摘要:為了滿(mǎn)足軍用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)準(zhǔn)確度要求高、測(cè)量點(diǎn)多、實(shí)施性強(qiáng)的特點(diǎn),實(shí)現(xiàn)提高測(cè)試準(zhǔn)確度、簡(jiǎn)化硬件電路設(shè)計(jì)的目的,采用了基于LXI總線的數(shù)字化測(cè)試系統(tǒng)方法,做了將數(shù)字萬(wàn)用表L4411A和多路開(kāi)關(guān)L4421A應(yīng)用于ATE
電路板已經(jīng)成為當(dāng)今電子產(chǎn)品的重要組成部分,隨著電子技術(shù)及印制板制造技術(shù)的發(fā)展,現(xiàn)代電子產(chǎn)品日趨復(fù)雜,印制電路板的密度日趨增加,隨之而來(lái)的是印制板的測(cè)試及修理也愈加困難。為了提高印制電路板的檢測(cè)及維修的
目前國(guó)外儀器行業(yè)發(fā)展呈現(xiàn)以下特點(diǎn):進(jìn)入21世紀(jì)以來(lái),國(guó)外儀器儀表行業(yè)的發(fā)展呈現(xiàn)出一些新的特點(diǎn),引起了我國(guó)儀表業(yè)界的關(guān)注。一、新技術(shù)普遍應(yīng)用目前普遍采用電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(EDA)、計(jì)算機(jī)輔助制造(CAM)、
描述了如何采用基于虛擬儀器技術(shù)快速方便的開(kāi)發(fā)短波電臺(tái)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),與傳統(tǒng)儀器測(cè)試平臺(tái)相比,測(cè)試效率更高,體積更小。傳統(tǒng)的電臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)采用以無(wú)線電綜合測(cè)試儀為中心搭建或采用分立儀器搭建、手動(dòng)測(cè)量,這種方法
前言IC測(cè)試廠最重要的兩大指標(biāo)就是測(cè)試品質(zhì)與生產(chǎn)效率。測(cè)試品質(zhì)的關(guān)鍵在于測(cè)試的再現(xiàn)性與可重復(fù)性,而生產(chǎn)要素除了合格率的因素外,最主要的就是測(cè)試設(shè)備的產(chǎn)能利用率。在質(zhì)的方面,對(duì)于經(jīng)過(guò)測(cè)試的每一顆IC,要求在
摘 要:針對(duì)綜合測(cè)試診斷系統(tǒng)(CTDS)測(cè)試軟件平臺(tái)發(fā)展的新要求,提出了采用GPTS3.0 測(cè) 試軟件平臺(tái)。并以某型角位移傳感器為例,具體地描述了GPTS3.0 在CTDS 中開(kāi)發(fā)UUT 自 動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的方法,給出了利用GPTS3.0 在CTD
自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的廣泛適用性是因?yàn)樽詣?dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)不是針對(duì)單一的測(cè)試對(duì)象進(jìn)行的, 而是將印制電路板的功能測(cè)試進(jìn)行抽象和分類(lèi),印制電路板測(cè)試(這里是抽象的印制電路板)抄板過(guò)程可分為信號(hào)的輸入和信號(hào)的輸出:信號(hào)
微電子、計(jì)算機(jī)、傳感器和信息處理技術(shù)等現(xiàn)代科技的發(fā)展,對(duì)自動(dòng)檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展提供了有利的條件,奠定了新一代ATS的基礎(chǔ),成為推動(dòng)其體系結(jié)構(gòu)、測(cè)試方法、測(cè)試技術(shù)不斷進(jìn)步的強(qiáng)大動(dòng)力。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)和自動(dòng)測(cè)試
機(jī)載電子設(shè)備自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)需要對(duì)上百種部件進(jìn)行功能測(cè)試,涉及的信號(hào)種類(lèi)和數(shù)量都很多,這些信號(hào)按照頻率分為低頻和高頻兩種,按時(shí)域特性分為連續(xù)和離散信號(hào),按照形式分為電信號(hào)和非電信號(hào)(如溫度、速度、高度、氣
由于國(guó)家的政策扶持和企業(yè)自身的重視,我國(guó)儀器儀表技術(shù)水平今年來(lái)取得了一定的發(fā)展,甚至在一些技術(shù)上,可以與國(guó)外技術(shù)相匹敵。智能式系列測(cè)試儀器與自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的研究及產(chǎn)業(yè)化水平大幅度提高,組建了航空航天測(cè)試
