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利用基于PXI Express的NI FlexRIO模塊滿足自動(dòng)化測(cè)試需求
自從1997年基于FPGA的可重配置I/O（RIO）產(chǎn)品在NIWeek圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)會(huì)議上首次亮相以來，NI已發(fā)布了多種基于NI RIO技術(shù)的設(shè)備，包括NI R系列、CompactRIO以及PXI Express RIO 中頻收發(fā)器。RIO技術(shù)不僅用于控制應(yīng)用，
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利用基于PXI Express的NI FlexRIO模塊，滿足自動(dòng)化測(cè)試需求
自從1997年基于FPGA的可重配置I/O（RIO）產(chǎn)品在NIWeek圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)會(huì)議上首次亮相以來，NI已發(fā)布了多種基于NI RIO技術(shù)的設(shè)備，包括NI R系列、CompactRIO以及PXI Express RIO 中頻收發(fā)器。RIO技術(shù)不僅用于控制應(yīng)用，
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自動(dòng)化測(cè)試解決之道——構(gòu)建以軟件為核心的模塊化系統(tǒng)
如今，伴隨著測(cè)試需求的多樣化和復(fù)雜化，軟件定義的儀器系統(tǒng)已成為測(cè)試測(cè)量行業(yè)最重要的發(fā)展趨勢(shì)和主流技術(shù)。軟件定義的模塊化系統(tǒng)不僅可以幫助用戶在提高效率的同時(shí)降低測(cè)試成本，還能滿足未來不斷升級(jí)擴(kuò)展的需要。
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基于數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的自動(dòng)化測(cè)試的研究和實(shí)現(xiàn)
摘要：本文介紹了基于數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的自動(dòng)化測(cè)試以及其實(shí)現(xiàn)方法，包括軟件是否適合自動(dòng)化測(cè)試的可行性分析；開發(fā)測(cè)試前的需求分析；基于數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的測(cè)試框架的實(shí)現(xiàn)以及其維護(hù)和擴(kuò)充。 關(guān)鍵詞：自動(dòng)化測(cè)試；手工測(cè)試；數(shù)據(jù)
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PXI平臺(tái)將向五大方向演進(jìn)
經(jīng)過十余年的發(fā)展，基于PC技術(shù)的高吞吐量、高實(shí)時(shí)同步和高可靠性的自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)PXI正在越來越多的領(lǐng)域發(fā)揮作用，從汽車ECU標(biāo)定與測(cè)量、模擬視頻和3D數(shù)字視頻測(cè)試、電子制造生產(chǎn)線測(cè)試、電動(dòng)汽車的電池管理系統(tǒng)測(cè)試
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智能卡的自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)
引 言隨著智能卡在金融、電信、移動(dòng)通信、醫(yī)療保險(xiǎn)、付費(fèi)電視等領(lǐng)域應(yīng)用的迅速增長(zhǎng)，其可靠性要求越來越高，而針對(duì)智能卡模塊的測(cè)試已經(jīng)成為必不可少的質(zhì)量保證手段。自動(dòng)化測(cè)試不需要人工干預(yù)，能提高測(cè)試效率，受到
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惠瑞捷榮登VLSI Research自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備供貨商客戶滿意度榜首
全球首屈一指的半導(dǎo)體測(cè)試公司惠瑞捷(Verigy)日前宣布榮獲VLSI Research 2010年客戶滿意度調(diào)查的兩個(gè)獎(jiǎng)項(xiàng)，分別是「自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)供貨商第1名」，以及「全球10大最佳半導(dǎo)體制造設(shè)備大型供貨商」。VLSI Researc
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NI發(fā)布《2010自動(dòng)化測(cè)試前景報(bào)告》
