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應(yīng)用材料為20nm制程開(kāi)發(fā)自主式缺陷檢測(cè)SEM
應(yīng)用材料公司推出 Applied SEMVision G5 系統(tǒng)，進(jìn)一步推升在缺陷檢測(cè)掃描電子顯微鏡 (Scanning Electronic Microscope，簡(jiǎn)稱(chēng)SEM) 技術(shù)的領(lǐng)導(dǎo)地位，這是首款可供芯片制造商用于無(wú)人生產(chǎn)環(huán)境的缺陷檢測(cè)工具，能拍攝并分
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全球顯微鏡儀器市場(chǎng)2017年將達(dá)90億美元
2011年8月30日，通過(guò)收集和分析市場(chǎng)數(shù)據(jù)，MarketResearch.com公布了一份全球顯微鏡儀器市場(chǎng)綜合報(bào)告。這里的顯微鏡儀器包括光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡、電子顯微鏡和掃描探針顯微鏡。政府和企業(yè)在生命科學(xué)、材料研究和
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掃描電子顯微鏡原理和應(yīng)用
掃描電子顯微鏡原理和應(yīng)用 2.4.1 掃描電鏡的特點(diǎn) 與光學(xué)顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點(diǎn)： (一) 能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。 (二) 樣品制備過(guò)程簡(jiǎn)單，
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透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與成像原理
透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與成像原理 透射電子顯微鏡是以波長(zhǎng)極短的電子束作為照明源，用電磁透鏡聚焦成像的一種高分辨率、高放大倍數(shù)的電子光學(xué)儀器。 There are four main components to a transmission electron mi
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天美新品Hitachi掃描電子顯微鏡獲優(yōu)秀新品稱(chēng)號(hào)
日前“2011中國(guó)科學(xué)儀器發(fā)展年會(huì)(ACCSI2011)”在京落下帷幕。受邀參加的天美(中國(guó))科學(xué)儀器有限公司在展會(huì)上展示了公司新品Hitachi原子吸收分光光度計(jì)Z-2010、Hitachi臺(tái)式掃描電子顯微鏡TM3000等。 最終Hitachi臺(tái)式掃
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美科學(xué)家成功造全球最小納米線鋰電池
由美國(guó)Sandia和Los Alamos國(guó)家實(shí)驗(yàn)室聯(lián)合組建的綜合納米技術(shù)中心（CINT）日前宣布，他們?cè)陔娮语@微鏡下造出了全球最小的電池，其陽(yáng)極由一根納米線構(gòu)成，僅有人類(lèi)頭發(fā)的1/7000粗細(xì)。該電池由直徑100納米，長(zhǎng)度10微米的
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泛銓科技定位為材料界設(shè)計(jì)服務(wù)中心
以「材料界設(shè)計(jì)服務(wù)中心」(Material Design Service Center)為經(jīng)營(yíng)定位的泛銓科技，繼領(lǐng)先業(yè)界引進(jìn)臺(tái)灣第1、第2臺(tái)應(yīng)用于32奈米的FEI V600CE+機(jī)臺(tái)，提供電路修補(bǔ)(Circuit Repair)服務(wù)之后，將再次引進(jìn)全臺(tái)唯一、同時(shí)也
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4D電子顯微鏡的醫(yī)學(xué)應(yīng)用 能拍納米影片
行業(yè)聚焦頻道——最新熱文推薦 1、三部門(mén)聯(lián)合集中治理網(wǎng)上售藥 2、民資
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蔡司與重慶大學(xué)電子顯微鏡聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室掛牌成立
近日，卡爾蔡司公司（Carl Zeiss）與重慶大學(xué)合建的電子顯微鏡聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室（ Electron Microscopy Collaboration Lab ，EMCL）在重慶大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院正式掛牌成立，為重慶大學(xué)80周年校慶獻(xiàn)上了一份隆重的厚禮。
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中德就磁性半導(dǎo)體研究取得進(jìn)展
一個(gè)中德聯(lián)合研究小組日前在著名專(zhuān)業(yè)期刊《自然·納米技術(shù)》網(wǎng)絡(luò)版上報(bào)告說(shuō)，他們通過(guò)研究首次證明把鈷元素?fù)饺胗裳趸\制成的納米導(dǎo)線，能使納米導(dǎo)線具有內(nèi)稟磁性。這一成果對(duì)研制運(yùn)算速度快且能耗低的新型磁
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超精密尺子測(cè)100納米長(zhǎng)度
新華社今日上午專(zhuān)電 日本科學(xué)家近期開(kāi)發(fā)出精密尺子，能測(cè)量出100納米的長(zhǎng)度，刷新了此前只能測(cè)量240納米的尺子精確度紀(jì)錄。 據(jù)日本《每日新聞》近日?qǐng)?bào)道，日本產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所歷時(shí)3年，投入大約5億日元（約
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