在現(xiàn)代高速電子系統(tǒng)中,信號完整性(Signal Integrity, SI)已成為確保系統(tǒng)可靠運行的關鍵因素。信號完整性是指信號在傳輸路徑上保持其原始特性的能力,當信號從驅動端出發(fā),經(jīng)過傳輸線到達連接器,最終被接收端接收的過程中,信號質量可能會受到多種因素的影響,如反射、串擾、延遲等,從而導致信號失真,影響系統(tǒng)性能。設置合適的接收端,成為優(yōu)化這一信號傳輸過程、保障信號質量的關鍵環(huán)節(jié)。
在電子電路的世界里,電容是不可或缺的重要元件。去耦電容、bypass 電容(旁路電容)和濾波電容,雖然都屬于電容家族,但它們的原理和功能卻各有千秋,在電路中扮演著不同的關鍵角色。深入了解它們的特性,對于設計和優(yōu)化電子電路具有重要意義。
在當今科技飛速發(fā)展的時代,電子設備和系統(tǒng)無處不在,從日常生活中的智能手機、電腦,到工業(yè)生產(chǎn)中的自動化設備、電力系統(tǒng),它們的正常運行對于我們的生活和工作至關重要。然而,這些設備和系統(tǒng)所處的電磁環(huán)境卻日益復雜,各種電磁干擾可能會對其性能產(chǎn)生影響,甚至導致故障。電磁兼容性(EMC)作為確保設備在其電磁環(huán)境中不受干擾正常工作的關鍵因素,愈發(fā)受到人們的關注。浪涌抗擾度作為電磁兼容性測試中的一項重要內(nèi)容,對于評估設備在突然電壓波動條件下的穩(wěn)定性和可靠性起著不可或缺的作用。
制造過程中的工藝差異,是導致運放失調電壓的關鍵因素之一。在運放內(nèi)部,晶體管、二極管等元件的制造無法做到絕對精確匹配。以輸入級的差分對管為例,由于光刻、摻雜等工藝步驟存在微小偏差,使得兩個晶體管的閾值電壓、跨導等參數(shù)難以完全一致。這種不一致會導致在相同輸入信號下,差分對管的輸出電流產(chǎn)生差異,從而在運放輸入端形成失調電壓。據(jù)統(tǒng)計,在一些普通工藝制造的運放中,因工藝差異導致的失調電壓可數(shù)毫伏甚至更高。
在電子焊接領域,虛焊是一個常見且棘手的問題,它猶如潛藏在電子設備中的定時炸彈,隨時可能引發(fā)設備故障,影響其性能與可靠性。通孔焊接和標貼焊接作為兩種主流的焊接方式,在應對虛焊問題上各有特點,而通孔焊接憑借其獨特的工藝特性,在解決虛焊問題方面展現(xiàn)出顯著優(yōu)勢。
在人工智能技術飛速發(fā)展的當下,AI 服務器作為承載核心運算的關鍵設備,其性能表現(xiàn)至關重要。而電感器,作為 AI 服務器電源管理和信號處理的重要元件之一,對服務器的高效穩(wěn)定運行起著不可忽視的作用。深入剖析 AI 服務器對電感器的需求,并合理選型,成為提升 AI 服務器性能與可靠性的關鍵環(huán)節(jié)。
在當今高速發(fā)展的電子信息時代,DDR2 和 DDR3 作為廣泛應用的內(nèi)存技術,其性能優(yōu)劣直接影響著電子設備的整體表現(xiàn)。而在 DDR2/DDR3 的設計過程中,阻抗控制已成為一個至關重要的環(huán)節(jié),對整個系統(tǒng)的穩(wěn)定性、可靠性和高速數(shù)據(jù)傳輸能力起著決定性作用。
過孔由鉆孔(drill hole)以及外圍焊盤共同構成,其尺寸的選擇需嚴格遵循以下原則:內(nèi)徑與外徑規(guī)范:全通過孔的內(nèi)徑應大于等于 0.2mm(8mil),外徑則應大于等于 0.4mm(16mil);在極限情況下,外徑可縮小至 0.35mm(14mil)。
靜電放電即ESD(Electro-Staticdischarge),是指具有不同靜電電位的物體互相靠近或直接接觸引起的電荷轉移。
在當今集成電路設計領域,低功耗設計已成為關鍵需求,特別是在移動設備、物聯(lián)網(wǎng)設備等對功耗敏感的應用中。然而,隨著芯片設計規(guī)模的不斷擴大和復雜度的增加,低功耗設計中的漏洞定位變得愈發(fā)困難。EnFortius?凝鋒?低功耗靜態(tài)驗證工具應運而生,其支持UPF3.1標準,為超大規(guī)模設計中的低功耗漏洞定位提供了強大的解決方案。
示波器的存儲深度是指示波器單次觸發(fā)所能采集和存儲的采樣點數(shù)量,決定了儀器能夠捕獲和分析信號的時間長度和細節(jié)。
在集成電路設計領域,電子設計自動化(EDA)工具是不可或缺的。隨著芯片設計復雜度的不斷提高,對計算資源的需求呈指數(shù)級增長。傳統(tǒng)的本地計算模式面臨著算力瓶頸、成本高昂以及資源利用率低等問題。將EDA上云,利用云計算的分布式驗證與彈性算力調度技術,成為解決這些問題的有效途徑。
在自動駕駛技術飛速發(fā)展的當下,自動駕駛芯片作為核心部件,其可靠性驗證至關重要。多傳感器數(shù)據(jù)融合為自動駕駛提供了全面的環(huán)境感知,而功能安全則保障了車輛在各種情況下的安全運行。將多傳感器數(shù)據(jù)融合與功能安全進行協(xié)同設計,并開展可靠性驗證,是確保自動駕駛芯片穩(wěn)定、安全工作的關鍵。
在RISC-V生態(tài)蓬勃發(fā)展的當下,電子設計自動化(EDA)工具的適配成為推動其廣泛應用的關鍵。RISC-V的開源特性為EDA工具帶來了新的機遇與挑戰(zhàn),從開源協(xié)議棧移植到實現(xiàn)高性能驗證,是構建完整RISC-V設計流程的重要環(huán)節(jié)。
隨著量子計算技術的飛速發(fā)展,量子電子設計自動化(EDA)工具鏈的重要性日益凸顯。量子糾錯電路綜合與量子門映射算法作為量子EDA工具鏈中的關鍵環(huán)節(jié),對于實現(xiàn)穩(wěn)定、高效的量子計算至關重要。本文將深入探討這兩個方面的內(nèi)容,并給出相關代碼示例。