接觸電阻就是電流流過(guò)閉合的接觸點(diǎn)對(duì)時(shí)的電阻。這類測(cè)量是在諸如連接器、繼電器和開(kāi)關(guān)等元件上進(jìn)行的。接觸電阻一般非常小其范圍在微歐姆到幾個(gè)歐姆之間。根據(jù)器件的類型和應(yīng)用的情況，測(cè)量的方法可能會(huì)有所不同。ASTM的方法B539 “測(cè)量電氣連接的接觸電阻”和MIL-STD-1344的方法3002“低信號(hào)電平接觸電阻”是通常用于測(cè)量接觸電阻的兩種方法。通常，一些基本的原則都采用開(kāi)爾文四線法進(jìn)行接觸電阻的測(cè)量。

測(cè)量方法

圖4-42 說(shuō)明用來(lái)測(cè)試一個(gè)接點(diǎn)的接觸電阻的基本配置。使用具有四端測(cè)量能力的歐姆計(jì)，以避免在測(cè)量結(jié)果中計(jì)入引線電阻。將電流源的端子接到該接點(diǎn)對(duì)的兩端。取樣(Sense)端子則要連到距離該接點(diǎn)兩端電壓降最近的地方。其目的是避免在測(cè)量結(jié)果中計(jì)入測(cè)試引線和體積電阻(bulk resistance)產(chǎn)生的電壓降。體積電阻就是假定該接點(diǎn)為一塊具有相同幾何尺寸的金屬實(shí)體，而使其實(shí)際接觸區(qū)域的電阻為零時(shí)，整個(gè)接點(diǎn)所具有的電阻，設(shè)計(jì)成只有兩條引線的器件有的時(shí)候很難進(jìn)行四線連接。器件的形式?jīng)Q定如何對(duì)其進(jìn)行連接。一般，應(yīng)當(dāng)盡可能按照其正常使用的狀態(tài)來(lái)進(jìn)行測(cè)試。在樣品上放置電壓探頭時(shí)不應(yīng)當(dāng)使其對(duì)樣品的機(jī)械連接產(chǎn)生影響。例如，焊接探頭可能會(huì)使接點(diǎn)發(fā)生不希望的變化。然而，在某些情況下，焊接可能是不可避免的。被測(cè)接點(diǎn)上的每個(gè)連接點(diǎn)都可能產(chǎn)生熱電動(dòng)勢(shì)。然而，這種熱電動(dòng)勢(shì)可以用電流反向或偏置補(bǔ)償?shù)姆椒▉?lái)補(bǔ)償。

干電路(Dry Circuit)測(cè)試

通常，測(cè)試接點(diǎn)電阻的目的是確定接觸點(diǎn)氧化或其它表面薄膜積累是否增加了被測(cè)器件的電阻。即使在極短的時(shí)間內(nèi)器件兩端的電壓過(guò)高，也會(huì)破壞這種氧化層或薄膜，從而破壞測(cè)試的有效性。擊穿薄膜所需要的電壓電平通常在30mV到100mV的范圍內(nèi)。

在測(cè)試時(shí)流過(guò)接點(diǎn)的電流過(guò)大也能使接觸區(qū)域發(fā)生細(xì)微的物理變化。電流產(chǎn)生的熱量能夠使接觸點(diǎn)及其周?chē)鷧^(qū)域變軟或熔解。結(jié)果，接點(diǎn)面積增大并導(dǎo)致其電阻降低。

為了避免這類問(wèn)題，通常采用干電路的方法來(lái)進(jìn)行接點(diǎn)電阻測(cè)試。干電路就是將其電壓和電流限制到不能引起接觸結(jié)點(diǎn)的物理和電學(xué)狀態(tài)發(fā)生變化電平的電路。這就意味著其開(kāi)路電壓為20mV或更低，短路電流為100mA或更低。

由于所使用的測(cè)試電流很低，所以就需要非常靈敏的電壓表來(lái)測(cè)量這種通常在微伏范圍的電壓降。由于其它的測(cè)試方法可能會(huì)引起接點(diǎn)發(fā)生物理或電學(xué)的變化，所以對(duì)器件的干電路測(cè)量應(yīng)當(dāng)在進(jìn)行其它的電學(xué)測(cè)試之前進(jìn)行。

使用微歐姆計(jì)或數(shù)字多用表

圖4-42示出使用Keithley 580型微歐姆計(jì)、2010型數(shù)字多用表或2750型數(shù)字多用表數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)進(jìn)行四線接觸電阻測(cè)量的基本配置情況。這些儀器能夠采用偏置補(bǔ)償模式自動(dòng)補(bǔ)償取樣電路中的熱電勢(shì)偏置，并且還具有內(nèi)置的干電路測(cè)量能力。對(duì)于大多數(shù)的應(yīng)用來(lái)說(shuō)，微歐姆計(jì)或數(shù)字多用表足以用來(lái)進(jìn)行接觸電阻的測(cè)量工作。如果短路電流或者被測(cè)電阻值比微歐姆計(jì)或數(shù)字多用表的技術(shù)指標(biāo)小得很多，則必須使用納伏表加精密電流源的組合來(lái)進(jìn)行。

使用納伏表和電流源

圖4-43示出使用Keithley 2182A型納伏表和2400系列數(shù)字源表儀器進(jìn)行接觸電阻測(cè)量的測(cè)試配置情況。

2400系列儀器強(qiáng)制電流流過(guò)接點(diǎn)，而納伏表則測(cè)量接點(diǎn)兩端產(chǎn)生的電壓降。為了進(jìn)行干電路測(cè)試，設(shè)置數(shù)字源表的鉗位電壓為20mV，這樣就把電路的開(kāi)路電壓鉗位到20mV。為了保證鉗位電壓只出現(xiàn)在接點(diǎn)兩端，而不是出現(xiàn)在測(cè)試引線的兩端，該數(shù)字源表采用四線模式。在使用較大的電流時(shí)，這一點(diǎn)特別重要。因?yàn)楹徒狱c(diǎn)兩端的電壓降相比，測(cè)試引線兩端的電壓降可能會(huì)比較大。

為了避免發(fā)生瞬變現(xiàn)象，一定要先將電流源關(guān)閉，然后再把接點(diǎn)接入測(cè)試夾具或?qū)⑵鋽嚅_(kāi)。將一個(gè)100Ω的電阻器直接跨接在電流源的輸出端，能夠進(jìn)一步降低瞬變現(xiàn)象。

可以使用電流反向法將熱電勢(shì)偏置降至最小。2182A的Delta模式與數(shù)字源表儀器配合可以自動(dòng)地實(shí)現(xiàn)這種技術(shù)。在這種模式下，2182A 自動(dòng)地觸發(fā)電流源改變極性，然后對(duì)每一種極性觸發(fā)測(cè)量一個(gè)讀數(shù)。接著，2182A顯示“經(jīng)過(guò)補(bǔ)償”的電壓值：

接點(diǎn)電阻則可計(jì)算如下：

其中：I = 測(cè)試電流的絕對(duì)值。