如圖所示為電容器檢測(cè)篩選電路。該電路的核心是由555與一些阻容元件構(gòu)成的多諧振蕩器和單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器。多諧振蕩器由IC1(555)和R1、C2等組成,其③腳輸出的周期約為1.4秒的脈沖波形作為觸發(fā)電路IC2、IC3、IC4的觸發(fā)控制
如圖所示為信號(hào)幅度在給定時(shí)限內(nèi)的檢測(cè)電路。該檢測(cè)電路由整流濾波電路、電壓比較器、單穩(wěn)定時(shí)器、信號(hào)電平鑒別器、反饋通道等組成。 輸入信號(hào)經(jīng)整流濾波后加至電壓比較器IC1(CH3130)的反向輸入端,以與IC1的同相輸入
如下圖所示為雙線圈金屬探測(cè)器電路。該探測(cè)器由探測(cè)頭、發(fā)射器、接收器、定時(shí)器和音響發(fā)射器等組成。發(fā)射電路如圖(b)所示,由多諧振蕩器(IC1、R1、R2、C2)、單穩(wěn)定時(shí)器(IC2、R4、C4)組成,且定時(shí)器IC2受多諧振蕩器IC
如圖所示為音響邏輯電平探頭電路。該探頭由電壓比較器、多諧振蕩器、壓電陶瓷片HTD等組成。其中后兩者組成音響電路,以音響頻率的高低來(lái)判別TTL或CMOS器件電平的高低。電壓比較器LM339(IC1)中的IC1-1、IC1-2各為1/4
如圖所示為555和741運(yùn)放好壞鑒別器電路。由555(IC1)和R1、R2、C1等組成的多諧振蕩器的振蕩頻率為f=1.44/(R1+2R2)C1,圖示參數(shù)對(duì)應(yīng)的振蕩頻率約為1Hz。若IC1(555)是好的,則其③腳輸出的信號(hào)將驅(qū)動(dòng)發(fā)光二極管LED1周期
如圖所示為五用途三態(tài)聲頻邏輯筆電路。該電路主要由多諧振蕩器、四雙向開關(guān)CD4066(IC1)與一些阻容元件構(gòu)成的門電路等組成。其中多諧 振蕩器由555(IC2)和R7、R8、R9、C1構(gòu)成,其振蕩頻率受IC1-3的通斷狀態(tài)控制。
如圖所示為多路溫度測(cè)試電路。該測(cè)試電路主要由以555為核心構(gòu)成的單穩(wěn)延時(shí)電路組成。 當(dāng)按下按鈕AN時(shí),IC1(555)因②腳為低電平而發(fā)生置位,③腳輸出的高電平使繼電器J1吸合,相應(yīng)將該通道的熱電偶接通。同時(shí),發(fā)光管
如圖所示為振動(dòng)測(cè)試電路。該測(cè)試電路由加速度計(jì)TA-25、集成運(yùn)算放大器741(IC1、IC3、IC5、IC7)、場(chǎng)效應(yīng)管輸入的低漂移運(yùn)算放大器等組成。其應(yīng)用于周期性加速檢測(cè)。由加速計(jì)TA-25輸出的信號(hào)經(jīng)過(guò)集成電路IC1(741)的低通
如圖所示為數(shù)字式電容測(cè)試電路。該測(cè)試儀由時(shí)基脈沖發(fā)生器、單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器、加法計(jì)數(shù)器、譯碼、驅(qū)動(dòng)器及LED發(fā)光數(shù)碼管等組成。時(shí)基脈沖發(fā)生器由IC1b(1/2 556)及R6、R7、R8、W1、W2、C2等組成,其輸出的脈沖信號(hào)作為計(jì)
據(jù)市場(chǎng)調(diào)研公司iSuppli的最新排名,2007年高通(Qualcomm)超過(guò)德州儀器(TI),成為全球最大的無(wú)線IC供應(yīng)商。多年來(lái)德州儀器一直是全球最大的無(wú)線IC供應(yīng)商。但據(jù)iSuppli公司,2007年高通的營(yíng)業(yè)收入增長(zhǎng)速度高于整體