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[導(dǎo)讀]InGaAs晶體管元器件交易網(wǎng)訊 11月6日消息,據(jù)外媒 Electronicsweekly報(bào)道, IMEC宣布已為III-V FinFET 組裝300mm 制程晶圓片,該晶圓片采用了銦砷化鎵(化學(xué)符號(hào)為InGaAs)、磷化銦( indium phosphide)化合物,將容納近

臺(tái)積電高通合作為III-V FinFET采用InGaAs晶體管0' />

InGaAs晶體管

元器件交易網(wǎng)訊 11月6日消息,據(jù)外媒 Electronicsweekly報(bào)道, IMEC宣布已為III-V FinFET 組裝300mm 制程晶圓片,該晶圓片采用了銦砷化鎵(化學(xué)符號(hào)為InGaAs)、磷化銦( indium phosphide)化合物,將容納近8%的原子晶格失配。

IMEC此次項(xiàng)目合作公司有TSMC、Intel、Samsung、Sony、 Qualcomm 和Toshiba。

InGaAs晶體管的優(yōu)點(diǎn)是能夠減少芯片尺寸,提高信息處理的速度,用作半導(dǎo)體材料,用于光纖通信技術(shù),并廣泛用于探測(cè)器! 當(dāng)電子在InGaAs中的傳輸速度是硅的數(shù)倍,其傳輸電流是最先進(jìn)的硅晶體管的2.5倍,同時(shí),InGaAs晶體管的尺寸僅僅為60納米。

核心CMOS高級(jí)副總裁 An Steegen說:“300mm 制程 III-V FinFET 設(shè)備將成為全球首次兼容CMOS功能的設(shè)備,這是一個(gè)激動(dòng)人心的成就,因?yàn)樗鼘⒂锌赡芴娲?dāng)前最先進(jìn)的硅基長(zhǎng)波長(zhǎng)光電FinFET技術(shù),成為下一代高容量生產(chǎn)可行替代方案。”

此新技術(shù)基于所捕獲到的晶體缺陷的長(zhǎng)寬比、槽結(jié)構(gòu)和外延工藝創(chuàng)新。 FinFET 晶圓設(shè)備上集成了III-V,從而顯示出優(yōu)秀性能。

IMEC邏輯研發(fā)主任 Aaron Thean表示,“ 下一步計(jì)劃將按比例縮小的硅和非硅類設(shè)備擴(kuò)展結(jié)合,這將成為下一個(gè)戲劇性晶體管歷史創(chuàng)新,將打破數(shù)字CMOS領(lǐng)域近50年的硅晶體管設(shè)計(jì)。”(元器件交易網(wǎng)龍燕 譯)

外媒原文:

Imec has fabricated III-V based finfets on 300mm silicon wafers using indium gallium arsenide and indium phosphide.

Imec says the process could first be used at the 7nm node.

Partners with Imec in the project are TSMC, Intel, Samsung, Sony, Qualcomm and Toshiba.

“To our knowledge, this is the world’s first functioning CMOS compatible III-V FinFET device processed on 300mm wafers,” stated An Steegen, senior vice president core CMOS at imec, “this is an exciting accomplishment, demonstrating the technology as a viable next-generation alternative for the current state-of-the-art Si-based FinFET technology in high volume production.”

Imec’s process selectively replaces silicon fins with indium gallium arsenide (InGaAs) and indium phospide (InP), accommodating close to eight percent of atomic lattice mismatch.

The new technique is based on aspect-ratio trapping of crystal defects, trench structure, and epitaxial process innovations. The resulting III-V integrated on silicon FinFET device shows an excellent performance.

Aaron Thean, Imec’s director of the logic R&D says: “The ability to combine scaled non-silicon and silicon devices might be the next dramatic transistor face-lift, breaking almost 50 years of all-silicon reign over digital CMOS.”

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