集成電路是一個(gè)相對(duì)寬泛的概念，指的是由電子元件組成的電路的集成化技術(shù)。為增進(jìn)大家對(duì)集成電路的認(rèn)識(shí)，本文將對(duì)集成電路和芯片之間的關(guān)系以及常用集成電路的檢測(cè)方法予以介紹。如果你對(duì)集成電路具有興趣，不妨繼續(xù)往下閱讀哦。

一、集成電路和芯片是一回事嗎

集成電路和芯片是相近但又有細(xì)微差別的概念。在一些情況下，這兩個(gè)術(shù)語可以被互換使用，但更準(zhǔn)確地說，芯片是集成電路的一種類型。集成電路（Integrated Circuit，IC）是一種由許多電子元件組成的電路，這些元件被集成在一個(gè)小型的硅片或其他半導(dǎo)體材料上。在集成電路中，電子元器件的微型化和集成化，使得電路變得更小巧、更可靠和更高效。集成電路的發(fā)明是電子領(lǐng)域的重要突破之一，它的出現(xiàn)深刻地改變了電子產(chǎn)品的制造方式和性能。而芯片（Chip）通常指的是集成電路的一個(gè)實(shí)體，是一塊小型的硅片，上面被刻印上了集成電路上的電子元件和線路。芯片通常由一層或多層的硅和金屬構(gòu)成，上面的電子元器件經(jīng)過精密的制造工藝被連接起來，形成一個(gè)完整的集成電路。芯片通常具有特定的功能，例如處理器芯片、存儲(chǔ)芯片、傳感器芯片等。

從定義來看，集成電路是一種電子電路的技術(shù)實(shí)現(xiàn)，而芯片是集成電路的物理實(shí)體。集成電路是一個(gè)更寬泛的概念，它包含了其他形式的集成電路，例如混合集成電路、薄膜集成電路等。而芯片是指具有特定功能的集成電路，它是集成電路的一種表現(xiàn)形式。另外，在實(shí)際應(yīng)用中，集成電路通常是采用集成電路設(shè)計(jì)工藝制造出來的，而芯片可以包含多個(gè)集成電路。芯片往往是一個(gè)完整的功能模塊，可以直接應(yīng)用于電子產(chǎn)品中，例如手機(jī)芯片、電腦芯片等。而集成電路是對(duì)電子元器件在硅片上的制造和連接技術(shù)的總稱，可以包含多個(gè)芯片。

二、常用集成電路如何檢測(cè)

1、微處理器集成電路的檢測(cè)

微處理器集成電路的關(guān)鍵測(cè)試引腳是VDD電源端、RESET復(fù)位端、XIN晶振信號(hào)輸入端、XOUT晶振信號(hào)輸出端及其他各線輸入、輸出端。

在路測(cè)量這些關(guān)鍵腳對(duì)地的電阻值和電壓值，看是否與正常值（可從產(chǎn)品電路圖或有關(guān)維修資料中查出）相同。

不同型號(hào)微處理器的RESET復(fù)位電壓也不相同，有的是低電平復(fù)位，即在開機(jī)瞬間為低電平，復(fù)位后維持高電平；有的是高電平復(fù)位，即在開關(guān)瞬間為高電平，復(fù)位后維持低電平。

2、開關(guān)電源集成電路的檢測(cè)

開關(guān)電源集成電路的關(guān)鍵腳電壓是電源端（VCC）、激勵(lì)脈沖輸出端、電壓檢測(cè)輸入端、電流檢測(cè)輸入端。測(cè)量各引腳對(duì)地的電壓值和電阻值，若與正常值相差較大，在其外圍元器件正常的情況下，可以確定是該集成電路已損壞。 內(nèi)置大功率開關(guān)管的厚膜集成電路，還可通過測(cè)量開關(guān)管C、B、E極之間的正、反向電阻值，來判斷開關(guān)管是否正常。

3、音頻功放集成電路的檢測(cè) 、

檢查音頻功放集成電路時(shí)，應(yīng)先檢測(cè)其電源端（正電源端和負(fù)電源端）、音頻輸入端、音頻輸出端及反饋端對(duì)地的電壓值和電阻值。若測(cè)得各引腳的數(shù)據(jù)值與正常值相差較大，其外圍元件與正常，則是該集成電路內(nèi)部損壞。

對(duì)引起無聲故障的音頻功放集成電路，測(cè)量其電源電壓正常時(shí)，可用信號(hào)干擾法來檢查。測(cè)量時(shí)，萬用表應(yīng)置于R×1檔，將紅表筆接地，用黑表筆點(diǎn)觸音頻輸入端，正常時(shí)揚(yáng)聲器中應(yīng)有較強(qiáng)的“喀喀”聲。

4、運(yùn)算放大器集成電路的檢測(cè)

用萬用表直流電壓檔，測(cè)量運(yùn)算放大器輸出端與負(fù)電源端之間的電壓值（在靜態(tài)時(shí)電壓值較高）。用手持金屬鑷子依次點(diǎn)觸運(yùn)算放大器的兩個(gè)輸入端（加入干擾信號(hào)），若萬用表表針有較大幅度的擺動(dòng)，則說明該運(yùn)算放大器完好；若萬用表表針不動(dòng)，則說明運(yùn)算放大器已損壞。

5、時(shí)基集成電路的檢測(cè)

時(shí)基集成電路內(nèi)含數(shù)字電路和模擬電路，用萬用表很難直接測(cè)出其好壞。測(cè)試電路由阻容元件、發(fā)光二極管LED、6V直流電源、電源開關(guān)S和8腳IC插座組成。將時(shí)基集成電路（例如NE555）插信IC插座后，按下電源開關(guān)S，若被測(cè)時(shí)基集成電路正常，則發(fā)光二極管LED將閃爍發(fā)光；若LED不亮或一直亮，則說明被測(cè)時(shí)基集成電路性能不良。

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