NI趨勢(shì)展望報(bào)告2019來(lái)了,多次提到的OTA測(cè)試技術(shù)是什么?
NI美國(guó)國(guó)家儀器公司最近隆重發(fā)布了其《NI趨勢(shì)展望報(bào)告2019》,作為21ic的小編,有幸獲邀參加了此次發(fā)布會(huì)并認(rèn)證傾聽(tīng)了NI對(duì)此報(bào)告的解讀。
這并不是NI第一次發(fā)布這種技術(shù)趨勢(shì)報(bào)告,多年來(lái),NI一直堅(jiān)持在年底發(fā)布未來(lái)一年的技術(shù)趨勢(shì)展望報(bào)告,作為一家并不算太大的公司,NI這一做法讓人敬佩。
新報(bào)告中探討了日新月異的技術(shù)發(fā)展所面臨的關(guān)鍵工程趨勢(shì)和挑戰(zhàn),包括物聯(lián)網(wǎng)(IoT)、從原型驗(yàn)證到商業(yè)化部署的5G技術(shù)推進(jìn)以及大眾自動(dòng)駕駛等領(lǐng)域。
關(guān)于報(bào)告的詳細(xì)內(nèi)容,可以在NI官網(wǎng)或者www.dunminwenhua.com上找到。小編今天只想就其中一個(gè)非常熱門(mén)的技術(shù)展開(kāi)介紹,這就是OTA(over the air)測(cè)試技術(shù)。
在報(bào)告中,提到5G時(shí)代所面臨的新的無(wú)線測(cè)試挑戰(zhàn)時(shí),NI大中華區(qū)市場(chǎng)經(jīng)理劉旭陽(yáng)認(rèn)為,為驗(yàn)證5G技術(shù)的性能,當(dāng)前所采用的線纜直連的方法測(cè)試5G組件已經(jīng)不能滿足需求,而需要使用OTA測(cè)試技術(shù)。
那么,什么是OTA測(cè)試呢?
OTA測(cè)試是與RF傳導(dǎo)測(cè)試相對(duì)應(yīng)的,RF傳導(dǎo)測(cè)試,是通過(guò)射頻線將DUT(被測(cè)件)直連到測(cè)試儀表的連接方式實(shí)現(xiàn),而OTA測(cè)試,是通過(guò)“over the air”方式實(shí)現(xiàn)與測(cè)試儀表連接,除了需要測(cè)試儀表,還需要有OTA chamber,以及實(shí)現(xiàn)控制DUT和測(cè)試儀表的OTA系統(tǒng)軟件。
OTA 測(cè)試會(huì)模擬產(chǎn)品的無(wú)線信號(hào)在空氣中的傳輸場(chǎng)景,而此種測(cè)試方式,可將產(chǎn)品內(nèi)部輻射干擾、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、天線的因素、射頻芯片收發(fā)算法、甚至人體影響等因素考慮進(jìn)去,是一種在自由空間驗(yàn)證無(wú)線產(chǎn)品空口性能的綜合性測(cè)試方法,非常接近產(chǎn)品實(shí)際使用場(chǎng)景。
其實(shí),在無(wú)線通信領(lǐng)域,OTA并不是一個(gè)新技術(shù),在目前的手機(jī)測(cè)試中,已經(jīng)開(kāi)始使用OTA測(cè)試技術(shù)了,那為什么5G時(shí)代會(huì)更需要OTA測(cè)試技術(shù)呢?
首先,5G時(shí)代,天線陣列被封裝在了芯片內(nèi)部,無(wú)法通過(guò)導(dǎo)線連接測(cè)試儀器進(jìn)行測(cè)試,OTA測(cè)試技術(shù)就成了唯一的一個(gè)選擇了。其次,OTA測(cè)試提供了一種將天線陣列作為一個(gè)系統(tǒng)而不是一組獨(dú)立元件進(jìn)行整體測(cè)試的可能性,有望提高測(cè)試效率,降低測(cè)試成本。所以,使用OTA測(cè)試來(lái)解決5G時(shí)代所面臨的測(cè)試挑戰(zhàn),已經(jīng)稱為了行業(yè)的一種共識(shí)。