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如何應(yīng)對電壓開關(guān)中常見的挑戰(zhàn)
設(shè)計(jì)自動(dòng)化的測試系統(tǒng)開關(guān)需要搞清楚要開關(guān)信號(hào)和要執(zhí)行測試的特點(diǎn)。例如，在測試應(yīng)用中承受開關(guān)電壓信號(hào)的最合適的開關(guān)卡和技術(shù)取決于其涉及電壓的幅值和阻抗。中等大小電
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基于PXI Express的高速混合信號(hào)測試系統(tǒng)
PXI Express為PXI儀器平臺(tái)增添了眾多的技術(shù)優(yōu)勢，開辟了許多新興測量領(lǐng)域。PXI Express儀器系統(tǒng)提供的高達(dá)2GB/s的數(shù)據(jù)吞吐量使得以前只能通過定制硬件或是昂貴的專用儀器才能實(shí)現(xiàn)的高速測量應(yīng)用變?yōu)?/p>
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基于LabVIEW的繼電器測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案
1.引言 繼電器是自動(dòng)控制系統(tǒng)、遙控遙測系統(tǒng)和通信系統(tǒng)的關(guān)鍵元件之一，它廣泛應(yīng)用于航空、航天、電子、通信、機(jī)械等裝備中，繼電器的可靠性直接影響到由其組成的設(shè)備、系統(tǒng)的可靠性，繼電器的
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硬件在環(huán)（HIL）測試系統(tǒng)的架構(gòu)
首頁>技術(shù)文庫>正文 硬件在環(huán)（HIL）測試系統(tǒng)的架構(gòu) 關(guān)鍵詞：硬件在環(huán)測試系統(tǒng),嵌入式控制系統(tǒng),HIL 時(shí)間：2016-08-26 09:34:53來源：中電網(wǎng) HIL仿真是一種功能強(qiáng)大的測試方法，可以用于更加有
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FPGA的VRLA蓄電池測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
1、 引言 閥控式鉛酸蓄電池（VRLA）在實(shí)際使用中會(huì)出現(xiàn)電池殼變形、電解液滲漏、容量不足、電池端電壓不均勻等現(xiàn)象，實(shí)踐證明，整組電池的容量是以狀況最差的那塊電池的容量值為準(zhǔn)，而不是以平均值
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喀嚦聲測試系統(tǒng)|喀嚦聲分析儀
電源端口傳導(dǎo)電磁騷擾（CE）可分為連續(xù)騷擾和斷續(xù)騷擾。 連續(xù)騷擾是指電子設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)不變時(shí)，內(nèi)部電子器件產(chǎn)生的電磁干擾，可在EMI接收機(jī)上直接讀出連續(xù)干擾的數(shù)值，并和相應(yīng)的EMC標(biāo)準(zhǔn)限值進(jìn)行比較，
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基于USB接口和DSP的飛機(jī)防滑剎車測試系統(tǒng)
飛機(jī)防滑剎車控制器作為飛機(jī)防滑剎車系統(tǒng)的核心部件，其設(shè)計(jì)好壞直接影響到飛機(jī)的安全起飛和安全著陸剎車，系統(tǒng)性能的好壞需要通過測試設(shè)備來檢驗(yàn)。我國對控制器的研究已有半個(gè)多世紀(jì)的時(shí)間，從機(jī)械－氣壓式到目前的
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測試系統(tǒng)的不二之選：系統(tǒng)源測量單元
1. 基于NI SourceAdapt技術(shù)的NI系統(tǒng)源測量單元 源測量單元(SMU)是一種精密的儀器，可同時(shí)對同一通道的電流和電壓進(jìn)行同步源測量。 該功能使得SMU成為從精準(zhǔn)直流電源到分析分立元件或集成電路等半導(dǎo)體組
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您是否考慮過在測試系統(tǒng)中使用模塊化示波器？
1. 概覽 無論是上升時(shí)間測量、信號(hào)周期測量抑或峰-峰值電壓識(shí)別，示波器在過去的50年一直是測試測量領(lǐng)域極其寶貴的資源。從試驗(yàn)臺(tái)到機(jī)架堆疊式自動(dòng)測試系統(tǒng)，示波器一直是許多應(yīng)用的核心。隨著應(yīng)用需求
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測試系統(tǒng)是否需要采用模塊化SMU
1. 設(shè)計(jì)多通道測試系統(tǒng)來實(shí)現(xiàn)測試成本目標(biāo) 隨著半導(dǎo)體器件性能的提高和晶體管制造成本的不斷下降，如何實(shí)現(xiàn)測試成本目標(biāo)變得更具挑戰(zhàn)性。要實(shí)現(xiàn)該目標(biāo)的方法之一是并行測試多個(gè)設(shè)備，這通常需要具有兩到
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配置軟件定義的WLAN測試系統(tǒng)
