在電子電路設(shè)計(jì)與實(shí)踐中,穩(wěn)壓芯片是維持穩(wěn)定輸出電壓的關(guān)鍵組件。然而,當(dāng)我們將兩個(gè)輸出電壓不同的穩(wěn)壓芯片的輸出腳連接在一起時(shí),會引發(fā)一系列復(fù)雜的物理現(xiàn)象和潛在風(fēng)險(xiǎn)。這一操作不僅違反了常規(guī)的電路設(shè)計(jì)原則,還可能對電路系統(tǒng)造成不可逆的損害。接下來,我們將從電路原理、實(shí)際影響等多個(gè)角度深入探討這一問題。
在開關(guān)電源設(shè)計(jì)中,地彈噪聲(Ground Bounce)引發(fā)的邏輯誤觸發(fā)、信號完整性劣化及電磁輻射問題已成為制約系統(tǒng)可靠性的核心瓶頸。某DC-DC轉(zhuǎn)換器在12V轉(zhuǎn)3.3V電路中,因布局不合理導(dǎo)致1%產(chǎn)品無法啟動,經(jīng)分析發(fā)現(xiàn)地彈噪聲使COMP引腳電壓跌破-0.5V閾值,觸發(fā)芯片保護(hù)模式。本文提出基于分割地層與磁珠選型的量化評估準(zhǔn)則,結(jié)合物理公式與仿真驗(yàn)證,實(shí)現(xiàn)地彈噪聲抑制30dB以上的效果。
電力電子效率?是指電力電子設(shè)備在轉(zhuǎn)換電能過程中的效率,通常定義為輸出功率與輸入功率的比值。
航空航天領(lǐng)域?qū)﹄娮釉O(shè)備的可靠性要求極高,尤其是在復(fù)雜的太空環(huán)境中,PCB(印制電路板)面臨著輻射、極端溫度、濕度等多種惡劣因素的挑戰(zhàn)。輻射是其中最為關(guān)鍵的影響因素之一,它可能導(dǎo)致PCB上的電子元件性能下降甚至失效,嚴(yán)重影響航天器的正常運(yùn)行??馆椪赵O(shè)計(jì)成為航空航天PCB設(shè)計(jì)的核心任務(wù),其中三防漆選型與單粒子效應(yīng)防護(hù)布局是兩個(gè)至關(guān)重要的方面。
隨著電子設(shè)備向小型化、輕量化和高性能化方向發(fā)展,對印制電路板(PCB)的集成度和性能要求日益提高。超薄芯板(芯板厚度≤50μm)因其能夠顯著減小PCB的厚度、提高布線密度和信號傳輸速度,成為高端電子產(chǎn)品的關(guān)鍵材料。然而,超薄芯板的量產(chǎn)工藝面臨諸多挑戰(zhàn),其中機(jī)械鉆孔微孔偏斜控制和無膠填孔技術(shù)是亟待解決的關(guān)鍵問題。
系統(tǒng)級芯片(System on Chip,簡稱SoC),也稱片上系統(tǒng),意指它是一個(gè)產(chǎn)品,是一個(gè)有專用目標(biāo)的集成電路,其中包含完整系統(tǒng)并有嵌入軟件的全部內(nèi)容。
新能源技術(shù)在快速發(fā)展,而電池作為能量存儲和轉(zhuǎn)換的關(guān)鍵組件,在電動汽車(EV)、移動設(shè)備、儲能系統(tǒng)等多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。
量子計(jì)算作為未來計(jì)算技術(shù)的關(guān)鍵發(fā)展方向,具有巨大的潛力。超導(dǎo)量子芯片是量子計(jì)算的核心硬件之一,而量子計(jì)算控制板則是實(shí)現(xiàn)超導(dǎo)量子芯片精準(zhǔn)操控的關(guān)鍵。在超低溫環(huán)境下,超導(dǎo)芯片與控制板之間的互連面臨著低溫變形和微波串?dāng)_兩大挑戰(zhàn)。低溫變形可能導(dǎo)致互連結(jié)構(gòu)的物理特性發(fā)生變化,影響信號傳輸質(zhì)量;微波串?dāng)_則會干擾量子比特的精確控制,降低量子計(jì)算的準(zhǔn)確性。因此,研究超導(dǎo)芯片互連的低溫變形補(bǔ)償與微波串?dāng)_抑制技術(shù)對于量子計(jì)算控制板的設(shè)計(jì)至關(guān)重要。
深空探測任務(wù)是人類探索宇宙奧秘、拓展認(rèn)知邊界的重要途徑。然而,深空環(huán)境充滿了高能粒子輻射,如質(zhì)子、重離子等,這些輻射會對探測器中的電子系統(tǒng),尤其是印刷電路板(PCB)造成嚴(yán)重影響。高能粒子可能引發(fā)單粒子效應(yīng)(SEE),導(dǎo)致電路邏輯錯誤、數(shù)據(jù)丟失甚至器件損壞。因此,開展深空探測器PCB抗輻照設(shè)計(jì),通過屏蔽層拓?fù)鋬?yōu)化與單粒子效應(yīng)容錯布局,對于保障探測器的可靠運(yùn)行至關(guān)重要。
