51內(nèi)核單片機管理NAND FLASH的方法
引言
閃速存儲器(FlashMemory)是一種不揮發(fā)性Non-Volatile內(nèi)存,在沒有電流供應(yīng)的條件下也能夠長久地保持數(shù)據(jù),其存儲特性相當于硬盤,同時其還具有低功耗、密度高、體積小等優(yōu)點,這些特性正使得閃存成為各類便攜型數(shù)字設(shè)備的存儲介質(zhì)的基礎(chǔ),而超大容量的閃存芯片更是受到了廣大開發(fā)者的青睞。NOR和NAND是現(xiàn)在市場上兩種主要的非易失閃存技術(shù),NORFLASH帶有SRAM接口,有足夠的地址引腳來尋址,可以很容易地存取其內(nèi)部的每一個字節(jié);NAND器件使用復(fù)雜的I/O口來串行地存取數(shù)據(jù),各個產(chǎn)品或廠商的方法可能各不相同,8個引腳用來傳送控制、地址和數(shù)據(jù)信息。51內(nèi)核的單片機因受尋址能力的限制,在進行大容量存儲應(yīng)用時,都會選擇NANDFLASH來作為存儲器件。
1K9F2G08UXAFlashMemory簡介
K9F2G08UXA是韓國三星公司生產(chǎn)的256MX8b,并帶有8MX8位后備區(qū)域的NAND(“與非”)閃速存儲器。NANDFLASH結(jié)構(gòu)具有快速重寫、高存儲容量、回寫速度快以及芯片面積小等特點,因此是高數(shù)據(jù)存儲密度的理想解決方案。NANDFLASH型的單元排列是串行的,存儲單元被分成頁,由頁組成塊。根據(jù)不同容量,塊和頁的大小有所不同,而組成塊的頁的數(shù)量也會不同。應(yīng)用NAND的困難在于FLASH的管理和需要特殊的系統(tǒng)接口。K9F2G08UXA就是具有這些特點的FLASHMemory,它的典型編程時間為200us/頁(2048B/頁),擦除時間為1.5ms/塊(64頁/塊=128KB/塊)。頁順序讀取時間最小為25ns,隨機讀取時間最小為25us;其地址復(fù)用8個I/O引腳,作為地址輸入、輸出口和命令輸入;片內(nèi)的寫控制器自動完成編程/擦除功能,包括所需的脈沖循環(huán)重復(fù)、內(nèi)部校驗及數(shù)據(jù)的加注。
2硬件原理
2.1K9F2G08UXA的結(jié)構(gòu)特點
K9F2G08UXA是由131072行X2112歹U組成的2112Mb存儲器,其中64Mb位的后備區(qū)域的列地址范圍是2048?2111。2112B的數(shù)據(jù)寄存器連接著存儲器單元陣列,在頁讀和頁編程期間提供了I/O緩沖和內(nèi)存之間的傳送。存儲器陣列由以串行方式連接成NAND結(jié)構(gòu)的32個單元構(gòu)成,每塊中有1081344個這樣的結(jié)構(gòu)。這些單元均駐留在不同的頁上。塊是由2個NAND結(jié)構(gòu)形成的64頁組成,共有2048個分立的可擦寫的128KB塊。
閃存芯片的主要命令操作有讀、編程和擦除,其中讀、編程操作以頁為基礎(chǔ),擦除必須以塊為單位進行,且不允許逐位擦除。FLASH操作大都需要2個總線周期,如塊擦除需要2個總線周期,一個周期是擦除建立,另一個周期是在塊地址裝入后執(zhí)行擦除命令。256MB的物理空間需要29位地址線,因此需要5個周期的字節(jié)尋址,其順序是:低位列地址、高位列地址、低位行地址、中位行地址、高位行地址。頁讀和頁編程在命令輸入后都跟著同樣的5個地址周期。由于擦除是以塊(1塊有64頁)為單位的,所以在塊擦除操作中僅需要3個行地址周期。以上的操作都是通過寫特殊的命令到命令寄存器中。特殊命令集定義如表l所列。
K9F2G08UXA芯片內(nèi)有1個狀態(tài)寄存器,命令70h就是讀這個狀態(tài)寄存器的。通過它可以查詢編程或擦除操作是否完成,以及查看這些操作完成的正確與否。在寫70h命令到命令寄存器中后,且在/CE或/RE的下降沿時,狀態(tài)寄存器的內(nèi)容就可以在1個讀周期內(nèi)輸出到I/O引腳上。讀狀態(tài)寄存器的定義如表2所列。
2.2K9F2G08UXA各引腳功能
