經(jīng)典案例分享：弱信號(hào)的測(cè)試

　 本次設(shè)計(jì)硬件部分主要由信號(hào)放大、交直流轉(zhuǎn)換、AD轉(zhuǎn)換、量程轉(zhuǎn)換、用于數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)傳輸?shù)膯纹瑱C(jī)、接口芯片、串口以及PC機(jī)等部分構(gòu)成。首先，在PC機(jī)生成一個(gè)用于控制量程轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)顯示的窗口；先

深度了解云計(jì)算數(shù)據(jù)中心內(nèi)部架構(gòu)

對(duì)于云計(jì)算而言，應(yīng)著重從高端服務(wù)器、高密度低成本服務(wù)器、海量存儲(chǔ)設(shè)備和高性能計(jì)算設(shè)備等基礎(chǔ)設(shè)施領(lǐng)域提高云計(jì)算數(shù)據(jù)中心的數(shù)據(jù)處理能力。云計(jì)算要求基礎(chǔ)設(shè)施具有良好的

測(cè)試和測(cè)量系統(tǒng)選擇須知

　　測(cè)試和測(cè)量設(shè)備跨越很寬的范圍。對(duì)簡(jiǎn)單應(yīng)用來(lái)說(shuō)，比較容易選擇合適的結(jié)構(gòu)來(lái)滿足需要和預(yù)算。應(yīng)用的復(fù)雜性增加時(shí)，結(jié)構(gòu)的選擇以及相關(guān)的費(fèi)用也變得復(fù)雜了，就會(huì)做出錯(cuò)誤的選擇，會(huì)更昂貴，正確的選擇

光功率計(jì)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

摘 要： 介紹了一套最新研制的光功率計(jì)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)充分利用了計(jì)算機(jī)的現(xiàn)有資源，具有投資省、自動(dòng)化程度高等特點(diǎn)。對(duì)于利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣、實(shí)時(shí)通信、自動(dòng)控制等應(yīng)用具有一定的參考價(jià)值。關(guān)鍵詞： 光開(kāi)

ADI自動(dòng)測(cè)試設(shè)備解決方案

Analog Devices provides our customers with a complete portfolio of ATE signal Chain solutions to meet todays demanding SOC, DRAM and Flash Memory tester applications while developing the technologies

SOC芯片中整合RF前端有什么好處？能給生產(chǎn)測(cè)試帶來(lái)什么？

本文的主旨是啟發(fā)讀者去考慮電子芯片集成度提高對(duì)終測(cè)或生產(chǎn)測(cè)試的影響。特別的，射頻(RF)芯片測(cè)試方法的主要轉(zhuǎn)移變得越來(lái)越可行。一些關(guān)于生產(chǎn)測(cè)試的關(guān)鍵項(xiàng)目將在這里進(jìn)行

基于FPGA系統(tǒng)易測(cè)試性的研究

引 言現(xiàn)代科技對(duì)系統(tǒng)的可靠性提出了更高的要求，而FPGA技術(shù)在電子系統(tǒng)中應(yīng)用已經(jīng)非常廣泛，因此FPGA易測(cè)試性就變得很重要。要獲得的FPGA內(nèi)部信號(hào)十分有限、FPGA封裝和印刷電路板(PCB)電氣噪聲，這一切使得設(shè)計(jì)調(diào)試和

電磁繼電器參數(shù)的測(cè)試

如何簡(jiǎn)單的測(cè)試開(kāi)關(guān)電源

在電路設(shè)計(jì)當(dāng)中，開(kāi)關(guān)電源掌控著開(kāi)關(guān)管的開(kāi)通和關(guān)斷的時(shí)間比率，在電路中發(fā)揮著最基礎(chǔ)但是又不可取代的作用。正因?yàn)榉浅Ｖ匾蚤_(kāi)關(guān)電源的測(cè)試也變得異常重要。本篇文章

電源噪聲的測(cè)試

探頭的GND和信號(hào)兩個(gè)探測(cè)點(diǎn)的距離過(guò)大圖一：示波器DC的量化誤差示波器存在量化誤差，實(shí)時(shí)示波器的ADC為8位，把模擬信號(hào)轉(zhuǎn)化為2的8次方（即256個(gè)）量化的級(jí)別，當(dāng)顯示的波形只占屏幕很小一部分時(shí)，則增大

