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Littelfuse最新款超小型7 mm磁簧開(kāi)關(guān)提供更高可靠性、更長(zhǎng)使用壽命
理想的穩(wěn)健位置傳感解決方案，適用于電器、自動(dòng)測(cè)試和安全應(yīng)用
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進(jìn)博新起點(diǎn)，自動(dòng)測(cè)試領(lǐng)域開(kāi)關(guān)專家Pickering持續(xù)深耕中國(guó)市場(chǎng)
北京2022年12月1日 /美通社/ -- 日前，第五屆中國(guó)國(guó)際進(jìn)口博覽會(huì)在上海圓滿落幕。作為初登進(jìn)博舞臺(tái)的新朋友，自動(dòng)測(cè)試領(lǐng)域開(kāi)關(guān)專家英國(guó)Pickering集團(tuán)在今年進(jìn)博會(huì)上首次以獨(dú)立展臺(tái)亮相。除帶來(lái)旗下多款開(kāi)關(guān)、虛擬傳感器、連接器、繼電器等領(lǐng)先產(chǎn)品外，P...
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MATLAB控制儀器自動(dòng)測(cè)試就是這么簡(jiǎn)單
非常難得因?yàn)橐咔殪o態(tài)管理，免費(fèi)獲得一天周五不需要上班的時(shí)間！高興??！前段時(shí)間翻到以前用MATLAB做的功放自動(dòng)測(cè)試程序，覺(jué)得以前的自己是真的很NB??！那今天就隨手?jǐn)]一篇。
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移動(dòng)測(cè)試基礎(chǔ)知識(shí)：手動(dòng)與自動(dòng)測(cè)試
在開(kāi)發(fā)了移動(dòng)應(yīng)用程序之后，我們不能確定該應(yīng)用程序?qū)⒃谒羞@些應(yīng)用程序上都能正常工作。那么，我們?nèi)绾未_保我們的移動(dòng)應(yīng)用程序在目標(biāo)設(shè)備上運(yùn)行呢？我們可以通過(guò)有效的測(cè)試來(lái)做到這一點(diǎn)
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意法半導(dǎo)體與愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試合作開(kāi)發(fā)先進(jìn)IC自動(dòng)測(cè)試單元系統(tǒng)
愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試有限公司與意法半導(dǎo)體宣布，雙方已合作開(kāi)發(fā)出一套先進(jìn)的全自動(dòng)化出廠測(cè)試單元系統(tǒng)。
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基于USB通信技術(shù)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
1 引言 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)ATS(AutomaTIc Test System)集成測(cè)試所需的全部激勵(lì)與測(cè)量設(shè)備，計(jì)算機(jī)高效完成各種模式的激勵(lì)及響應(yīng)信號(hào)的采集、存儲(chǔ)與分析，對(duì)被測(cè)單元進(jìn)
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穩(wěn)壓電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
穩(wěn)壓電源是現(xiàn)代電子系統(tǒng)的一個(gè)重要組成部分， 特別是雷達(dá)這樣的大規(guī)模的電子設(shè)備， 需要的穩(wěn)壓電源型號(hào)和數(shù)量更多。并且隨著技術(shù)的發(fā)展及雷達(dá)的更新?lián)Q代， 穩(wěn)壓電源的型號(hào)數(shù)
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模擬IC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的直流參數(shù)測(cè)試單元
集成電路（Integrated Circuit，IC）測(cè)試技術(shù)是集成電路產(chǎn)業(yè)中不可或缺的重要組成部分，而測(cè)試設(shè)備是IC測(cè)試技術(shù)的一種重要工具。模擬IC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一款針對(duì)模擬IC直流參
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如何優(yōu)化示波器性能？
本期和大家分享示波器使用的一則技巧——優(yōu)化示波器的性能，由力科技術(shù)專家萬(wàn)力勱提供。 以下一些技巧有助于提高示波器的運(yùn)行性能，特別是在儀器受計(jì)算機(jī)控制的自動(dòng)測(cè)試環(huán)境下。
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自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中的波形數(shù)字示波化器
數(shù)字電子示波器的電路構(gòu)成比模擬電子示波器簡(jiǎn)單，主要由模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)、波形存儲(chǔ)/處理器、數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器(DAC)和液晶(LCD)波形顯示四大部分。
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TD-LTE智能天線自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)解決方案
TM系列高性能射頻開(kāi)關(guān)矩陣和兩端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀實(shí)現(xiàn)TD-LTE9端口智能多頻天線S參數(shù)自動(dòng)測(cè)試，包括端口駐波、相鄰端口隔離度、校準(zhǔn)口到各天線單元端口的幅相一致性等指標(biāo)的測(cè)試。
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泰克為高達(dá)70 GHz的實(shí)時(shí)示波器提供100G電接口自動(dòng)測(cè)試解決方案