1. WLAN物理層介紹 WLAN標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)IEEE 802.11工作小組所定義并維護(hù)的，其中包含芯片制造商和接入點(diǎn)制造商。 此團(tuán)隊(duì)已經(jīng)定義了多個(gè)802.11標(biāo)準(zhǔn) – 從802.11a到802.11z均囊括在內(nèi)。 然而，對WLAN設(shè)備
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PXI Express DMM為更精確、更智能的測試系統(tǒng)奠定基礎(chǔ)
1. 專為自動(dòng)化測試而設(shè)計(jì) NI基于PXI的DMM款型從高性價(jià)比6½位型號(hào)到高性能7½位型號(hào)等不一而足, 包含市面上精度最高的7½位DMM。 某些型號(hào)所獨(dú)有的特性包括擴(kuò)展的測量范圍、采樣率高
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智能設(shè)備需要更智能的測試系統(tǒng)
1. 智能設(shè)備 對于許多人來說，物聯(lián)網(wǎng)(IoT)已經(jīng)成為現(xiàn)實(shí)。 當(dāng)我們通過智能手機(jī)控制鳥巢溫控器、使用手環(huán)記錄我們行走的步數(shù)以及使用平板電腦觀看視頻時(shí)，我們已經(jīng)切切實(shí)實(shí)在享受這些可感應(yīng)、可連接和可計(jì)
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測試系統(tǒng)和儀器優(yōu)缺點(diǎn)分析
在可用的測試和測量硬件和軟件范圍內(nèi)進(jìn)行選擇，對初次用戶和有經(jīng)驗(yàn)的用戶來說，都一樣難辦，這是可以理解的。 技術(shù)的進(jìn)步使測量和測試方法的發(fā)展呈指數(shù)方式加快，給用戶提供難以想象的強(qiáng)大系統(tǒng)
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淺析測試系統(tǒng)中的矩陣開關(guān)的優(yōu)化方法
對于任何測試系統(tǒng)來說，開關(guān)系統(tǒng)都是至關(guān)重要的一部分。它可以將待測單元（DUT）的接入點(diǎn)和各種不同的資源進(jìn)行連接，并且對設(shè)備進(jìn)行測試，從而核實(shí)設(shè)備中的這部分功能的效用。開關(guān)可以給很多種信
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怎樣去降低測試系統(tǒng)開關(guān)噪聲
為測試電子和機(jī)電器件設(shè)計(jì)開關(guān)系統(tǒng)所遇到的問題和設(shè)計(jì)產(chǎn)品本身一樣多。隨著器件中高速邏輯的出現(xiàn)以及與更靈敏模擬電路的連接，使得降低測試開關(guān)系統(tǒng)中的噪聲比以前任何時(shí)候更加重要。 本文所述
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LabVIEW及GPIB接口的測試系統(tǒng)開發(fā)詳解
計(jì)算機(jī)技術(shù)和大規(guī)模集成電路技術(shù)的發(fā)展，促進(jìn)了數(shù)字化儀器、智能化儀器的快速發(fā)展。與此同時(shí)，工程上也越來越希望將常用儀器設(shè)備與計(jì)算機(jī)連接起來組成一個(gè)由計(jì)算機(jī)控制的智能系統(tǒng)。而工程中常用儀器
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基于虛擬儀器技術(shù)的混合集成電路測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
混合集成電路性能參數(shù)測試系統(tǒng)主要為檢測集成電路芯片是否符合出廠參數(shù)而設(shè)計(jì)。本測試系統(tǒng)可完成八種不同集成電路多項(xiàng)性能參數(shù)測試，包括：工作電流、工作電壓、載波抑制比、跨導(dǎo)、工作頻率、噪聲系
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發(fā)動(dòng)機(jī)測試系統(tǒng)中can總線的應(yīng)用
引 言 現(xiàn)場的總線控制系統(tǒng)（FCS）將是新世紀(jì)自動(dòng)控制系統(tǒng)發(fā)展的主流，是繼DCS后新一代的控制系統(tǒng)?，F(xiàn)場總線是綜合自動(dòng)化發(fā)展的需要，同時(shí)智能儀器儀表則為現(xiàn)場總線的出現(xiàn)奠定了基礎(chǔ)。 CAN（
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基于FPGA的數(shù)字量變換器測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
針對數(shù)字量變換器性能參數(shù)的測試工作，以FPGA為控制核心，開展數(shù)字量變換器測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和研究，并給出系統(tǒng)各模塊的具體設(shè)計(jì)方法；系統(tǒng)通過USB實(shí)現(xiàn)與計(jì)算機(jī)的通信，能夠產(chǎn)生計(jì)算機(jī)字信號(hào)及相應(yīng)移
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