LabVIEW中測(cè)試測(cè)量數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)(1)
掃描二維碼
隨時(shí)隨地手機(jī)看文章
掃描二維碼
隨時(shí)隨地手機(jī)看文章
根據(jù)行業(yè)動(dòng)態(tài)推測(cè),新一代PCIe規(guī)范-PCIe Gen6將在2025年下半年開(kāi)始加速落地。值此技術(shù)迭代的關(guān)鍵時(shí)期,泰克(Tektronix)和安立(Anritsu)在2025年8月26日于蘇州舉辦的PCIe技術(shù)發(fā)展大會(huì)上...
關(guān)鍵字: 測(cè)試測(cè)量為保障測(cè)試安全,在對(duì)直流電源進(jìn)行串聯(lián)運(yùn)行時(shí),必須使用串聯(lián)連接盒(SCB)。憑借25μs的過(guò)壓檢測(cè)響應(yīng)時(shí)間,該裝置能有效防止串聯(lián)設(shè)備超過(guò)額定絕緣電壓,保障系統(tǒng)安全運(yùn)行。
關(guān)鍵字: 測(cè)試測(cè)量本文介紹了Force-I QSCV技術(shù),解釋了如何在Clarius軟件中使用這些測(cè)試,將該技術(shù)與其他方法進(jìn)行了比較,驗(yàn)證了Force-I QSCV在測(cè)量速度、穩(wěn)定性、精度及設(shè)備需求方面的顯著優(yōu)勢(shì)。
關(guān)鍵字: 測(cè)試測(cè)量本文通過(guò)引入脈沖應(yīng)力與電荷泵技術(shù),解決了傳統(tǒng)直流方法在先進(jìn)CMOS及高K材料可靠性評(píng)估中的三大盲區(qū):動(dòng)態(tài)恢復(fù)效應(yīng)、頻率相關(guān)壽命、界面陷阱實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。
關(guān)鍵字: 測(cè)試測(cè)量本文將探討多域信號(hào)分析的原理、優(yōu)勢(shì)及其在嵌入式RF測(cè)試中的實(shí)際應(yīng)用,并為希望優(yōu)化測(cè)試流程的工程師與開(kāi)發(fā)人員提供實(shí)踐洞察。
關(guān)鍵字: 射頻 嵌入式 測(cè)試測(cè)量在人工智能的發(fā)展歷程中,我們往往認(rèn)為更多的訓(xùn)練、更復(fù)雜的數(shù)據(jù)能讓 AI 變得更加智能。然而,近期一些研究卻揭示了令人意外的現(xiàn)象:對(duì)小型 AI 語(yǔ)言模型進(jìn)行數(shù)學(xué)訓(xùn)練時(shí),過(guò)度訓(xùn)練可能會(huì)導(dǎo)致其表現(xiàn)急劇下降,甚至出現(xiàn) “變笨”...
關(guān)鍵字: 人工智能 數(shù)據(jù) 模型隨著電動(dòng)汽車(chē)(EV)行業(yè)邁向800V高壓時(shí)代,如何高效、安全地實(shí)現(xiàn)更高電壓輸出成為技術(shù)焦點(diǎn)。全球領(lǐng)先的測(cè)試測(cè)量解決方案提供商——泰克旗下EA Elektro-Automatik品牌直流可編程電源的串聯(lián)連接技術(shù)為800V高...
關(guān)鍵字: 測(cè)試測(cè)量 汽車(chē)電子