臺(tái)積電今天舉行「半導(dǎo)體的世界」展館捐贈(zèng)臺(tái)中科博館的儀式,董事長(zhǎng)張忠謀在致詞時(shí)談到過(guò)去科博館的展館稱(chēng)「積體電路的世界」,未來(lái)隨應(yīng)用面更多,應(yīng)該改叫「半導(dǎo)體的世界」,不過(guò)他對(duì)臺(tái)積電目前的全名臺(tái)灣積體電路公
21ic訊 日本日置推出電能質(zhì)量分析儀PW3198。該產(chǎn)品應(yīng)對(duì)最新國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-30 Ed.2 Class A,是原先廣受好評(píng)的全能PQA3196的升級(jí)替代產(chǎn)品。 與以往產(chǎn)品相比,此款機(jī)型的主要有4大優(yōu)點(diǎn),分別是: 1. 安全規(guī)格
摘 要:近年來(lái),隨著FPGA 電路在軍工和航天領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,用戶(hù)對(duì)FPGA 電路的可靠性要求也越來(lái)越高。在集成電路的可靠性*估試驗(yàn)中,動(dòng)態(tài)老化試驗(yàn)是最重要的試驗(yàn)之一,F(xiàn)PGA 動(dòng)態(tài)老化技術(shù)的實(shí)現(xiàn)可以提高FPGA 電
摘 要:近年來(lái),隨著FPGA 電路在軍工和航天領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,用戶(hù)對(duì)FPGA 電路的可靠性要求也越來(lái)越高。在集成電路的可靠性*估試驗(yàn)中,動(dòng)態(tài)老化試驗(yàn)是最重要的試驗(yàn)之一,F(xiàn)PGA 動(dòng)態(tài)老化技術(shù)的實(shí)現(xiàn)可以提高FPGA 電路的可