美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments，簡(jiǎn)稱NI)于4月13日發(fā)布了《2010自動(dòng)化測(cè)試前景報(bào)告》，就創(chuàng)新技術(shù)對(duì)當(dāng)今測(cè)試測(cè)量應(yīng)用的影響發(fā)表了研究結(jié)果。報(bào)告涵蓋了通信、國(guó)防航空、半導(dǎo)體、汽車和消費(fèi)電子等眾多產(chǎn)業(yè)
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用于自動(dòng)化測(cè)試開發(fā)應(yīng)用的NI TestStand ATML工具包(NI)
2009年10月，NI近日推出NI TestStand ATML工具包，有效擴(kuò)展了測(cè)試系統(tǒng)部件的互通性，提升測(cè)試系統(tǒng)文件編制功能，幫助工程師們縮短了開發(fā)和維護(hù)的時(shí)間。自動(dòng)測(cè)試標(biāo)記語言（ATML）屬于IEEE標(biāo)準(zhǔn)，它包含了用以描述測(cè)試系
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面對(duì)"冷熱"試用期 職場(chǎng)新人巧選"過關(guān)秘籍"
進(jìn)入9月，各高校畢業(yè)生們還沒從找到工作的喜悅與慶幸中回過神來，忐忑不安的試用期就已經(jīng)開始了。他們能否渡過這個(gè)如履薄冰的磨難歷程，還要看他們的“真功夫”。如果修煉不到家即意味著將要被“ＰＫ出局”，而“修成
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面對(duì)"冷熱"試用期 職場(chǎng)新人巧選"過關(guān)秘籍"
面對(duì)"冷熱"試用期 職場(chǎng)新人巧選"過關(guān)秘籍"
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重型汽車發(fā)動(dòng)機(jī)自動(dòng)化測(cè)試臺(tái)的設(shè)計(jì)
文章介紹采用微計(jì)算機(jī)、CAN總線、溫度測(cè)控單片機(jī)系統(tǒng)、壓力測(cè)控單片機(jī)系統(tǒng)、轉(zhuǎn)速測(cè)控單片機(jī)系統(tǒng)、功耗測(cè)控單片機(jī)系統(tǒng)組成的重型汽車發(fā)動(dòng)機(jī)自動(dòng)化測(cè)試臺(tái)。該自動(dòng)化測(cè)試臺(tái)采用計(jì)算機(jī)仿真技術(shù)來修改PID參數(shù)，使測(cè)試系統(tǒng)達(dá)到最佳狀態(tài)，以滿足測(cè)試要求。
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NI發(fā)布“2009年自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域的發(fā)展趨勢(shì)”
30多年來，美國(guó)國(guó)家儀器（National Instruments）一直致力于為工程師和科學(xué)家們提供一個(gè)通用的軟硬件平臺(tái)，用于科技應(yīng)用和工程創(chuàng)新。伴隨著測(cè)試需求的多樣化和復(fù)雜化，這種以軟件為核心的測(cè)試策略正逐漸成為行業(yè)主流
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軟件自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)與工具
隨著軟硬件協(xié)同應(yīng)用復(fù)雜性日益增加，其中軟件必須通過全面的測(cè)試才可以保證質(zhì)量和可靠性。但由于研發(fā)時(shí)間的限制，軟件測(cè)試需要選擇合適的方法,同時(shí)選擇合適的測(cè)試工具,以便達(dá)到足夠的測(cè)試效率。在一個(gè)基于FPGA的軟硬
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軟件自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)與工具
軟件自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)與工具
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軟件自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)與工具
軟件自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)與工具
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擴(kuò)展移動(dòng)終端自動(dòng)化測(cè)試，BSQUARE并購TestQuest
BSQUARE公司日前宣布并購非上市公司 TestQuest 的全部資產(chǎn)。通過此次并購，BSQUARE不僅得以擴(kuò)展美國(guó)、中國(guó)、韓國(guó)、日本與歐洲的客戶范圍，還可接觸到多重嵌入式系統(tǒng)平臺(tái)裝置制造與應(yīng)用系統(tǒng)研發(fā)新用戶，如 Windows Mo
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