摘 要:近年來,隨著FPGA 電路在軍工和航天領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,用戶對(duì)FPGA 電路的可靠性要求也越來越高。在集成電路的可靠性*估試驗(yàn)中,動(dòng)態(tài)老化試驗(yàn)是最重要的試驗(yàn)之一,F(xiàn)PGA 動(dòng)態(tài)老化技術(shù)的實(shí)現(xiàn)可以提高FPGA 電
摘 要:近年來,隨著FPGA 電路在軍工和航天領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,用戶對(duì)FPGA 電路的可靠性要求也越來越高。在集成電路的可靠性*估試驗(yàn)中,動(dòng)態(tài)老化試驗(yàn)是最重要的試驗(yàn)之一,F(xiàn)PGA 動(dòng)態(tài)老化技術(shù)的實(shí)現(xiàn)可以提高FPGA 電路的可