全新TekExpress應(yīng)用適用于33 GHz直到70 GHz的泰克高性能示波器，滿足了100G以太網(wǎng)(IEEE 802.3bj和IEEE 802.3bm附錄83)電接口驗(yàn)證和特性分析需求。支持的具體技術(shù)是100GBASE-CR4/KR4和CAUI4，這是100G以太網(wǎng)使用的主要電接口規(guī)范。憑借這些新增應(yīng)用，泰克現(xiàn)在提供了業(yè)內(nèi)最完整的一套IEEE 802.3bm和802.3bj解決方案，同時(shí)覆蓋了光接口(100GBASE-SR4)驗(yàn)證和電接口驗(yàn)證。
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短波接收機(jī)便攜式自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
針對(duì)在測(cè)試短波接收機(jī)的性能指標(biāo)時(shí)，需使用的測(cè)試儀器種類繁多、操作復(fù)雜等不足，開(kāi)發(fā)了一種便攜式自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)。介紹了在測(cè)試平臺(tái)中實(shí)現(xiàn)多種調(diào)制模式的射頻信號(hào)以及對(duì)音頻信號(hào)進(jìn)行采集分析的方法，測(cè)試結(jié)果對(duì)比使用綜測(cè)儀測(cè)試，誤差
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基于多MCU的自動(dòng)測(cè)試診斷系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
摘要：詳細(xì)介紹了基于多P89C668單片機(jī)的組合邏輯電路自動(dòng)測(cè)試診斷系統(tǒng)的設(shè)計(jì)，包括硬件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和軟件設(shè)計(jì)。該自動(dòng)測(cè)試診斷系統(tǒng)采用USB接口實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)與診斷平臺(tái)的通信，其移動(dòng)式結(jié)構(gòu)便于在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)試，且設(shè)備成本
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Android自動(dòng)測(cè)試之monkeyrunner工具
前言：最近開(kāi)始研究Android自動(dòng)化測(cè)試方法，對(duì)其中的一些工具、方法和框架做了一些簡(jiǎn)單的整理，其中包括 android測(cè)試框架、CTS、Monkey、Monkeyrunner、benchmark、其它t
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傳輸型CCD 相機(jī)成像分辨率自動(dòng)測(cè)試研究
對(duì)CCD相機(jī)成像分辨率自動(dòng)測(cè)試方法進(jìn)行了研究，測(cè)試方案中改進(jìn)設(shè)計(jì)了照相分辨率靶標(biāo)，開(kāi)展了數(shù)據(jù)分析處理，通過(guò)軟硬件結(jié)合實(shí)現(xiàn)了對(duì)CCD相機(jī)整機(jī)分辨率的自動(dòng)測(cè)試，結(jié)果數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)專業(yè)測(cè)試比對(duì)確認(rèn)有效。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，方法客觀、準(zhǔn)確，能夠避免以往人工測(cè)試分辨率帶來(lái)的主觀因素影響，具有很高的實(shí)用性。
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簡(jiǎn)易拉力機(jī)的維護(hù)與保養(yǎng)
拉力是一個(gè)物理概念。是指在彈性限度以內(nèi)，物體受外力的作用而產(chǎn)生的形變與所受的外力成正比。形變隨力作用的方向不同而異，使物體延伸的力稱“拉力”或“張力”。如果物體在受到阻力和拉力兩個(gè)力的情況下，如果物體
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機(jī)載計(jì)算機(jī)通用自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)
摘要 針對(duì)目前自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的通用性設(shè)計(jì)，提出了一種基于PXI總線的測(cè)試平臺(tái)。文中對(duì)PXI測(cè)試系統(tǒng)、接口適配器和開(kāi)關(guān)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行了說(shuō)明；介紹了測(cè)試軟件和故障診斷系統(tǒng)的設(shè)計(jì)；分析了該系統(tǒng)設(shè)計(jì)過(guò)程中面臨的通用性、故障診
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黑盒測(cè)試方法揭密
一、黑盒測(cè)試在快速應(yīng)用開(kāi)發(fā)(rad)環(huán)境中的重要作用軟件測(cè)試方法一般分為兩種：白盒測(cè)試與黑盒測(cè)試。其中，白盒測(cè)試又稱為結(jié)構(gòu)測(cè)試、邏輯驅(qū)動(dòng)測(cè)試或基于程序本身的測(cè)試，著重于程序的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及算法，通常不關(guān)心功能與
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完整黑盒測(cè)試的五個(gè)階段與操作步驟
一、黑盒測(cè)試在快速應(yīng)用開(kāi)發(fā)（rad）環(huán)境中的重要作用 軟件測(cè)試方法一般分為兩種：白盒測(cè)試與黑盒測(cè)試。其中，白盒測(cè)試又稱為結(jié)構(gòu)測(cè)試、邏輯驅(qū)動(dòng)測(cè)試或基于程序本身的測(cè)試，著重于程序的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及算法，通常不關(guān)心
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