經(jīng)過(guò)16期的運(yùn)行后,全國(guó)矚目的華強(qiáng)北·中國(guó)電子市場(chǎng)價(jià)格指數(shù)“孵化”階段將結(jié)束,賽迪顧問(wèn)有限公司將在月底將所有資料移交給新成立的華強(qiáng)北電子市場(chǎng)價(jià)格指數(shù)有限公司;按照國(guó)家信息產(chǎn)業(yè)部的要求,同
本文所設(shè)計(jì)的體溫?cái)?shù)據(jù)采集裝置采用紅外耳溫測(cè)量方法,另外,為了實(shí)現(xiàn)對(duì)體溫?cái)?shù)據(jù)自動(dòng)記錄存儲(chǔ)以及一段時(shí)間的溫度曲線(xiàn)觀測(cè),設(shè)計(jì)了紅外耳溫計(jì)與PC機(jī)的通信以及上位機(jī)軟件。
本文所設(shè)計(jì)的體溫?cái)?shù)據(jù)采集裝置采用紅外耳溫測(cè)量方法,另外,為了實(shí)現(xiàn)對(duì)體溫?cái)?shù)據(jù)自動(dòng)記錄存儲(chǔ)以及一段時(shí)間的溫度曲線(xiàn)觀測(cè),設(shè)計(jì)了紅外耳溫計(jì)與PC機(jī)的通信以及上位機(jī)軟件。
在FPGA系統(tǒng)中,實(shí)現(xiàn)對(duì)外部A/D數(shù)據(jù)采集電路的控制接口邏輯,由于其邏輯功能不是很復(fù)雜,因此可采用自定義的方式。
在NIOS-II系統(tǒng)中A/D數(shù)據(jù)采集接口的設(shè)計(jì)
在高電壓、強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境中,采用光纖網(wǎng)絡(luò)是最理想的通訊手段。超導(dǎo)托克馬克聚變實(shí)驗(yàn)裝置的加速極電源系統(tǒng),工作在高電壓、強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境中,為了保證電源系統(tǒng)的穩(wěn)定和安全,必須對(duì)電源模塊的狀態(tài)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控。
在高電壓、強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境中,采用光纖網(wǎng)絡(luò)是最理想的通訊手段。超導(dǎo)托克馬克聚變實(shí)驗(yàn)裝置的加速極電源系統(tǒng),工作在高電壓、強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境中,為了保證電源系統(tǒng)的穩(wěn)定和安全,必須對(duì)電源模塊的狀態(tài)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控。
在高電壓、強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境中,采用光纖網(wǎng)絡(luò)是最理想的通訊手段。超導(dǎo)托克馬克聚變實(shí)驗(yàn)裝置的加速極電源系統(tǒng),工作在高電壓、強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境中,為了保證電源系統(tǒng)的穩(wěn)定和安全,必須對(duì)電源模塊的狀態(tài)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控。
美國(guó)吉時(shí)利(Keithley)儀器公司, 日前發(fā)布最新《掌握最新的數(shù)據(jù)采集、測(cè)量與控制開(kāi)發(fā)手段》一書(shū)。
美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments,簡(jiǎn)稱(chēng)NI)正式宣布將其適用于NI CompactDAQ數(shù)據(jù)采集平臺(tái)的I/O模塊數(shù)量增加2倍之多,并為這一基于USB的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)新添了多項(xiàng)關(guān)鍵的測(cè)量功能。
新的NI USB-6221和USB-6229數(shù)據(jù)采集設(shè)備能以250KS/s的單通道采樣率提供高達(dá)32路模擬輸入,這兩款新產(chǎn)品的問(wèn)世將NI的USB數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品線(xiàn)擴(kuò)展到40種之多。
介紹采用C8051F320 SOC與AM45DB321構(gòu)成數(shù)據(jù)采集存儲(chǔ)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案。
“新文化運(yùn)動(dòng)”從公眾服務(wù)開(kāi)始 中國(guó)移動(dòng)正在極力使人們認(rèn)識(shí)到移動(dòng)通信對(duì)現(xiàn)代生活的影響力,這一次他們又找到了一個(gè)很好的切入點(diǎn)。 近日,中國(guó)移動(dòng)和中國(guó)動(dòng)物疫病預(yù)防控制中心合作建立了“動(dòng)物標(biāo)識(shí)溯
即將到來(lái)的新一代芯片工藝將不僅使器件密度有極大增加,而且由工藝及器件變化帶來(lái)的挑戰(zhàn)比20年前所有工藝帶來(lái)的挑戰(zhàn)更為嚴(yán)峻,波特蘭州立大學(xué)電氣與計(jì)算機(jī)工程教授Robert Daasch如是說(shuō)。在國(guó)際測(cè)試會(huì)議的一次講演中,
NI最新推出隔離式PCI數(shù)據(jù)采集和運(yùn)動(dòng)板卡