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國際互聯(lián)網(wǎng)安全組織：AMD顯卡驅(qū)動存隱患
總部位于著名的卡內(nèi)基·梅隆大學(xué)軟件工程學(xué)院的國際互聯(lián)網(wǎng)安全應(yīng)急響應(yīng)組織下屬研究機構(gòu)(CERT-CC)于6日發(fā)表一份報告稱，AMD的顯卡驅(qū)動會給應(yīng)用微軟EMET(增強緩解體驗工具包)來 保護軟件漏洞的計算機帶來安全隱患。由
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國際互聯(lián)網(wǎng)安全組織：AMD顯卡驅(qū)動存隱患
總部位于著名的卡內(nèi)基·梅隆大學(xué)軟件工程學(xué)院的國際互聯(lián)網(wǎng)安全應(yīng)急響應(yīng)組織下屬研究機構(gòu)(CERT-CC)于6日發(fā)表一份報告稱，AMD的顯卡驅(qū)動會給應(yīng)用微軟EMET(增強緩解體驗工具包)來 保護軟件漏洞的計算機帶來安全隱患。由
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國際互聯(lián)網(wǎng)安全組織：AMD顯卡驅(qū)動存隱患
總部位于著名的卡內(nèi)基·梅隆大學(xué)軟件工程學(xué)院的國際互聯(lián)網(wǎng)安全應(yīng)急響應(yīng)組織下屬研究機構(gòu)(CERT-CC)于6日發(fā)表一份報告稱，AMD的顯卡驅(qū)動會給應(yīng)用微軟EMET(增強緩解體驗工具包)來 保護軟件漏洞的計算機帶來安全隱
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系統(tǒng)級ADC芯片MSC1210介紹及應(yīng)用
摘要：介紹德州儀器公司最近出品的帶有高性能8051內(nèi)核的系統(tǒng)級ADC芯片——MSC1210。說明8051內(nèi)核單片機的特點、懷能以及片上Flash、24位高精度A/D轉(zhuǎn)換器的使用方法。利用MSC1210豐富的片上資源，可以很簡單
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采用多內(nèi)核無線虛擬系統(tǒng)原型的系統(tǒng)級調(diào)試
在內(nèi)核芯片制造前傳統(tǒng)的驗證與調(diào)試方法依賴于指令集仿真器(ISS)模型。不幸的是，ISS模型速度太慢，并且時序精度無法達到與系統(tǒng)硬件部分的RTL模型交互所需的要求。本文將提供一種采用虛擬系統(tǒng)原型實現(xiàn)系統(tǒng)級的多內(nèi)核系
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采用邊界掃描法測試系統(tǒng)級芯片互連的信號完整性
互連中的信號完整性損耗對于數(shù)千兆赫茲高度復(fù)雜的SoC來說是非常關(guān)鍵的問題，因此經(jīng)常在設(shè)計和測試中采用一些特殊的方法來解決這樣的問題。本文介紹如何利用片上機制拓展JTAG標準使其包含互連的信號完整性測試，從而利
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應(yīng)對百萬門級系統(tǒng)級芯片驗證挑戰(zhàn)的可擴展解決方案
功能驗證是電子設(shè)計人員目前面臨的主要挑戰(zhàn)，無論是設(shè)計團隊還是驗證團隊，都將超過50%的時間用在糾錯上，因此這一領(lǐng)域的技術(shù)進展將對縮短產(chǎn)品上市時間產(chǎn)生重大影響。本文探討基于斷言的技術(shù)和改進的糾錯方法，以及為
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采用多內(nèi)核無線虛擬系統(tǒng)原型的系統(tǒng)級調(diào)試
在內(nèi)核芯片制造前傳統(tǒng)的驗證與調(diào)試方法依賴于指令集仿真器(ISS)模型。不幸的是，ISS模型速度太慢，并且時序精度無法達到與系統(tǒng)硬件部分的RTL模型交互所需的要求。本文將提供一種采用虛擬系統(tǒng)原型實現(xiàn)系統(tǒng)級的多內(nèi)核系
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采用多內(nèi)核無線虛擬系統(tǒng)原型的系統(tǒng)級調(diào)試
采用多內(nèi)核無線虛擬系統(tǒng)原型的系統(tǒng)級調(diào)試
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應(yīng)對百萬門級系統(tǒng)級芯片驗證挑戰(zhàn)的可擴展解決方案
功能驗證是電子設(shè)計人員目前面臨的主要挑戰(zhàn)，無論是設(shè)計團隊還是驗證團隊，都將超過50%的時間用在糾錯上，因此這一領(lǐng)域的技術(shù)進展將對縮短產(chǎn)品上市時間產(chǎn)生重大影響。本文探討基于斷言的技術(shù)和改進的糾錯方法，以及為
