全球測試領(lǐng)導(dǎo)者探討使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀來面對與采用微波、毫米波及 THz 頻率運(yùn)行的材料測量及器件分析相關(guān)的挑戰(zhàn)

加州、摩根山 (Morgan Hill) ——通信測試解決方案的全球領(lǐng)導(dǎo)者安立公司宣布，將在于 4 月 8 日至 10 日在中國北京北京國際會(huì)議中心舉行的 2014 年電子設(shè)計(jì)創(chuàng)新會(huì)議 (EDI CON) 上進(jìn)行一系列展示。 由安立公司的代表所做的三場演講將解答工程師們在測定以微波及毫米波 (mm-wave) 頻率運(yùn)行的器件特征時(shí)遇到的問題。

高達(dá) 110 GHz 的穩(wěn)定表征晶圓寬帶器件分析

安立公司產(chǎn)品營銷經(jīng)理 Bob Buxton 將于 4 月 8 日進(jìn)行一場演講。該演講報(bào)告將涵蓋器件分析工程師們遇到的測試問題，并提供可進(jìn)行 S 參數(shù)測量的解決方案——使用基于 VectorStar™ 的寬頻矢量網(wǎng)絡(luò)分析系統(tǒng)（頻率覆蓋范圍為 70 kHz 至 110 GHz）。 還將介紹將這種功能擴(kuò)展至 145 GHz 的全新操作。

準(zhǔn)光學(xué)、自由空間毫米波和 THz 范圍材料測量方面的進(jìn)展

由安立公司的 Jon Martens 博士與 Virginia Diodes, Inc. 的 Jeffery Hesler 和 Alex Arsenovic 提供的本報(bào)告將匯報(bào)從 100 GHz 范圍內(nèi)的自由空間測量到 1 THz 準(zhǔn)光學(xué)測量的技術(shù)。報(bào)告中將討論所有這些測量中的校準(zhǔn)流程、需要的樣品形態(tài)以及預(yù)期可重復(fù)性水平。該演講報(bào)告計(jì)劃于 4 月 10 日進(jìn)行。

真實(shí)差分驅(qū)動(dòng)測量中的不確定性和穩(wěn)定性

Martens 博士將于 4 月 10 日星期四做第二場演講報(bào)告，將著重介紹差分驅(qū)動(dòng)測量。 許多高速元件的特征分析和模型開發(fā)可能包括在真實(shí)驅(qū)動(dòng)條件下的差分回饋損耗、傳輸及模式轉(zhuǎn)換測量。因此，真實(shí)的差分驅(qū)動(dòng)通常需要處于大信號(hào)水平，其測量具有挑戰(zhàn)性。本演講將討論一種可以高度可靠地進(jìn)行這些測量的方法以及了解不確定性降級對盡可能減少重新校準(zhǔn)次數(shù)和提高數(shù)據(jù)可信度的重大幫助。