K9F2G08UXA的各引腳功能如下:
I/O0~I/O7:用于輸入命令、地址和數(shù)據(jù)。在讀操作時輸出數(shù)據(jù),當未選中芯片或輸出禁止時浮空為高阻。
CLE:地址鎖存使能。為高時,命令在/WE的上升沿通過I/O口鎖存在命令寄存器中。
ALE:地址鎖存使能。當為高時,地址在/WE的上升沿被鎖存在地址寄存器中。
/CE:芯片使能。在讀操作期間,/CE為高時芯片返回standby模式。但是當在編程或擦除時處于忙狀態(tài)時,貝壞理睬/CE,芯片也不返回standby模式。
/RE:讀使能,低電平有效。有效時把數(shù)據(jù)驅(qū)動到I/O總線上,在/RE的下降沿后tREA處數(shù)據(jù)有效,并使內(nèi)部列地址計數(shù)器加1。
/WE:寫使能,低電平有效。命令、地址和數(shù)據(jù)均是在/WE上升沿鎖存。
/WP:寫保護,低電平有效。在上電時,它提供寫擦除保護,有效時,內(nèi)部高電壓產(chǎn)生器被復(fù)位。
R/B:準備好/忙輸出,反映芯片的操作狀態(tài)。為低時,表示正在進行編程、擦除或隨機讀操作,完成后返回高狀態(tài)。若是開漏輸出,當未選中芯片或輸出禁止時不浮空為高阻態(tài)。2.3K9F2G08UXA與單片機的接口電路
由于K9F2GO8UXA的I/O引腳為8位,因此可以很方便地選取51系列8位單片機。因51系列8位單片機的工作電壓為5V,圖1中用VCC表示,K9F2GO8UXA閃存芯片的工作電壓為3.3V,所以單片機與閃存間不能直接相連,中間必須增加電平轉(zhuǎn)換芯片進行隔離,如圖1中74LVC4245。將K9F2GO8UXA的8位I/O引腳通過電平轉(zhuǎn)換芯片與單片機的數(shù)據(jù)總線端口D0~D8位相連。K9F2GO8UXA的讀使能(/RE)、寫使能(/WE)則分別通過電平轉(zhuǎn)換芯片與單片機的P3.6(/RD)和P3.5(/WE)相連,其他控制信號如CLE、/CE、R/B等則通過電平轉(zhuǎn)換芯片與單片機的P1口相連,并通過軟件編程來完成對這些信號的控制。閃速存儲芯片與單片機的連接電路如圖1所示。
3軟件編程
3.1讀操作
閃速存儲器上電后就處于讀存儲單元狀態(tài),K9F2GO8UXA芯片默認為讀模式,也可以直接寫00H到命令寄存器中完成該存儲單元操作。讀操作有3種類型:隨機讀、串行頁讀和連續(xù)行讀。當改變頁地址時,使能隨機讀模式。被選中的頁在10us內(nèi)就傳送到數(shù)據(jù)寄存器中,系統(tǒng)控制器可以通過R/B引腳監(jiān)測數(shù)據(jù)傳送的完成與否。一旦頁中的數(shù)據(jù)被裝入到寄存器中,數(shù)據(jù)就可以在60ns的周期內(nèi),在連續(xù)的/RE脈沖讀出。讀操作流程如圖2所示。
3.2頁編程
編程操作以頁為單位,但它允許在1個頁編程周期內(nèi)進行1個字節(jié)或連續(xù)的直到2112字節(jié)的多分頁編程。在沒有阻礙擦除操作的同一頁內(nèi),連續(xù)分頁編程操作的個數(shù)主陣列不能超過2個,后備陣列不能超過3個。數(shù)據(jù)裝入階段開始于數(shù)據(jù)輸入命令(80h),接著是4個周期的地址輸入和數(shù)據(jù)裝入,非編程字節(jié)不需要裝入。一旦編程操作開始,且/RE和/WE為低時,就可以讀狀態(tài)寄存器中的狀態(tài)位(I/O6)。系統(tǒng)控制器也可以通過R/B引腳輸出來監(jiān)測編程操作周期的完成與否。在編程過程中只有讀狀態(tài)命令和復(fù)位命令有效。頁編程操作完成后,可以查看狀態(tài)位(I/O0),為“0”表明編程成功;為“1”則編程出錯。頁編程流程如圖3所示。
3.3塊擦除
任何FLASH器件的寫入操作都只能在空的或已擦除的單元內(nèi)進行。所以大多數(shù)情況下,當新數(shù)據(jù)寫入一個扇區(qū)時,FLASH都必須進行擦除。擦除操作以塊為單位,流程如下:首先啟動塊擦除建立命令(60h);接著裝入需要3個周期完成的塊地址,其中只有A18-A28地址有效,而忽略A0~A17地址;最后是擦除確認命令(D0h),至此完成內(nèi)部擦除過程。在輸入擦除確認命令后的/WE的上升沿,內(nèi)部寫控制器進行擦除操作和擦除校驗。當擦除操作完成后可以校驗寫狀態(tài)位(1/00)。
