總部位于著名的卡內(nèi)基·梅隆大學(xué)軟件工程學(xué)院的國(guó)際互聯(lián)網(wǎng)安全應(yīng)急響應(yīng)組織下屬研究機(jī)構(gòu)(CERT-CC)于6日發(fā)表一份報(bào)告稱,AMD的顯卡驅(qū)動(dòng)會(huì)給應(yīng)用微軟EMET(增強(qiáng)緩解體驗(yàn)工具包)來(lái) 保護(hù)軟件漏洞的計(jì)算機(jī)帶來(lái)安全隱患。由
總部位于著名的卡內(nèi)基·梅隆大學(xué)軟件工程學(xué)院的國(guó)際互聯(lián)網(wǎng)安全應(yīng)急響應(yīng)組織下屬研究機(jī)構(gòu)(CERT-CC)于6日發(fā)表一份報(bào)告稱,AMD的顯卡驅(qū)動(dòng)會(huì)給應(yīng)用微軟EMET(增強(qiáng)緩解體驗(yàn)工具包)來(lái) 保護(hù)軟件漏洞的計(jì)算機(jī)帶來(lái)安全隱患。由
總部位于著名的卡內(nèi)基·梅隆大學(xué)軟件工程學(xué)院的國(guó)際互聯(lián)網(wǎng)安全應(yīng)急響應(yīng)組織下屬研究機(jī)構(gòu)(CERT-CC)于6日發(fā)表一份報(bào)告稱,AMD的顯卡驅(qū)動(dòng)會(huì)給應(yīng)用微軟EMET(增強(qiáng)緩解體驗(yàn)工具包)來(lái) 保護(hù)軟件漏洞的計(jì)算機(jī)帶來(lái)安全隱
摘要:介紹德州儀器公司最近出品的帶有高性能8051內(nèi)核的系統(tǒng)級(jí)ADC芯片——MSC1210。說(shuō)明8051內(nèi)核單片機(jī)的特點(diǎn)、懷能以及片上Flash、24位高精度A/D轉(zhuǎn)換器的使用方法。利用MSC1210豐富的片上資源,可以很簡(jiǎn)單
在內(nèi)核芯片制造前傳統(tǒng)的驗(yàn)證與調(diào)試方法依賴于指令集仿真器(ISS)模型。不幸的是,ISS模型速度太慢,并且時(shí)序精度無(wú)法達(dá)到與系統(tǒng)硬件部分的RTL模型交互所需的要求。本文將提供一種采用虛擬系統(tǒng)原型實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)級(jí)的多內(nèi)核系
互連中的信號(hào)完整性損耗對(duì)于數(shù)千兆赫茲高度復(fù)雜的SoC來(lái)說(shuō)是非常關(guān)鍵的問題,因此經(jīng)常在設(shè)計(jì)和測(cè)試中采用一些特殊的方法來(lái)解決這樣的問題。本文介紹如何利用片上機(jī)制拓展JTAG標(biāo)準(zhǔn)使其包含互連的信號(hào)完整性測(cè)試,從而利
功能驗(yàn)證是電子設(shè)計(jì)人員目前面臨的主要挑戰(zhàn),無(wú)論是設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)還是驗(yàn)證團(tuán)隊(duì),都將超過50%的時(shí)間用在糾錯(cuò)上,因此這一領(lǐng)域的技術(shù)進(jìn)展將對(duì)縮短產(chǎn)品上市時(shí)間產(chǎn)生重大影響。本文探討基于斷言的技術(shù)和改進(jìn)的糾錯(cuò)方法,以及為
在內(nèi)核芯片制造前傳統(tǒng)的驗(yàn)證與調(diào)試方法依賴于指令集仿真器(ISS)模型。不幸的是,ISS模型速度太慢,并且時(shí)序精度無(wú)法達(dá)到與系統(tǒng)硬件部分的RTL模型交互所需的要求。本文將提供一種采用虛擬系統(tǒng)原型實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)級(jí)的多內(nèi)核系
采用多內(nèi)核無(wú)線虛擬系統(tǒng)原型的系統(tǒng)級(jí)調(diào)試
功能驗(yàn)證是電子設(shè)計(jì)人員目前面臨的主要挑戰(zhàn),無(wú)論是設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)還是驗(yàn)證團(tuán)隊(duì),都將超過50%的時(shí)間用在糾錯(cuò)上,因此這一領(lǐng)域的技術(shù)進(jìn)展將對(duì)縮短產(chǎn)品上市時(shí)間產(chǎn)生重大影響。本文探討基于斷言的技術(shù)和改進(jìn)的糾錯(cuò)方法,以及為