在當(dāng)今電子產(chǎn)品向小型化、高性能化方向快速發(fā)展的背景下,印刷電路板(PCB)的設(shè)計(jì)與制造面臨著前所未有的挑戰(zhàn)。PCB數(shù)字孿生技術(shù)作為一種新興的智能制造技術(shù),通過構(gòu)建虛擬的PCB模型,實(shí)現(xiàn)對實(shí)際生產(chǎn)過程的實(shí)時(shí)監(jiān)控、預(yù)測和優(yōu)化。可制造性設(shè)計(jì)(DFM)規(guī)則引擎能夠根據(jù)PCB設(shè)計(jì)規(guī)范和制造工藝要求,對設(shè)計(jì)進(jìn)行自動檢查和優(yōu)化。而實(shí)時(shí)生產(chǎn)數(shù)據(jù)映射方法則是將實(shí)際生產(chǎn)過程中的數(shù)據(jù)與數(shù)字孿生模型進(jìn)行關(guān)聯(lián),使模型能夠準(zhǔn)確反映生產(chǎn)狀態(tài)。本文將深入探討PCB數(shù)字孿生構(gòu)建中DFM規(guī)則引擎與實(shí)時(shí)生產(chǎn)數(shù)據(jù)映射方法。
在電子設(shè)備日益小型化、集成化的今天,電磁兼容(EMC)問題愈發(fā)凸顯。電磁兼容正向設(shè)計(jì)旨在從產(chǎn)品設(shè)計(jì)初期就考慮電磁兼容性,通過合理的設(shè)計(jì)和優(yōu)化,減少電磁干擾(EMI)的產(chǎn)生和傳播,確保設(shè)備在復(fù)雜的電磁環(huán)境中能夠正常工作。近場輻射是電磁干擾的重要來源之一,而PCB(印制電路板)布局參數(shù)對近場輻射頻譜有著顯著的影響。本文將深入探討近場輻射頻譜與PCB布局參數(shù)的敏感性分析,為電磁兼容正向設(shè)計(jì)提供理論依據(jù)和實(shí)踐指導(dǎo)。
在高速數(shù)字通信領(lǐng)域,112G及以上速率的通道傳輸技術(shù)正逐漸成為主流。然而,隨著數(shù)據(jù)速率的提升,信號在傳輸過程中受到的干擾和損耗也愈發(fā)嚴(yán)重。通道去嵌誤差是影響高速信號完整性的關(guān)鍵因素之一,它會導(dǎo)致信號失真、眼圖惡化,進(jìn)而降低通信系統(tǒng)的性能。多端口TRL(Thru-Reflect-Line)校準(zhǔn)技術(shù)和頻變損耗補(bǔ)償模型為抑制112G+通道去嵌誤差提供了有效的解決方案。
在現(xiàn)代電子設(shè)備中,隨著功率需求的不斷增加,大電流傳輸成為了一個(gè)關(guān)鍵問題。過孔作為PCB(印制電路板)中實(shí)現(xiàn)層間電氣連接的重要結(jié)構(gòu),在大電流傳輸過程中起著至關(guān)重要的作用。然而,過孔在承載大電流時(shí),會產(chǎn)生電流密度分布不均勻的現(xiàn)象,進(jìn)而引發(fā)焦耳熱效應(yīng)。過高的溫度不僅會影響過孔的電氣性能,還可能導(dǎo)致PCB的可靠性下降,甚至引發(fā)故障。因此,對過孔陣列的電流密度分布與焦耳熱進(jìn)行耦合建模和仿真分析,對于優(yōu)化PCB設(shè)計(jì)、提高系統(tǒng)可靠性具有重要意義。
在高性能電子系統(tǒng)中,多相供電網(wǎng)絡(luò)(Power Delivery Network,PDN)承擔(dān)著為芯片等關(guān)鍵負(fù)載提供穩(wěn)定、純凈電能的重要任務(wù)。然而,隨著芯片工作頻率的不斷提高和功耗的日益增大,PDN中不可避免地會出現(xiàn)諧振現(xiàn)象。諧振會導(dǎo)致電壓波動、電磁干擾(EMI)增加等問題,嚴(yán)重影響系統(tǒng)的性能和可靠性。磁電混合去耦技術(shù)和反諧振峰消除算法為解決PDN諧振問題提供了有效的途徑。
在電子設(shè)備不斷向小型化、高性能化發(fā)展的趨勢下,芯片的集成度越來越高,功率密度也顯著增大。球柵陣列封裝(BGA)作為一種常見的芯片封裝形式,在工作過程中會產(chǎn)生大量的熱量。如果不能及時(shí)有效地散熱,芯片的溫度會急劇升高,導(dǎo)致性能下降、壽命縮短甚至損壞。導(dǎo)熱型覆銅板(TCCL)作為電子電路中重要的導(dǎo)熱介質(zhì),其導(dǎo)熱性能對BGA封裝的散熱效果起著關(guān)鍵作用。本文將通過實(shí)際測試案例,分析1.5W/mK導(dǎo)熱型覆銅板基板對BGA熱阻的降低效果。