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復(fù)雜系統(tǒng)級芯片的軟件/硬件協(xié)同驗證
本文針對復(fù)雜系統(tǒng)級芯片的軟件/硬件協(xié)同驗證環(huán)境的多種方法進行了分析和比較, 并就各種方法在藍牙系統(tǒng)級芯片設(shè)計中的應(yīng)用為例對其進行了詳細地闡述。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的飛速發(fā)展，單個硅片上的集成度越來越高，如何更快
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解決多總線系統(tǒng)級芯片測試問題的多域方法
多總線IC設(shè)計的迅速涌現(xiàn)將使測試過程更為復(fù)雜，對于基于多時鐘域和高速總線的復(fù)雜IC設(shè)計，傳統(tǒng)的ATE方法缺乏必要的多域支持和足夠的性能以確保快速的 測試開發(fā)和高效能。本文提出在測試復(fù)雜的多域IC過程中，可以使用
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復(fù)雜系統(tǒng)級芯片的軟件/硬件協(xié)同驗證
本文針對復(fù)雜系統(tǒng)級芯片的軟件/硬件協(xié)同驗證環(huán)境的多種方法進行了分析和比較, 并就各種方法在藍牙系統(tǒng)級芯片設(shè)計中的應(yīng)用為例對其進行了詳細地闡述。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的飛速發(fā)展，單個硅片上的集成度越來越高，如何更快
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SER的傾向和含意 系統(tǒng)級的含意和重要性
軟誤差率(SER)問題是于上個世紀70年代后期作為一項存儲器數(shù)據(jù)課題而受到人們的廣泛關(guān)注的，當時DRAM開始呈現(xiàn)出隨機故障的征兆。隨著工藝幾何尺寸的不斷縮小，引起失調(diào)所需的臨界電荷的減少速度要比存儲單元中的電荷聚
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系統(tǒng)級芯片SoC能否真正取代傳統(tǒng)CPU？
在經(jīng)歷了50多年的絕對統(tǒng)治之后，CPU終于迎來了新的挑戰(zhàn)，挑戰(zhàn)者正是SoC。在過去幾十年間，你可要隨便走進一家電腦店，根據(jù)CPU的性能來挑選一臺全新的電腦?，F(xiàn)在，你在四處瞅瞅，無算是智能手機還是平板電腦，設(shè)置筆記
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系統(tǒng)級芯片SoC真的可以取代傳統(tǒng)CPU？
在經(jīng)歷了50多年的絕對統(tǒng)治之后，CPU終于迎來了新的挑戰(zhàn)，挑戰(zhàn)者正是SoC。在過去幾十年間，你可要隨便走進一家電腦店，根據(jù)CPU的性能來挑選一臺全新的電腦?，F(xiàn)在，你在四處瞅瞅，無算是智能手機還是平板電腦，設(shè)置筆記
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系統(tǒng)級芯片SoC真的能取代傳統(tǒng)CPU？
在經(jīng)歷了50多年的絕對統(tǒng)治之后，CPU終于迎來了新的挑戰(zhàn)，挑戰(zhàn)者正是SoC。在過去幾十年間，你可要隨便走進一家電腦店，根據(jù)CPU的性能來挑選一臺全新的電腦?，F(xiàn)在，你在四處瞅瞅，無算是智能手機還是平板電腦，設(shè)置筆記
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CPU熱潮正衰退 SoC終將取代
在經(jīng)歷了50多年的絕對統(tǒng)治之后，CPU終于迎來了新的挑戰(zhàn)，挑戰(zhàn)者正是SoC。在過去幾十年間，你可要隨便走進一家電腦店，根據(jù)CPU的性能來挑選一臺全新的電腦。無論是智能手機還是平板電腦，設(shè)置筆記本電腦都開始使用SoC
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淺談芯片(IC)及系統(tǒng)級保護功能
對于設(shè)計師而言，在新產(chǎn)品發(fā)布到之前，預(yù)測其現(xiàn)場可靠性是非常困難的。但一旦發(fā)生未預(yù)期的嚴重現(xiàn)場故障，則說明設(shè)計師的設(shè)計是失敗的。然而，即使沒有發(fā)生任何現(xiàn)場故障，仍需要回答以下問題：設(shè)計師是否對產(chǎn)品進行了
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淺談芯片(IC)及系統(tǒng)級保護功能
對于設(shè)計師而言，在新產(chǎn)品發(fā)布到之前，預(yù)測其現(xiàn)場可靠性是非常困難的。但一旦發(fā)生未預(yù)期的嚴重現(xiàn)場故障，則說明設(shè)計師的設(shè)計是失敗的。然而，即使沒有發(fā)生任何現(xiàn)場故障，仍需要回答以下問題：設(shè)計師是否對產(chǎn)品進行了