本文針對(duì)復(fù)雜系統(tǒng)級(jí)芯片的軟件/硬件協(xié)同驗(yàn)證環(huán)境的多種方法進(jìn)行了分析和比較, 并就各種方法在藍(lán)牙系統(tǒng)級(jí)芯片設(shè)計(jì)中的應(yīng)用為例對(duì)其進(jìn)行了詳細(xì)地闡述。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的飛速發(fā)展,單個(gè)硅片上的集成度越來(lái)越高,如何更快
多總線IC設(shè)計(jì)的迅速涌現(xiàn)將使測(cè)試過程更為復(fù)雜,對(duì)于基于多時(shí)鐘域和高速總線的復(fù)雜IC設(shè)計(jì),傳統(tǒng)的ATE方法缺乏必要的多域支持和足夠的性能以確??焖俚?測(cè)試開發(fā)和高效能。本文提出在測(cè)試復(fù)雜的多域IC過程中,可以使用
本文針對(duì)復(fù)雜系統(tǒng)級(jí)芯片的軟件/硬件協(xié)同驗(yàn)證環(huán)境的多種方法進(jìn)行了分析和比較, 并就各種方法在藍(lán)牙系統(tǒng)級(jí)芯片設(shè)計(jì)中的應(yīng)用為例對(duì)其進(jìn)行了詳細(xì)地闡述。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的飛速發(fā)展,單個(gè)硅片上的集成度越來(lái)越高,如何更快
軟誤差率(SER)問題是于上個(gè)世紀(jì)70年代后期作為一項(xiàng)存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)課題而受到人們的廣泛關(guān)注的,當(dāng)時(shí)DRAM開始呈現(xiàn)出隨機(jī)故障的征兆。隨著工藝幾何尺寸的不斷縮小,引起失調(diào)所需的臨界電荷的減少速度要比存儲(chǔ)單元中的電荷聚
在經(jīng)歷了50多年的絕對(duì)統(tǒng)治之后,CPU終于迎來(lái)了新的挑戰(zhàn),挑戰(zhàn)者正是SoC。在過去幾十年間,你可要隨便走進(jìn)一家電腦店,根據(jù)CPU的性能來(lái)挑選一臺(tái)全新的電腦。現(xiàn)在,你在四處瞅瞅,無(wú)算是智能手機(jī)還是平板電腦,設(shè)置筆記
在經(jīng)歷了50多年的絕對(duì)統(tǒng)治之后,CPU終于迎來(lái)了新的挑戰(zhàn),挑戰(zhàn)者正是SoC。在過去幾十年間,你可要隨便走進(jìn)一家電腦店,根據(jù)CPU的性能來(lái)挑選一臺(tái)全新的電腦?,F(xiàn)在,你在四處瞅瞅,無(wú)算是智能手機(jī)還是平板電腦,設(shè)置筆記
在經(jīng)歷了50多年的絕對(duì)統(tǒng)治之后,CPU終于迎來(lái)了新的挑戰(zhàn),挑戰(zhàn)者正是SoC。在過去幾十年間,你可要隨便走進(jìn)一家電腦店,根據(jù)CPU的性能來(lái)挑選一臺(tái)全新的電腦。現(xiàn)在,你在四處瞅瞅,無(wú)算是智能手機(jī)還是平板電腦,設(shè)置筆記
在經(jīng)歷了50多年的絕對(duì)統(tǒng)治之后,CPU終于迎來(lái)了新的挑戰(zhàn),挑戰(zhàn)者正是SoC。在過去幾十年間,你可要隨便走進(jìn)一家電腦店,根據(jù)CPU的性能來(lái)挑選一臺(tái)全新的電腦。無(wú)論是智能手機(jī)還是平板電腦,設(shè)置筆記本電腦都開始使用SoC
對(duì)于設(shè)計(jì)師而言,在新產(chǎn)品發(fā)布到之前,預(yù)測(cè)其現(xiàn)場(chǎng)可靠性是非常困難的。但一旦發(fā)生未預(yù)期的嚴(yán)重現(xiàn)場(chǎng)故障,則說(shuō)明設(shè)計(jì)師的設(shè)計(jì)是失敗的。然而,即使沒有發(fā)生任何現(xiàn)場(chǎng)故障,仍需要回答以下問題:設(shè)計(jì)師是否對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行了
對(duì)于設(shè)計(jì)師而言,在新產(chǎn)品發(fā)布到之前,預(yù)測(cè)其現(xiàn)場(chǎng)可靠性是非常困難的。但一旦發(fā)生未預(yù)期的嚴(yán)重現(xiàn)場(chǎng)故障,則說(shuō)明設(shè)計(jì)師的設(shè)計(jì)是失敗的。然而,即使沒有發(fā)生任何現(xiàn)場(chǎng)故障,仍需要回答以下問題:設(shè)計(jì)師是否對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行了