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[導(dǎo)讀]1 引言壓力數(shù)據(jù)在油田開采過程中是一項極重要的資料。而這其中的射孔工藝是關(guān)鍵環(huán)節(jié),其對高質(zhì)量打開油氣層,提高油氣井產(chǎn)能都有重要影響。射孔是打開油氣層讓地層流體流入井內(nèi)的主要完井工序。測取射孔瞬間動態(tài)壓力

1 引言

壓力數(shù)據(jù)在油田開采過程中是一項極重要的資料。而這其中的射孔工藝是關(guān)鍵環(huán)節(jié),其對高質(zhì)量打開油氣層,提高油氣井產(chǎn)能都有重要影響。射孔是打開油氣層讓地層流體流入井內(nèi)的主要完井工序。測取射孔瞬間動態(tài)壓力參數(shù)具有重要意義;確定每次射孔的施工效果;結(jié)合其他測試參數(shù)評價地質(zhì)效果:研究射孔工藝機理,為我國射孔理論水平的發(fā)展創(chuàng)造有利條件。該參數(shù)的測取也是研究油氣層特征,掌握油氣層動態(tài)。檢查地面采油工藝流程的重要手段。為此,必須借助于各種精密的壓力測量儀表。以獲得精確的壓力數(shù)據(jù)。

2 測試系統(tǒng)設(shè)計

2.1 存儲測試原理簡介

存儲測試系統(tǒng)是用以完成存儲測試的物理系統(tǒng),可工作在高溫、高壓、強沖擊振動、高過載等惡劣環(huán)境下,自動完成被測信息的實時采集與存儲記憶。它將傳感器、適配電路、數(shù)字化存儲記錄電路、通訊接口、控制指示單元和電源集成為一體,構(gòu)成一個小型化的、可安裝在被測體內(nèi)(相對)獨立丁作的測試系統(tǒng)。由于存儲測試系統(tǒng)具有體積小、功耗低、可重復(fù)使用、抗干擾性好及能適應(yīng)特殊環(huán)境等特點,所以對于工程測試,特別是在野外惡劣的環(huán)境下,存儲測試系統(tǒng)提供了一個很好的解決方案。

這里設(shè)計的儀器必須能夠在高溫、高壓、高沖擊的油井中安全、可靠的取得射孔壓裂數(shù)據(jù),且能保持?jǐn)?shù)據(jù)長時間不丟失,可順利回收被測信息。因此該系統(tǒng)除需能耐高溫、高壓、高沖擊振動的電路外,還必須對其保護,防止儀器損壞。

2.2 系統(tǒng)工作原理

系統(tǒng)原理框圖如圖1所示。

石油井下射孔壓力測試系統(tǒng)選用編程自適應(yīng)分段均勻采樣策略,即通過事先編程確定記錄過程分為若干個均勻采樣階段,每一階段的開始時間、采樣頻率、存儲點數(shù)是根據(jù)被測信號的變化自適應(yīng)調(diào)整的。此系統(tǒng)在單片機程序的控制下,上電延時50 s后,在觸發(fā)信號到來之前,以1 Hz的采樣頻率進行低頻采樣A/D轉(zhuǎn)換,并將MD轉(zhuǎn)換輸出的數(shù)據(jù)存人存儲器。觸發(fā)信號到來后,開始以100 kHz的采樣頻率采樣,連續(xù)采樣滿128 K字?jǐn)?shù)據(jù),再以500 Hz采樣,至采滿256 K字,數(shù)據(jù)停止采樣。當(dāng)電路回收后,可通過RS232接口將存儲器中的數(shù)據(jù)讀至計算機.以便后續(xù)處理。

2.3 MSP430單片機低功耗的設(shè)計

MSP430系列單片機具有獨特的時鐘系統(tǒng)設(shè)計,包括兩個不同的時鐘系統(tǒng):基本時鐘系統(tǒng)和鎖頻環(huán)(FLL和FLL+)時鐘系統(tǒng)或數(shù)字振蕩器(DCO)時鐘系統(tǒng)。由時鐘系統(tǒng)產(chǎn)生CPU和各功能模塊所需時鐘,這些時鐘可在指令的控制下打開或關(guān)閉,從而控制總體功耗。由于系統(tǒng)運行時所使用的功能模塊不同,即采用不同的工作模式,器件的功耗有明顯區(qū)別。系統(tǒng)具有1種活動模式(AM)和5種低功耗模式(LPM0~LPM4)。MSP430系列單片機各個模塊運行完全獨立,定時器、輸入/輸出端口、A/D轉(zhuǎn)換、看門狗等都可在主CPU休眠的狀態(tài)下獨立運行。當(dāng)需要主CPU工作時,任何一個模塊都可以通過中斷喚醒 CPU,從而使系統(tǒng)以最低功耗運行。這是MSP430系列單片機最突出的優(yōu)點。

為充分利用CPU的低功耗性能,使其工作于突發(fā)狀態(tài)。通常情況下,根據(jù)需要使用軟件將CPU設(shè)定到某一種低功耗工作模式下,在需要時使用中斷將CPU從休眠狀態(tài)中喚醒,完成工作后又可進入相應(yīng)休眠狀態(tài)。圖2為MSP430F1611單片機的基本配置電路。

3 狀態(tài)設(shè)計及系統(tǒng)狀態(tài)分析

3.1 狀態(tài)設(shè)計理論

狀態(tài)設(shè)計是指根據(jù)被測對象的運動規(guī)律確定存儲測試系統(tǒng)狀態(tài)組織結(jié)構(gòu)的過程。它是實現(xiàn)功能設(shè)計的關(guān)鍵環(huán)節(jié),是硬件設(shè)計的依據(jù),也是建立基型存儲測試系統(tǒng)的有效手段。狀態(tài)設(shè)計可以使設(shè)計思想始終清晰地貫穿于設(shè)計和調(diào)試,不同程度地簡化原本復(fù)雜的設(shè)計過程。

3.2 系統(tǒng)的狀態(tài)分析

根據(jù)狀態(tài)分析,存儲測試系統(tǒng)完成一次有效的數(shù)據(jù)測試,大致需經(jīng)6個過程:等待狀態(tài)A0,低速采存狀態(tài)A1,高速采存狀態(tài)A2,低速采存狀態(tài)A3,信息保持狀態(tài)A4,數(shù)據(jù)讀出狀態(tài)A5。MSP430F1611通過控制ONA、ONB分別產(chǎn)生VDD= 3.6 V、VEE=3.6 V,OE、WE、CE分別為存儲器的讀、寫、片選控制信號。ONA信號為低電平時輸出VDD,為高電平時關(guān)閉。ONB為低電平時輸出VEE,為高電平時關(guān)閉。圖3為系統(tǒng)狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖,詳細分析系統(tǒng)各工作階段的電源開閉情況及低功耗模式。

等待狀態(tài)A0對系統(tǒng)進行初始化,復(fù)位操作。其中,在I/O初始化中,設(shè)置上電外部中斷,當(dāng)ONA、ONB為OE、WE、CE為低,電源VDD、VEE關(guān)閉,初始化通用寄存器,將內(nèi)部DCO晶振8分頻,初始化定時器A,通過TA中斷延時50 s.等待電源穩(wěn)定后進入低功耗1。



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