在這篇文章中，小編將對光纖光譜儀的相關(guān)內(nèi)容和情況加以介紹以幫助大家增進(jìn)對光纖光譜儀的了解程度，和小編一起來閱讀以下內(nèi)容吧。

一、光纖光譜儀結(jié)構(gòu)組成

光纖光譜儀包括以下幾個主要部分：

1.入射狹縫：將入射的光學(xué)信號構(gòu)建成一個明確的物像;

2.準(zhǔn)直部分：使光學(xué)信號的光線平行。該準(zhǔn)直器可以為透鏡、反射鏡、或色散元件的部分功能，如在凹面光柵光譜儀中的凹面光柵的部分功能;

3.色散部分：通常采用光柵，將平行光在空間上進(jìn)行色散;

4.聚焦部分：收集色散的光學(xué)信號，使得大部分入射狹縫的單色影像聚焦于焦平面;

5.陣列檢測器：放置于焦平面，從而檢測大部分單色影像的光強度。該檢測器可以是CCD陣列或其它的光檢測陣列。

二、光纖光譜儀特點

(1)光纖光譜儀是光纖技術(shù)的引入，使待測物脫離了樣品池的限制，采樣方式變得更為靈活，利用光纖探頭把遠(yuǎn)離光譜儀器的樣品光譜源引到光譜儀器，以適應(yīng)被測樣品的復(fù)雜形狀和位置。由光纖引入光信號還可使儀器內(nèi)部與外界環(huán)境隔絕，可增強對惡劣環(huán)境(潮濕氣候、強電場干擾、腐蝕性氣體)的抵抗能力，保證了光譜儀的長期可靠運行，延長使用壽命。

(2)光纖光譜儀以電荷耦合器件(CCD)陣列作為檢測器，對光譜的掃描不必移動光柵，可進(jìn)行瞬態(tài)采集，響應(yīng)速度極快(測量時間為13～15ms)，并通過計算機實時輸出。

(3)光纖光譜儀采用全息光柵作為分光器件，雜散光低，提高了測量精度。

(4)光纖光譜儀應(yīng)用計算機技術(shù)，極大地提高了光譜儀的智能化處理能力。

三、光纖光譜儀的使用

光纖光譜儀是光學(xué)儀器的主要構(gòu)成部分。由于其檢測精度高、速度快等優(yōu)點，已成為光譜測量學(xué)中使用的重要測量儀器被廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)、生物、化學(xué)、地質(zhì)、食品安全、色度計算、環(huán)境檢測、醫(yī)藥衛(wèi)生、LED檢測、半導(dǎo)體工業(yè)、石油化工等領(lǐng)域。

操作步驟如下：

1、開光譜儀電源

2、開計算機電源

3、在文件管理器中用鼠標(biāo)指按UVWinl ab圖標(biāo)，此時出現(xiàn)UVWinL ab的應(yīng)用窗口，儀器已準(zhǔn)備好，可選用適當(dāng)方法進(jìn)行分析操作。

使用方法：

1、掃描(SCAN)，用以進(jìn)行光譜掃描。

2、時間驅(qū)動(TIMEDRIVER)，用以觀察一定時間內(nèi)某種特定波長處縱坐標(biāo)值的變化。

3、波長編程(WP)用以在多個波長下測定樣品在一定時間內(nèi)的縱坐標(biāo)值變化，并可以計算這些縱坐標(biāo)值的差或比值。

4、濃度(CONC)用以建立標(biāo)準(zhǔn)曲線并測定濃度。

5、進(jìn)入所需方法，在方法窗口中選擇所需方法的文件名。

注意事項：

1、測試時應(yīng)佩戴相應(yīng)護(hù)目鏡，防止激光對眼睛造成傷害。

2、測試時應(yīng)在暗室中，避免外來光源對測試造成誤差。

3、測試時應(yīng)只讓少量激光射入光纖，避免大量激光射入損傷測試元件。

四、光纖光譜儀的用途

光纖光譜儀以其檢測精度高、速度快等優(yōu)點，已成為光譜測量學(xué)中使用的重要測量儀器，被廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)、生物、化學(xué)、地質(zhì)、食品安全、色度計算、環(huán)境檢測、醫(yī)藥衛(wèi)生、LED檢測、半導(dǎo)體工業(yè)、石油化工等領(lǐng)域。

光纖光譜儀應(yīng)用的詳細(xì)介紹：

1、發(fā)射光譜測量

發(fā)射光譜測量可以用不同的實驗布局和波長范圍來實現(xiàn)，還要用到余弦校正器或積分球。發(fā)射光譜測量可以在紫外/可見和可見/近紅外波長范圍內(nèi)測量。

對于發(fā)射光譜的絕對測量，光譜儀可以配置成波長范圍從200-400nm或350-1100nm，或組合起來實現(xiàn)紫外/可見200-1100nm，并可以在美國海洋光學(xué)公司的定標(biāo)實驗室里進(jìn)行輻射定標(biāo)。定標(biāo)后的實驗布局不能改變，如光纖和勻光器都不能更改。

2、LED測量

最簡單而且迅速地測量LED的整個光通量的方法就是使用一個積分球，并把它連接到一個美國海洋光學(xué)公司的光譜儀上。該系統(tǒng)可以用鹵素?zé)暨M(jìn)行定標(biāo)(LS-1-CAL-INT)，然后用廣州標(biāo)旗軟件從測量到的光譜分布計算出相關(guān)參數(shù)，并實現(xiàn)輻射量的絕對測量。所測光源的光譜發(fā)光強度還可以用μW/cm2/nm來計算、顯示并存儲。另外的窗口還可以顯示大約10個參數(shù)：輻射量μW/cm2， μJ/cm2， μW或μJ;光通量lux或lumen，色軸X， Y， Z， x， y， z， u， v和色溫。

3、薄膜厚度測量

光學(xué)的膜厚測量系統(tǒng)基于白光干涉測量原理，可以測量的膜層厚度10nm-50μm，分辨率為1nm。薄膜測量在半導(dǎo)體晶片生長過程中經(jīng)常被用到，因為等離子體刻蝕和淀積過程需要監(jiān)控;其它應(yīng)用如在金屬和玻璃材料基底上鍍透明光學(xué)膜層也需要測量膜層厚度。

以上所有內(nèi)容便是小編此次為大家?guī)淼挠嘘P(guān)測試測量儀器光纖光譜儀的所有介紹，如果你想了解更多有關(guān)它的內(nèi)容，不妨在我們網(wǎng)站或者百度、google進(jìn)行探索哦。