摘要 隨著自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)向標(biāo)準(zhǔn)化、模塊化和系列化發(fā)展,標(biāo)準(zhǔn)化總線技術(shù)是滿(mǎn)足這三化的關(guān)鍵技術(shù)的基礎(chǔ),它的發(fā)展推動(dòng)了自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的更新。文中通過(guò)分析目前流行的PXI和LXI總線的基本特性和優(yōu)缺點(diǎn),對(duì)基于新型總線AXI
基于對(duì)ICT測(cè)試、功能測(cè)試局限性的深入探討,以及對(duì)邊界掃描測(cè)試技術(shù)的研究與實(shí)踐,本文提出了“MERGE(組合)”邊界掃描測(cè)試模型的建立方法,并基于此方法,構(gòu)建了數(shù)字電路便攜式自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)了對(duì)新型
基于對(duì)ICT測(cè)試、功能測(cè)試局限性的深入探討,以及對(duì)邊界掃描測(cè)試技術(shù)的研究與實(shí)踐,本文提出了“MERGE(組合)”邊界掃描測(cè)試模型的建立方法,并基于此方法,構(gòu)建了數(shù)字電路便攜式自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)了對(duì)新型
基于對(duì)ICT測(cè)試、功能測(cè)試局限性的深入探討,以及對(duì)邊界掃描測(cè)試技術(shù)的研究與實(shí)踐,本文提出了“MERGE(組合)”邊界掃描測(cè)試模型的建立方法,并基于此方法,構(gòu)建了數(shù)字電路便攜式自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)了對(duì)新型
關(guān)鍵字:通用示波器 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)一、前言隨著電子科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,示波器已成為電子技術(shù)工作者不可缺少的重要工具之一。由于受到元器件的漂移、老化等多種因素的影響,若要保證示波器在使用時(shí)的準(zhǔn)確性,就必須對(duì)其進(jìn)行
電路板已經(jīng)成為當(dāng)今電子產(chǎn)品的重要組成部分,隨著電子技術(shù)及印制板制造技術(shù)的發(fā)展,現(xiàn)代電子產(chǎn)品日趨復(fù)雜,印制電路板的密度日趨增加,隨之而來(lái)的是印制板的測(cè)試及修理也愈加困難。為了提高印制電路板的檢測(cè)及維修的
溫度補(bǔ)償石英晶體振蕩器(TCXO)由于具有較高的頻率穩(wěn)定度,作為一種高精度頻率源被廣泛地應(yīng)用于通訊系統(tǒng)、雷達(dá)導(dǎo)航系統(tǒng)、精密測(cè)控系統(tǒng)等。溫補(bǔ)晶振由石英晶體振蕩電路和溫度補(bǔ)償網(wǎng)絡(luò)兩部分組成。其中,溫度補(bǔ)償網(wǎng)絡(luò)的
通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)平臺(tái)可以最大程度地節(jié)約測(cè)試成本,包括了軟件開(kāi)發(fā)成本,系統(tǒng)維護(hù)、升級(jí)成本以及新的測(cè)系統(tǒng)開(kāi)發(fā)成本?! y(cè)試程序集TPS可移植使得開(kāi)發(fā)一套程序可以適于多種不同的場(chǎng)合(理想狀態(tài)下),在系統(tǒng)開(kāi)發(fā)中不
摘要:為在一個(gè)測(cè)試系統(tǒng)上能滿(mǎn)足更多的測(cè)試要求,避免資金浪費(fèi)和重復(fù)性建設(shè),基于PC/104主機(jī)設(shè)計(jì)了一種通用測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)能融合多種總線,集成多種儀器,并考慮了網(wǎng)絡(luò)化和構(gòu)建大型分布式測(cè)試系統(tǒng)的需要,可根據(jù)實(shí)
摘要:介紹了基于GPIB總線和RS-422接口協(xié)議的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì),從硬件和軟件兩個(gè)方面詳細(xì)說(shuō)明了系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方法,系統(tǒng)具有模塊化、層次化和開(kāi)放式的特點(diǎn),便于維護(hù)和升級(jí)。闡述了硬件部分的組成、設(shè)計(jì)方法和適配器。