看好45奈米世代以后市場(chǎng)對(duì)于晶圓級(jí)量測(cè)(Wafer-levelMetrology)技術(shù)的需求將日益成長(zhǎng),半導(dǎo)體設(shè)備業(yè)者美商科磊(KLA-Tencor)已于今年陸續(xù)完成對(duì)OnWafer以及SensArray兩間公司的并購(gòu),使其在整個(gè)晶圓量測(cè)市場(chǎng)的市占
據(jù)reed-electronics網(wǎng)站報(bào)道,ADE公司近期宣布,該公司從日本圓片供應(yīng)商獲得了WaferSight(TM)圓片質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)的百萬(wàn)美元訂單,將為此客戶的300mm圓片于2006年后半年和2007年上半年提供服務(wù)。Gartner預(yù)測(cè)300mm晶圓片
據(jù)Semiconductor Reporter網(wǎng)站報(bào)道, CyberOptics半導(dǎo)體公司日前宣布已開發(fā)出掩模版形狀的無(wú)線自動(dòng)水平檢測(cè)系統(tǒng),將用于掩模版夾持設(shè)備的自動(dòng)檢測(cè)。該檢測(cè)系統(tǒng)將幫助使用者防止對(duì)準(zhǔn)偏差、刮擦、以及顆粒產(chǎn)生。有助于
據(jù)了解,國(guó)內(nèi)封測(cè)廠自2005年6至8月間調(diào)漲價(jià)格后,各家封測(cè)廠在2006年第一季淡季接單仍強(qiáng)勁,估計(jì)營(yíng)收僅較2005年第四季小幅下滑5%左右,但市場(chǎng)價(jià)格仍維持至今。由于封測(cè)產(chǎn)能嚴(yán)重不足,近期更傳出國(guó)內(nèi)最大封測(cè)廠日月光