現(xiàn)在的社會的發(fā)離不開各種各樣的電子產(chǎn)品，西門子旗下業(yè)務(wù)Mentor 今日宣布推出一套全新的 Tessent? 軟件安全生態(tài)系統(tǒng)，即由 Mentor與其行業(yè)領(lǐng)先合作伙伴攜手提供的涵蓋最優(yōu)汽車 IC 測試解決方案的產(chǎn)品組合，該程序能夠幫助 IC 設(shè)計團隊滿足全球汽車行業(yè)日益嚴格的功能安全需求。

Tessent Safety 生態(tài)系統(tǒng)功能強大，能夠替代其他基于封閉、單片和單源模型的同類程序。Mentor 的IC測試功能安全保證的開放式生態(tài)系統(tǒng)方法使得芯片制造商可以將 Mentor 業(yè)界領(lǐng)先的 IC 測試技術(shù)與其它先進的解決方案相結(jié)合，從而構(gòu)建一套更加完整、性能更高的解決方案。

西門子旗下業(yè)務(wù)Mentor 的Tessent產(chǎn)品系列副總裁兼總經(jīng)理Brady Benware表示：“快速的系統(tǒng)內(nèi) IC 測試性能有助于縮短從故障檢測到片上安全機制啟動的時間。為提高 IC 測試性能，汽車 IC 的設(shè)計人員需要緊密結(jié)合包括 DFT 和非 DFT 技術(shù)在內(nèi)的所有片上安全機制，而這種方法正是 Mentor Tessent Safety 生態(tài)系統(tǒng)的基礎(chǔ)?！?

Mentor 推出 Tessent Safety 生態(tài)系統(tǒng)旨在與眾多行業(yè)領(lǐng)先的合作伙伴通力合作，實現(xiàn)快速擴展。該生態(tài)系統(tǒng)包括：

·Mentor 的業(yè)界領(lǐng)先的內(nèi)建自測試 (BIST) 技術(shù)，包括新型 Tessent LBIST with Observation Scan Technology (LBIST-OST) 解決方案，能夠大幅減少汽車 IC 中數(shù)字邏輯組件的系統(tǒng)內(nèi)監(jiān)控的運行時間。新的 Tessent LBIST-OST 解決方案能夠幫助客戶滿足嚴格的汽車功能安全需求，與傳統(tǒng)的LBIST 技術(shù)相比，可使系統(tǒng)內(nèi)測試時間縮減高達 10 倍。

·Tessent? MemoryBIST 具有全面的自動化流程，可提供 RTL 或門級的設(shè)計規(guī)則檢查、測試規(guī)劃、集成和驗證。Tessent MemoryBIST 具有分層架構(gòu)，因此可將 BIST 和自修復(fù)功能添加到單個內(nèi)核和頂層。

·Tessent? MissionMode 產(chǎn)品將自動化功能與片上 IP 組合在一起，讓用戶在車輛正常運行的過程中可以隨時對整個汽車電子系統(tǒng)中的半導(dǎo)體芯片進行測試和診斷。

·Tessent? DefectSim晶體管級缺陷仿真器，用于模擬、混合信號 (AMS) 和非掃描數(shù)字電路。Tessent DefectSim可測量缺陷覆蓋率和容差，是高產(chǎn)量和高可靠性 IC 的理想選擇。

·Mentor 參與了 Arm® 功能安全合作伙伴計劃 (AFSPP)。Mentor Tessent® Safety 生態(tài)系統(tǒng)利用了 Arm Safety Ready IP 功能，例如 Cortex®-R52 處理器，將實時執(zhí)行與任何 Arm 處理器中最高水平的集成功能安全能力相結(jié)合，采用先進的超級監(jiān)控程序技術(shù)來簡化軟件集成，并通過強大的離功能來保護安全關(guān)鍵代碼。

·Mentor 的汽車級自動測試向量生成 (ATPG) 技術(shù)，可檢測出通常被傳統(tǒng)測試向量和故障模型遺漏的晶體管級和互連級缺陷。

·與 Mentor 的 Austemper SafetyScope 和 KaleidoScope 產(chǎn)品緊密關(guān)聯(lián)，這些產(chǎn)品添加了最先進的安全分析、自動校正和故障仿真技術(shù)，可解決隨機硬件故障。Austemper 技術(shù)可以分析設(shè)計人員 RTL 中的故障和漏洞，并通過智能的故障注入來幫助安全機制有計劃地對覆蓋的故障做出反應(yīng)。通過并行化和分布式操作方法，專有加速算法可實現(xiàn)比標準門級故障注入技術(shù)高出許多數(shù)量級的速度。

瑞薩電子(Renesas) 在早期就采用了 Mentor Tessent Safety 生態(tài)系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù)，在其設(shè)計一款新型汽車處理器時評估了 Mentor 最新推出的 Tessent LBIST-OST 解決方案。

“利用Tessent LBIST-OST 解決方案中的 Observation Scan 技術(shù)，我們能夠?qū)⑾到y(tǒng)內(nèi)LBIST 的測試時間縮減 5 倍，從而實現(xiàn)了更快的覆蓋率提升，”Renesas Electronics Corporation 物聯(lián)網(wǎng)和基礎(chǔ)設(shè)施事業(yè)部共享研發(fā) EDA 業(yè)務(wù)部數(shù)字設(shè)計技術(shù)部門總監(jiān) Hideyuki Okabe 表示，“這使我們能夠在將 LBIST 用作安全機制的同時縮短容錯時間間隔 (FTTI)，并提高檢測到汽車產(chǎn)品新缺陷時的安全響應(yīng)。我們期望將這項技術(shù)繼續(xù)應(yīng)用在我們的汽車產(chǎn)品之中?！?

Tessent Safety 生態(tài)系統(tǒng)中的 Mentor的 Tessent 產(chǎn)品是 Mentor Safe 程序的一部分。Mentor Safe 程序是業(yè)內(nèi)應(yīng)用范圍最廣且最完善的 ISO 26262 驗證方案之一。以上就是Mentor 推出 Tessent Safety 生態(tài)系統(tǒng)以滿足自動駕駛時代的 IC 測試要求。