3.4程序?qū)嵗?
下面的程序是用KeilC51編寫的讀操作程序。其他操作如塊擦除、頁編程均可參照文中介紹的流程圖進行編程。但應(yīng)注意根據(jù)閃速存儲的時間參數(shù)來調(diào)整這些操作的時間。
#include
#include
#include
#include
#include
#include
#include
#defineFLASH_BLOCK_ERASE_1ST0x60
#defineFLASH_BLOCK_ERASE_2ND0xD0
unsignedcharbdataoutregister_2;
sbitflash_ale
sbitflash_wp
voidflash_read_commond(void);//FLASH進入讀模
式(輸入指令)
voidflash_read_address(void);//FLASH進入讀模式
(輸入地址)
voidflash_write_commond(void);//FLASH進入寫模式
(輸入指令)
voidflash_write_address(void);//FLASH進入寫模式
(輸入地址)
voidflash_data_in(void);//FLASH進入數(shù)據(jù)輸入模式
voidflash_data_out(void);//FLASH進入數(shù)據(jù)輸出模式voidflash_inefficacy(void);//FLASH進入寫保護狀態(tài)voidflash_write_data_in(unsignedchardata_in);//向FLASH中寫入數(shù)據(jù)
unsignedcharflash_read_data_out(void);//從
FLASH中讀出數(shù)據(jù)
voidflash_setup_address_5cycle(void);//設(shè)置5
周期地址
voidflash_setup_block_address_3cycle(void);//設(shè)置
3周期地址(塊地址)
voidflash_block_erase_handle(unsignedinttemp_int);//塊擦除操作
//FLASH塊擦除子函數(shù)
//入口參數(shù):unsignedinttemp_int塊地址
voidflash_block_erase_handle(unsignedinttemp_int){flash_page_address=0;flash_block_address=temp_int;//要擦除塊的地址flash_write_commond();〃FLASH進入
寫模式(輸入指令)
flash_write_data_in(FLASH_BLOCK_ERASE_1ST);//輸入0x60h
flash_write_address();//FLASH進入寫
模式(輸入地址)
flash_setup_block_address_3cycle();//輸入要
擦除塊的地址
flash_write_commond();〃FLASH進入
寫模式(輸入指令)
lash_write_data_in(FLASH_BLOCK_
ERASE_2ND);
//輸入0xD0h
while(!RBOUT);
//等待擦除完成
flash_inefficacy();
//FLASH進入寫保護狀態(tài)
}
4結(jié)語
本文介紹一種51內(nèi)核管理NANDFLASH的方法,并給出基于該方法硬件實現(xiàn)和C語言源代碼,該硬件電路和軟件代碼已經(jīng)在筆者參與研制的總線式消防電話系統(tǒng)中得到成功應(yīng)用,實現(xiàn)了對語音信息的長時間存儲功能,工作穩(wěn)定、可靠。
20211118_619633f451b34__51內(nèi)核單片機管理NANDFLASH的方法