IPC APEX印度研討會聚焦電子制造業(yè)的設(shè)計、組裝和工藝挑戰(zhàn)
IPC—國際電子工業(yè)聯(lián)接協(xié)會®宣布IPC APEX印度將舉行一天半的綜合性研討會,旨在幫助工程師解決電子制造業(yè)內(nèi)迫切關(guān)注的問題。專業(yè)發(fā)展研討會將于2013年8月26(星期一)至8月29日(星期四)在印度班加羅爾NIMHANS會展中心舉行,全部由知識淵博的知名講師主講。
8月26日(星期一)的三個講座,為工藝和設(shè)計工程師們提供行業(yè)頂尖專家的深刻見解。屆時,IPC名人堂成員——Ray Prasad咨詢集團的Ray Prasad將發(fā)表的演講《無鉛領(lǐng)域SMT的4P:原則(Principles)、實踐(Practices)、前景(Promises) 和問題(Problems)》。Americom Seminars公司的Robert Hanson將探討EMI/EMC的關(guān)鍵問題,指導(dǎo)如何設(shè)計和建立一個兼容系統(tǒng)。最后一個講座《PCB設(shè)計中信號和電源完整性挑戰(zhàn)》,由ASM Technologies班加羅爾公司的Narasimha S. L. Murthy講授。
Prasad和Hanson還將在8月27日(星期二)下午繼續(xù)講授兩個講座,分別為《底部端子元件(BTCs)的設(shè)計和組裝工藝挑戰(zhàn):錫鉛和無鉛領(lǐng)域的QFN、DFN和 MLF》以及《通孔及其對高速數(shù)字信號的影響》。
8月28日(星期三)將有多個專題講座,歷時一天的講座《失效分析以提高可靠性》,由美國馬里蘭大學(xué)CALCE測試服務(wù)和失效分析研究中心的Bhanu Sood主講。此外,另有四個半天的研討會。Prasad將在上午討論《球柵陣列:原則和實踐》,Hanson將介紹《接地入門知識:模擬和數(shù)字平面》。下午,Prasad將探討《無鉛產(chǎn)品的產(chǎn)量故障》,Hanson將聚焦《差分信號 — 信號質(zhì)量和路線優(yōu)化的權(quán)衡》。
8月29日(星期四)是活動的最后一天,上午的三個講座分別是,《無鉛領(lǐng)域的可制造性設(shè)計(DfM)》,演講者為Prasad;《DDR 3/4 和 PCle 3/4總線的接口設(shè)計》,演講者為Hanson;《偽造部件識別和消減的最新工具和技術(shù)》,演講者為Sood。