lcd顯示器件在中國已有二十多年的發(fā)展歷程，已經(jīng)從最初的以數(shù)字顯示為主轉(zhuǎn)變?yōu)橐渣c陣字符、圖形顯示為主。lcd顯示設備以其低電壓驅(qū)動、微小功耗、能夠與cmos電路和lsi直接匹配、具有極薄的扁平結(jié)構(gòu)、可以在極亮的環(huán)境光下使用、工藝簡單等等特點成為了極有發(fā)展前景的顯示器件。lcd顯示器件種類繁多、發(fā)展迅速，從種類到原理、從結(jié)構(gòu)到效應、從使用方式到應用范圍差異很大，從測試原理上來說也就會有一些不同，目前比較常用的是stn和tft的lcd顯示器件。由于色彩表現(xiàn)能力、反應/刷新時間、視角等因素的限制，stn已經(jīng)退出了大屏幕lcd器件的市場。不過由于彩屏手機、pda市場的拓廣，stn器件憑借其結(jié)構(gòu)簡單，技術要求不高，而且投資成本低等特點目前依然占有相當?shù)氖袌龇蓊~。tft型的lcd器件通過晶體管可以迅速地控制每個單元，由于各單元之間的電干擾很小，所以在使用大電流驅(qū)動時也不會有虛影和拖尾現(xiàn)象。較大的電流能提供更高的對比度、更銳利和更明亮的圖像。為了使lcd設備工作，必須用到lcd driver芯片，圖1中所示的是比較常見的lcd 器件的工作原理，當然也有許多廠商將這些部件集合在一起，稱為lcd顯示模塊，但在生產(chǎn)設計時lcd driver芯片依然是一個獨立的部件。并且它的模擬輸出直接驅(qū)動顯示面板，因而lcd driver ic的品質(zhì)是液晶顯示效果的決定性因素，因此出廠前必須經(jīng)過嚴格的測試。由于這類ic具有大量高密度模擬輸出引腳、低電壓高頻輸入信號等特征，對于測試環(huán)境也是一個不小的考驗，而且這種ic發(fā)展迅速，測試環(huán)境必須有一定的裕量，只有選擇合適高效的測試系統(tǒng)才能夠節(jié)約成本，提高生產(chǎn)效率。由于stn并不是發(fā)展的趨勢和主流，后文中我們將主要針對tft的lcd driver ic來談談此類ic的測試方法。為了驅(qū)動tft的液晶顯示器需要使用gate driver 和source driver兩種driver ic，其中source driver負責提供列上各色素點的驅(qū)動電壓，而gate driver控制每一行像素的選通狀態(tài)。tft driver ic的難點主要是在于source driver ic的設計開發(fā)和測試。lcd driver的測試方法和普通的ic一樣，lcd driver ic在生產(chǎn)過程中同樣需要兩次以上的測試，只不過由于其自身的特點而具有一些特殊的測試項目。 一般來說，lcd driver ic會執(zhí)行以下的一些測試項目：（1） 參考電壓源的動態(tài)電流測試（芯片處于運行狀態(tài)）主要是測試參考電壓源引腳在芯片運作時的電流消耗，由于只是作為d/a轉(zhuǎn)換時的基準電源，因此這個電流通常應當不大。 （2） 功能測試用于檢驗ic能否完成應當具備的功能，例如：接受rgb輸入并輸出合適的驅(qū)動電壓，選通進入特定的工作模式等。和一般邏輯ic測試的方法一樣，需要使用pattern程序為ic提供輸入信號，并且檢驗引腳的輸出是否和期待值相符和。（3） dc參數(shù)測試（vsim / isvm）測定ic的一些具體的電流、電壓參數(shù)。例如：各引腳的漏電流、輸入/輸出的電壓電流等等，通常需要使用dc（直流參數(shù)測試部件）或hvdc（高壓直流參數(shù)測試部件）進行測試。（4） contact測試（聯(lián)接完好性測試）和一般ic的測試步驟一樣，這是芯片測試時首先要進行的測試項目，電源引腳、參考電壓源引腳、rgb輸入和控制信號引腳、以及l(fā)cd輸出引腳都需要分別進行contact測試。contact測試包括短路（short）和斷路（open）測試兩種。測試的方法多種多樣，通常都是借助于ic內(nèi)部的反偏保護二極管進行測試的。（5） 動態(tài)電源電流和平均電源電流測試用于衡量ic的平均功耗和瞬時功耗，一般情況下tft driver ic的功耗比stn的driver ic 要大一些。另外，許多l(xiāng)cd 器件都有standby（待機）模式和節(jié)能模式，這時就需要使用pattern程序為ic輸入特定的信號選通進入指定的模式，然后再進行電流的測試。（6） 色階測試這是彩色（灰度）lcd driver ic最重要的測試項目，由液晶器件的顯示原理可知，lcd顯示器件的色彩表現(xiàn)是通過向lcd面板加不同的電壓來實現(xiàn)的，因此測試的方法就是在向ic輸入不同rgb信號組合的同時檢驗ic 驅(qū)動引腳的輸出電壓是否是在預期的范圍內(nèi)來完成測試的，如圖2所示。