在高速電路設(shè)計領(lǐng)域,差分信號傳輸以其卓越的抗干擾能力、對 EMI 的有效抑制以及精準的時序定位,成為保障信號穩(wěn)定可靠傳輸?shù)年P(guān)鍵技術(shù)手段。隨著電子設(shè)備不斷朝著小型化、高性能化方向發(fā)展,PCB(Printed Circuit Board,印刷電路板)設(shè)計面臨著愈發(fā)嚴苛的挑戰(zhàn),其中差分對 AC Cap(交流耦合電容)阻抗不連續(xù)問題尤為突出,而挖地平面作為一種常用的解決策略,其相關(guān)探討具有重要的實際意義。
差分信號傳輸原理與優(yōu)勢
差分信號傳輸基于兩根信號線,通過傳輸極性相反、幅度相等的信號來承載信息。在接收端,通過對兩根信號線上信號的差值進行檢測,從而恢復(fù)原始信號。這種傳輸方式具有顯著優(yōu)勢。首先,其抗干擾能力極強,當外界存在噪聲干擾時,由于兩根差分走線之間緊密的耦合特性,噪聲幾乎會同時耦合到兩條線上。而接收端僅關(guān)注兩信號的差值,因此外界的共模噪聲能夠被完全抵消。其次,差分電路對諸如地彈等存在于電源和地平面上的噪音信號不敏感。再者,由于兩根信號的極性相反,它們對外輻射的電磁場可以相互抵消,耦合越緊密,泄放到外界的電磁能量就越少,從而能有效抑制 EMI。
AC Cap 在差分信號傳輸中的作用
在 PCB 板高速走線互連過程中,差分信號線常常需要串接 AC Cap。其核心作用在于隔離發(fā)送和接收端兩芯片的直流電壓差,防止因電壓差導(dǎo)致的短路問題,確保芯片的正常工作與電路的安全性。例如,在一些高速數(shù)據(jù)傳輸接口中,不同芯片的工作電壓可能存在差異,AC Cap 的存在能夠避免這些直流電壓相互影響,為差分信號的穩(wěn)定傳輸提供基礎(chǔ)條件。
阻抗不連續(xù)問題的產(chǎn)生及影響
盡管差分信號傳輸具有諸多優(yōu)勢,但在實際的 PCB 設(shè)計中,信號線路上串接的 AC 耦合電容和互連差分過孔卻成為了阻抗不連續(xù)點。當高頻信號在傳輸路徑中遇到這些不連續(xù)點時,會引發(fā)一系列嚴重問題。從信號完整性角度來看,過多的容性效應(yīng)會使該部分的特征阻抗小于差分走線的正常阻抗,導(dǎo)致信號在傳輸過程中產(chǎn)生反射。這種反射會使信號波形發(fā)生畸變,出現(xiàn)振鈴、過沖等現(xiàn)象,嚴重影響信號的質(zhì)量,可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)傳輸錯誤、系統(tǒng)性能下降甚至功能失效。從 EMI 角度分析,阻抗不連續(xù)會導(dǎo)致信號的能量無法順暢傳輸,部分能量會以電磁輻射的形式泄漏到周圍空間,增加了電磁干擾,影響周邊電路的正常工作,降低了整個系統(tǒng)的電磁兼容性。
挖地平面解決阻抗不連續(xù)問題的原理
為改善 AC 耦合電容和差分過孔帶來的阻抗不連續(xù)性問題,在耦合電容正下方對其相鄰參考層進行挖洞處理是一種常見的策略。其原理在于,通過減少電容正下方地平面的面積,可以降低電容與地平面之間的寄生電容。寄生電容的減小有助于提升該部分的阻抗,使其更接近差分走線的目標阻抗,從而減少因阻抗不連續(xù)引發(fā)的信號反射,改善信號的傳輸質(zhì)量。然而,挖地平面的尺寸并非越大越好。若挖洞尺寸比電容尺寸大很多,會導(dǎo)致特征阻抗提升過大,有可能超過信號傳輸路徑阻抗要求值的上限,同樣會對信號傳輸產(chǎn)生不利影響。因此,挖地平面尺寸的精準控制至關(guān)重要。一般來說,電容正下方相鄰參考層挖洞尺寸比電容 Pad 尺寸略大為宜,這樣能夠較好地控制此處的阻抗曲線波動性,確保信號在系統(tǒng)整個傳輸路徑上阻抗的一致性。
挖地平面的實施要點與注意事項
在實施挖地平面操作時,除了要精確控制挖洞尺寸,還需關(guān)注其他要點。一方面,要考慮與差分過孔的協(xié)同設(shè)計。縮小差分過孔 Pitch 間距(一般在 30mil - 35mil 之間),能夠進一步改善阻抗質(zhì)量,使仿真阻抗曲線波動幅度更小,更好地保證阻抗的一致性。另一方面,挖地平面的位置精度也不容忽視。若挖地平面位置出現(xiàn)偏差,可能無法有效降低寄生電容,甚至可能引入新的電磁干擾源。此外,在多層 PCB 設(shè)計中,還需綜合考慮挖地平面操作對其他層信號傳輸?shù)挠绊?,避免因局部?yōu)化而對整體系統(tǒng)性能產(chǎn)生負面影響。
結(jié)論
差分對 AC Cap 阻抗不連續(xù)問題是高速 PCB 設(shè)計中必須重視的關(guān)鍵問題。通過合理的挖地平面處理,能夠有效改善阻抗不連續(xù)性,提升信號完整性和系統(tǒng)的電磁兼容性。然而,在實施過程中,需要深入理解其原理,精準控制挖地平面的尺寸、位置以及與差分過孔等其他因素的協(xié)同設(shè)計,以確保在實際應(yīng)用中取得良好的效果。隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展,未來對于高速電路設(shè)計的要求將更加嚴格,對差分對 AC Cap 阻抗不連續(xù)等問題的研究也需持續(xù)深入,以推動 PCB 設(shè)計技術(shù)的不斷進步。