今天，小編將在這篇文章中為大家?guī)砹泓c電壓檢測的有關(guān)報道，通過閱讀這篇文章，大家可以對它具備清晰的認識，主要內(nèi)容如下。

一、零點電壓產(chǎn)生的原因

零點殘余電壓產(chǎn)生原因:

①基波分量。由于差動變壓器兩個次級繞組不可能完全一致，因此它的等效電路參數(shù)(互感M、自感L及損耗電阻 R)不可能相同，從而使兩個次級繞組的感應電勢數(shù)值不等。又因初級線圈中銅損電阻及導磁材料的鐵損和材質(zhì)的不均勻，線圈匝間電容的存在等因素，使激勵電流與所產(chǎn)生的磁通相位不同。

②高次諧波。高次諧波分量主要由導磁材料磁化曲線的非線性引起。由于磁滯損耗和鐵磁飽和的影響，使得激勵電流與磁通波形不一致產(chǎn)生了非正弦(主要是三次諧波)磁通，從而在次級繞組感應出非正弦電勢。另外，激勵電流波形失真，因其內(nèi)含高次諧波分量，這樣也將導致零點殘余電壓中有高次諧波成分。

二、如何用電路實現(xiàn)檢測過零點電壓

1、基本原理圖：

在本設(shè)計中，可以為電機調(diào)速作為依據(jù)，在電控中主要為強電通訊作為時間參考。

2、工作原理

上述強電過零檢測電路，提供+5V電源。該電路可以實現(xiàn)對AC強電進行過零點的檢測。由于L和N_IN為AC 220V的正選波，大部分電壓加在功率電阻R29上后，小部分電壓加在雙向光耦I(lǐng)C8上。正選波為正向時，光耦A為正極;反向時,光耦K為正極。光耦的正向?qū)〞r，光耦發(fā)送一個零點電壓，完成每次的過零采樣，控制芯片通過對ZeroInt信號的采集即可基本判斷出AC過零點。若L和N_IN采樣電壓頻率為F，則經(jīng)光耦處理后ZeroInt的電壓頻率為2F。L或N_IN、光耦輸入及ZeroInt點的電壓波形如下圖：

3、各個元器件的選擇和作用：

功率電阻R29，對AC交流輸入起限流作用，選用15K/2W;

濾波電容C26，選用插件或者貼片，容值選用223（C26-1為備用元件，做調(diào)試用）；

雙向光耦I(lǐng)C8，選用TLP620；

分流電阻R31，可以選用貼片封裝或者插件封裝，阻值4.7K；

限流電阻R32, 可以選用貼片封裝或者插件封裝，阻值1K。

4、該電路的優(yōu)缺點：

（1）優(yōu)勢：

采用強電過零，可在沒有線性變壓器情況下使用；

使用元件數(shù)量少，占用PCB板面積小。

（2）劣勢：

要使用一個功率電阻和一個雙向光耦，成本高，在有線性變壓器的電控不提倡使用；

過零檢測出來為三角波形，不利于軟件使用（但有將近20ms的時間及足夠的電壓反映），

5、小結(jié)：

本電路經(jīng)過實際驗證，效果良好。但也有不足之處，僅供參考。

以上就是小編這次想要和大家分享的有關(guān)零點電壓檢測的內(nèi)容，希望大家對本次分享的內(nèi)容已經(jīng)具有一定的了解。如果您想要看不同類別的文章，可以在網(wǎng)頁頂部選擇相應的頻道哦。