能物理和數(shù)字應(yīng)用領(lǐng)域中，測(cè)試工程師可把全部模塊整合到單個(gè)機(jī)箱中，以構(gòu)建大型測(cè)試
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R&S TS8980終端一致性測(cè)試系統(tǒng)榮獲GTI創(chuàng)新獎(jiǎng)
2014年2月25日，慕尼黑—羅德與施瓦茨公司，全球射頻測(cè)試各領(lǐng)域的領(lǐng)先廠商，因其在移動(dòng)通信產(chǎn)業(yè)做出的杰出貢獻(xiàn)，剛剛榮獲業(yè)界廣泛推崇的GTI（Global TD-LTE Initiative）2014創(chuàng)新大獎(jiǎng)。每一年GTI都會(huì)頒獎(jiǎng)表彰在TD-LT
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基于測(cè)試系統(tǒng)的FPGA測(cè)試方法研究
FPGA已經(jīng)成為當(dāng)今數(shù)字化系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)的核心，全球90%以上的嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)工程師正在使用FPGA進(jìn)行著各種各樣的設(shè)計(jì)。FPGA的快速發(fā)展，為測(cè)試廠商帶來(lái)了新的機(jī)遇和挑戰(zhàn)，針對(duì)FPGA的各種創(chuàng)新測(cè)試技術(shù)和解決方案不斷問(wèn)世。文章介紹FPGA配置方法，著重介紹了利用測(cè)試系統(tǒng)（ATE）直接配置和基于CPLD+FLASH的FPGA配置方法，介紹了FPGA配置模式選擇和配置代碼生成方法，并以Virtex-II FPGA為例，詳細(xì)講述了FPGA配置與測(cè)試過(guò)程。
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斷路器局部放電測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)發(fā)
傳統(tǒng)局部放電檢測(cè)方法由于其檢測(cè)信號(hào)頻率低、易受外界干擾、且需停電，難以應(yīng)用于現(xiàn)場(chǎng)帶電檢測(cè)。結(jié)合現(xiàn)場(chǎng)情況，開(kāi)發(fā)了一套局部放電測(cè)試及數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)，為帶電設(shè)備運(yùn)行狀況提供了一種準(zhǔn)確、有效的檢測(cè)手段。經(jīng)局部放電檢測(cè)實(shí)驗(yàn)表明系統(tǒng)的實(shí)用性，大大提高斷路器測(cè)試和管理的自動(dòng)化水平。
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基于FPGA的電容在線測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
PCB板在焊接后可能存在元器件的開(kāi)路、短路、漏焊等故障，所以需要在不將元器件焊離PCB板的情況下設(shè)計(jì)一種在線測(cè)試。本文研究了一種電容在線測(cè)試方法，并以向FPGA內(nèi)植入Nios II軟核作為控制器，以控制信號(hào)源的發(fā)生與測(cè)試檔位的自動(dòng)切換。實(shí)驗(yàn)證明了該測(cè)試方法的可行性及較高的精準(zhǔn)度，達(dá)到了設(shè)計(jì)目的。
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基于LabVIEW的繼電器測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案
本文介紹了一種繼電器測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案，它是基于LabVIEW設(shè)計(jì)，解決了小電流測(cè)量不準(zhǔn)確的問(wèn)題，降低了繼電器測(cè)試誤判率，測(cè)量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確，使用方便，完全智能化測(cè)試，有效地提高了工作效率。
