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[導(dǎo)讀]很多系統(tǒng)應(yīng)用都必須在較窄的限幅內(nèi)調(diào)整開關(guān)電源(SMPS)輸出電壓,以便移除電源路徑上的誤差和壓降、驗(yàn)證系統(tǒng)限幅的運(yùn)作,或者實(shí)現(xiàn)微處理器的簡單動態(tài)電壓控制。此外,系統(tǒng)設(shè)

很多系統(tǒng)應(yīng)用都必須在較窄的限幅內(nèi)調(diào)整開關(guān)電源(SMPS)輸出電壓,以便移除電源路徑上的誤差和壓降、驗(yàn)證系統(tǒng)限幅的運(yùn)作,或者實(shí)現(xiàn)微處理器的簡單動態(tài)電壓控制。此外,系統(tǒng)設(shè)計人員可能需要調(diào)整電源電壓,從而優(yōu)化它們的電平,或者通過強(qiáng)制產(chǎn)生非正常電平來測試系統(tǒng)在極端條件下的性能。該功能通常在在線測試(ICT)期間執(zhí)行,以滿足制造商想要保證產(chǎn)品在標(biāo)稱電源的±10%范圍內(nèi)正常工作的期望。這種輸出電壓的變化步驟稱為裕量,即有意識地在預(yù)期范圍內(nèi)改變電源電壓。其他輸出變化應(yīng)用,比如微處理器的動態(tài)電壓控制,必須能即時改變電壓,即在低功耗模式下降低電壓而在高性能模式下增加電壓。

 

 

圖1.開關(guān)電源電壓控制環(huán)路的反饋網(wǎng)絡(luò)采用兩個電阻

將典型開關(guān)電源輸出電壓(圖1)與內(nèi)部基準(zhǔn)電壓進(jìn)行比較,可看到差別集中在脈寬調(diào)制器(PWM)。PWM將斜坡與放大器輸出進(jìn)行比較,生成PWM信號來控制開關(guān),從而向負(fù)載供電。

 

 

圖2.使用數(shù)字電位計調(diào)整DC-DC轉(zhuǎn)換器輸出電壓,組成可變反饋電阻

控制誤差放大器引腳電壓,便可調(diào)整輸出電壓。這可以通過使用DAC,或者使用數(shù)字電位計,以外部方式實(shí)現(xiàn),如圖2所示。某些電壓調(diào)節(jié)器允許使用串行接口(比如PMBus、I2C或SPI)在內(nèi)部控制反饋電壓。表1比較了三種方法的調(diào)整能力和功耗。

 

 

數(shù)字電位計(或稱digiPOT)工作方式與傳統(tǒng)電位計相似,但用電子開關(guān)和數(shù)字信號代替機(jī)械游標(biāo)進(jìn)行操作,如圖3所示。digiPOT將一串小數(shù)值電阻與位于每兩個電阻交叉點(diǎn)上的電子開關(guān)串聯(lián)。digiPOT分辨率與電阻網(wǎng)絡(luò)中的位控制節(jié)點(diǎn)量有關(guān)??刂乒?jié)點(diǎn)的數(shù)量越高,分辨率越高。

 

 

圖3.顯示電子開關(guān)的64位數(shù)字電位計。同一時間只能閉合一個電子開關(guān),該開關(guān)決定電阻比。

某些數(shù)字電位計采用非易失性存儲器,因此可在測試期間編程輸出電源。相比其他兩種方式,這項(xiàng)易于使用的特性具有極大的優(yōu)勢。

線性化傳遞函數(shù)

反饋電阻R1和R2的比值決定了開關(guān)電源輸出電壓。

 

 

其中:

VFB =內(nèi)部基準(zhǔn)電壓

VOUT =輸出電壓

R1 =連接輸出的反饋電阻

R2 =接地反饋電阻

以數(shù)字電位計代替R1和R2時,需考慮一些問題。數(shù)字電位計內(nèi)部有兩個電阻串(RAW和RWB),如圖4所示。

 

 

圖4.數(shù)字電位計電阻命名法

兩串電阻互補(bǔ)。

 

 

其中:

RAB =端到端電阻或標(biāo)稱值

以RAW和RWB代替R1和R2可實(shí)現(xiàn)對數(shù)傳遞函數(shù)。數(shù)字碼和輸出電壓之間的非線性關(guān)系降低了低端分辨率。圖5顯示了這個取自數(shù)字電位計的對數(shù)傳遞函數(shù)。

 

 

圖5.以數(shù)字電位計代替反饋電阻后得到的對數(shù)傳遞函數(shù)

 

 

圖6.在可變電阻模式下使用數(shù)字電位計

有多種方法可以克服此分辨率問題。比較常用的方法是在可變電阻模式下使用數(shù)字電位計(如圖6所示);或者將電阻與電位計串聯(lián)(如圖7所示)。

 

 

圖7.在電位計模式下線性化

最小化誤差

由于電阻公差,將數(shù)字電位計與外部電阻一同使用可能導(dǎo)致失配問題。精密器件可能具有1%的電阻公差,但大部分?jǐn)?shù)字電位計只能達(dá)到20%的電阻公差。

這種情況下,可通過串并聯(lián)電阻組合減少失配(如圖8和圖9所示);其缺點(diǎn)是動態(tài)范圍也會縮小。

 

 

圖8.可變電阻和串聯(lián)電阻[!--empirenews.page--]

 

 

圖9.電位計模式

在可變電阻模式下,串聯(lián)電阻必須足夠高,才能忽略數(shù)字電位計的公差,即R2≥10×RAB.在電位計模式下,并聯(lián)電阻必須足夠小,即R3≤RAB/10.