開(kāi)關(guān)電源測(cè)試規(guī)范詳解

第一部分：電源指標(biāo)的概念、定義 一．描述輸入電壓影響輸出電壓的幾個(gè)指標(biāo)形式 1. 絕對(duì)穩(wěn)壓系數(shù)： A．絕對(duì)穩(wěn)壓系數(shù)：表示負(fù)載不變時(shí)，穩(wěn)壓電源輸出直流變化量△U0 與輸入

開(kāi)關(guān)電源的42項(xiàng)測(cè)試：測(cè)試說(shuō)明，測(cè)試方法，判定標(biāo)準(zhǔn)！

白盒測(cè)試 1 輔助電源測(cè)試 測(cè)試說(shuō)明： 電源中輔助電源有重要意義，電源模塊的正常工作靠輔助電源來(lái)保障，輔助電源工作要比主電路要求更可靠，因?yàn)榧词乖谳斎腚妷撼薜臈l

MCS-51單片機(jī)中斷測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

;========================================================;設(shè)計(jì)要求;;1、硬件設(shè)計(jì)要求;使用AT89C51單片機(jī)，時(shí)鐘12MHz，設(shè)計(jì)時(shí)鐘電路和上電復(fù)位電路，;P0口、P1口、P2口分別驅(qū)動(dòng)3個(gè)LED七段數(shù)碼管顯示

開(kāi)關(guān)電源測(cè)試全面解讀

一、極限測(cè)試 1.模塊輸出電流極限測(cè)試 模塊輸出電流極限測(cè)試是測(cè)試模塊在輸出限流點(diǎn)放開(kāi)（PFC的過(guò)流保護(hù)也要放開(kāi)）之后所能輸出的最大電流，測(cè)試的目的是為了驗(yàn)證模塊

巧用Bertscope進(jìn)行芯片/系統(tǒng)的接收端容限測(cè)試和調(diào)試分析

在用戶進(jìn)行系統(tǒng)或者芯片測(cè)試的時(shí)候，一般主要驗(yàn)證幾個(gè)方面的性能和可靠性，包括系統(tǒng)發(fā)送端的信號(hào)質(zhì)量，鏈路的損耗/串?dāng)_，接收端的容限。如下圖1，一個(gè)鏈路系統(tǒng)的基本架構(gòu)。

自動(dòng)化測(cè)試腳本運(yùn)行控制方法研究

軟件測(cè)試作為保證軟件質(zhì)量和可靠性的關(guān)鍵技術(shù)，正日益受到廣泛的重視。而軟件測(cè)試自動(dòng)化，已經(jīng)成為國(guó)內(nèi)軟件工程領(lǐng)域受到廣泛關(guān)注的課題。不言而喻，軟件測(cè)試從業(yè)者都意識(shí)到軟件測(cè)試這項(xiàng)工作走向成熟化、標(biāo)準(zhǔn)化的一個(gè)

開(kāi)關(guān)電源32個(gè)測(cè)試項(xiàng)

摘要 目錄 1、功率因素和效率測(cè)試 2、平均效率測(cè)試 3、輸入電流測(cè)試 4、浪涌電流測(cè)試 5、電壓調(diào)整率測(cè)試 6、負(fù)載調(diào)整率測(cè)試 7、輸入緩慢變動(dòng)測(cè)試 8、紋波及噪聲測(cè)

儲(chǔ)能行業(yè)電能質(zhì)量問(wèn)題的應(yīng)用方案

時(shí)下，行業(yè)正在大力發(fā)展，鋰離子電池和鉛蓄電池是該領(lǐng)域應(yīng)用最多的兩種技術(shù)，但除了電池，還有哪些問(wèn)題需要關(guān)注的呢?發(fā)展規(guī)模是解決可再生能源大規(guī)模接入、提高常規(guī)電力系統(tǒng)

電源作為系統(tǒng)核心，如何保證其可靠性？

1、電壓應(yīng)力電源電壓應(yīng)力是保證電源可靠性的一個(gè)重要指標(biāo)。在電源中有許多器件都有規(guī)定最大耐壓值，比如：場(chǎng)效應(yīng)管的Vds和Vgs、二極管的反向耐壓、IC的最大VCC電壓以及輸入

LabVIEW的應(yīng)用于自動(dòng)化測(cè)試和測(cè)量平臺(tái)

近30年來(lái)，NT公司革新了測(cè)量領(lǐng)域中工程師要年年進(jìn)行測(cè)試和測(cè)量的方式。利用PC和虛擬儀器技術(shù)，通過(guò)LabVIEW的集成軟件包和PXI、POI、USB、Ethernet等模塊化測(cè)量和控制硬件，可以提高開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)效率并降低自動(dòng)化測(cè)試和測(cè)