近日，華為申請(qǐng)的一項(xiàng)專利技術(shù)曝光，它的全稱為“一種終端及Type C接口防腐蝕方法”。對(duì)于很多平時(shí)喜歡將手機(jī)帶到泳池、浴室等場(chǎng)所的用戶們而言，這個(gè)專利可能會(huì)大大提升手機(jī)的使用壽命。

雖然目前的智能手機(jī)很多已經(jīng)支持了防水，但手機(jī)的充電接口還是會(huì)裸露在外。在我們的日常使用中，難免會(huì)出現(xiàn)進(jìn)水、腐蝕接觸點(diǎn)的情況。久而久之，手機(jī)的充電接口就會(huì)損壞，導(dǎo)致無(wú)法充電和傳輸數(shù)據(jù)。

華為此次的專利，就是為了解決這一問(wèn)題。根據(jù)專利文件的描述來(lái)看，該技術(shù)是通過(guò)運(yùn)動(dòng)傳感器檢測(cè)手機(jī)的使用狀態(tài)，在靜止時(shí)將第一Type C接口的CC引腳配置為低電平模式。

這樣的好處是，可以避免讓Type C接口的CC引腳一直處于高電平狀態(tài)，進(jìn)而也就降低了化學(xué)腐蝕的幾率。

不過(guò)雖然申請(qǐng)了專利，但是還不知道何時(shí)才能應(yīng)用在新機(jī)之上，讓我們靜候佳音吧!