使用串并聯(lián)組合對電位計進(jìn)行線性化可能十分復(fù)雜,如圖10中的等效電路所示。

 

 

圖10.最終Y-Δ變換

其中:

 

 

反饋輸入引腳通常具有較高的阻抗,因此R6的影響可以忽略。

開關(guān)調(diào)節(jié)器工作在較高頻率下(通常高于1 MHz),因而允許使用小數(shù)值外部元件。在最差情況下,它必須為動態(tài)負(fù)載供電,因此反饋電阻網(wǎng)絡(luò)必須提供足夠的帶寬,才能精確跟蹤輸出電壓。由于存在寄生內(nèi)部開關(guān)電容,數(shù)字電位計可用作低通濾波器,如圖11所示。如果反饋網(wǎng)絡(luò)無法提供足夠的帶寬,則輸出電壓可能振蕩。

 

 

圖11.如果反饋電阻網(wǎng)絡(luò)無法提供足夠的帶寬來精確跟蹤輸出電壓,則雜散電容導(dǎo)致的寄生效應(yīng)可能帶來麻煩。

克服這一限制的一種簡單方法,是將一個電容并聯(lián)放置在輸出與反饋網(wǎng)絡(luò)之間(如圖12所示),以便降低高頻阻抗,并最大程度地縮短振蕩時間。

 

 

圖12.并聯(lián)電容降低高頻阻抗,最大程度地減少振蕩

更簡單的解決方案

ADI公司的AD5141 digiPOT克服了其他數(shù)字電位計的某些問題。 它提供:

● 非易失性256位調(diào)整

● 10 kΩ和100 kΩ電阻選項(xiàng)

● 8%最大電阻公差

● ±6 mA游標(biāo)電流

● 35 ppm/°C溫度系數(shù)

● 3 MHz帶寬

● < 75 μS啟動時間

● 線性增益設(shè)置模式

● 單電源及雙電源供電

● 1.8 V至5.5 V獨(dú)立邏輯電源

● -40°C至+125°C工作溫度

● 3 mm × 3 mm LFCSP封裝

● 4 kV ESD保護(hù)

 

 

圖13. AD5141功能框圖

AD5141(圖13)可作為真可變電阻使用,用于處理端電壓范圍為VSS < VTERM < VDD的模擬信號。電阻游標(biāo)位置取決于RDAC寄存器內(nèi)容。RDAC寄存器用作暫存寄存器,允許無限制地更改電阻設(shè)置。輔助寄存器(輸入寄存器)可用于預(yù)載入RDAC寄存器數(shù)據(jù)。

低電阻公差和低標(biāo)稱溫度系數(shù)簡化了開環(huán)應(yīng)用和需要公差匹配的應(yīng)用。

AD5141的主要優(yōu)勢是采用了最新的專利功能,稱為“線性增益設(shè)置模式”。該模式允許對數(shù)字電位計端子RAW和RWB兩串電阻之間的電阻值獨(dú)立編程,使得:

 

 

采用這種模式,則無需通過外部電阻實(shí)現(xiàn)線性開關(guān)電源電壓調(diào)整;另外,電阻公差也可以忽略了,同時傳遞函數(shù)總誤差僅與內(nèi)部電阻串失配有關(guān),而后者通常不足1%,并具有低溫漂特性。

每一個電阻串都有一個對應(yīng)的EEPROM位置,因此上電時可載入每一個電阻串的獨(dú)立值。此外,器件還為快速反饋環(huán)路提供了高達(dá)3 MHz的帶寬。

寬帶寬和低總諧波失真(THD)確保對于交流信號具有最佳性能,適合濾波器設(shè)計。在電阻陣列末端的游標(biāo)電阻低至40 Ω,允許進(jìn)行引腳到引腳連接。

游標(biāo)電阻值可通過一個SPI/I2C兼容數(shù)字接口設(shè)置,也可利用該接口回讀游標(biāo)寄存器和EEPROM內(nèi)容。

可利用I2C或SPI接口(使用DIS引腳便可通過硬件來加以選擇)設(shè)置任意位,實(shí)現(xiàn)針對RDAC寄存器的編程。找到所需的游標(biāo)位置后,可以將該值存儲在EEPROM存儲器中。 以后上電時游標(biāo)位置始終會恢復(fù)到該位置。存儲EEPROM數(shù)據(jù)大約需要18 ms;在這段時間內(nèi),器件會鎖定并不會應(yīng)答任何新命令,因而可防止出現(xiàn)任何更改。快速啟動時間(<75 μS)保證了完成電源序列后可快速刷新寄存器。

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