[導(dǎo)讀]芯片示例-可見下圖，芯片主要由三大部分構(gòu)成.1.與電路板和其他芯片的接口-IOpad2.存放程序的空間-ram和rom3.搭建邏輯電路的基本組件–標(biāo)準(zhǔn)邏輯單元我們DFT工程師所有的工作的目的只有一個-設(shè)計和插入數(shù)字電路，測試整個芯片的制造質(zhì)量，篩選出沒有制造缺陷的芯片。針對芯片的...
芯片示例-可見下圖，芯片主要由三大部分構(gòu)成.
1.與電路板和其他芯片的接口-IO pad
2.存放程序的空間-ram和rom
3.搭建邏輯電路的基本組件 –標(biāo)準(zhǔn)邏輯單元
我們DFT工程師所有的工作的目的只有一個-設(shè)計和插入數(shù)字電路，測試整個芯片的制造質(zhì)量，篩選出沒有制造缺陷的芯片。
針對芯片的三大部分，我們DFT工程師手里有三大法寶：
一、BSCAN技術(shù)-- 測試IO pad，主要實現(xiàn)工具是Mentor-BSDArchit,sysnopsy-BSD Compiler
二、MBIST技術(shù)-- 測試mem, 主要實現(xiàn)工具是Mentor的MBISTArchitect 和 Tessent mbist
三、ATPG 技術(shù)-- 測試std-logic, 主要實現(xiàn)工具是：產(chǎn)生ATPG使用Mentor的 TestKompress 和synopsys TetraMAX；插入scan chain主要使用synopsys 的DFT compiler
以上三類工具licenses較貴，特別是ATPG工具，很多IC公司都只有幾個,經(jīng)常run case時出現(xiàn)拿不到license的情況,所以大家只能“且用且珍惜”了。
以下對工具的使用原則做一些介紹
ATPG工具
Insert scan:
1.雖然教科書會介紹很多種DFT DRC,但是在實際設(shè)計中95%的工作在修復(fù)scan_clk和scan_reset的DRC violation
2.修復(fù)clk/reset violation 的方法主要是用DC插入mux ,目的是使在scan_mode下clk和reset被芯片scan_clk和scan_reset pad控制。同時，scan_clk和scan_reset pad會用于ATE給芯片施加激勵
3.插入scan時，DFT Compiler必須修復(fù)的DRC violations 類別為D1/D2/D3/D9
4.做全片級的DFT設(shè)計時，需要在scan_in,scan_out,scan_reset,scan_clk的IO pad 的OEN/IE/REN端插入mux,控制pad的輸入和輸出方向
Atpg patterns產(chǎn)生和仿真
1.所有的模擬模塊，例如PLL,POR等，一般設(shè)置為black-box,無法用ATPG測試其內(nèi)部
2.芯片clk,power,reset的控制寄存器，一般不會放到scan_chain上，以免在測試時由于寄存器的動作，改變芯片工作狀態(tài)
3.考慮power domain的開關(guān)，一般必須保證在scan測試時，所有power domain都打開，每個數(shù)字標(biāo)準(zhǔn)單元都能測試到
4.如果有模擬的IO pad,一般必須在產(chǎn)生pattern時mask掉，因為他們不是數(shù)字的，ATPG工具無法控制它們
5.業(yè)界一般使用DC插入OCC (on chip clocking)模塊，實現(xiàn)at-speed scan測試電路
MBIST工具
目前使用較多的是MBISTArchi,但是Tessent MBIST以后會成為主流。原因是Mentor公司2013年已經(jīng)宣布MBISTArchi將不再提供技術(shù)支持，而且Tessent MBIST技術(shù)更為先進(jìn)。
1.所有的MBIST設(shè)計應(yīng)該考慮diagnose,加入diagnose電路，方便診斷mem故障，這會在芯片量產(chǎn)時大大提高成品率。
2.由于ARM與Mentor有合作，Coretex-A9以上的ARM核具有share-bus接口,可以很好支持Tessent Mbist，就能夠?qū)崿F(xiàn)ARM內(nèi)核的mem的高速測試和訪問,也提高了ARM CPU的性能。
3.Tessent MBIST會使用JTAP,只占用TCK/TMS/TDO/TDI/TRST五個pad,比MBISTArich使用更少的pad資源
BSCAN 工具
1.所有的模擬IO,一般無法用bscan來測試，不要加上bscan_cells
2.所有需要測試的數(shù)字pad的OEN/IE/REN 在bscan_mode下，需要插mux來控制
3.所有需要測試的數(shù)字pad的PU/PD 在bscan_mode下，一般需要插mux來控制,保證在bscan_mode下，PU和PD=0,才能使bscan HIGHZ測試仿真通過
4.所有JTAG的強制要求指令如IDCODE,EXIST必須在bscan電路中實現(xiàn)，特別是BYPASS
問題
1)如何用可測性設(shè)計ATPG工具實現(xiàn)at-speed測試？
2)如何使用BSCAN工具中實現(xiàn)PLL測試？
3)使用Tessent MBIST實現(xiàn)at-speed測試？
4)BSCAN工具會在pad的那些端口上連上bscan cell?
關(guān)于MBIST/SCAN/BSCAN的技術(shù)介紹，可以參看《數(shù)字系統(tǒng)測試和可測試性設(shè)計》一書，書中有更為詳細(xì)和系統(tǒng)的介紹。
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8月28日消息，在2024中國國際大數(shù)據(jù)產(chǎn)業(yè)博覽會上，華為常務(wù)董事、華為云CEO張平安發(fā)表演講稱，數(shù)字世界的話語權(quán)最終是由生態(tài)的繁榮決定的。
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華為
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VI
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8月29日消息，近日，華為董事、質(zhì)量流程IT總裁陶景文在中國國際大數(shù)據(jù)產(chǎn)業(yè)博覽會開幕式上表示，中國科技企業(yè)不應(yīng)怕美國對其封鎖。
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BSP
NI
SE
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INDEX
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TE
8月26日消息，華為公司最近正式啟動了“華為AI百校計劃”，向國內(nèi)高校提供基于昇騰云服務(wù)的AI計算資源。
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