Excelitas Technologies宣布SiPM技術取得突破性性能成果
21ic訊 Excelitas Technologies日前宣布,該公司在對固態(tài)硅光電倍增管(SiPM)技術進行開發(fā)和實用化過程中,取得了破紀錄的世界級高光子探測效率(PDE)與低暗計數(shù)的性能成果。固態(tài)硅光電倍增管是Excelitas針對醫(yī)療與分析儀器市場的微光探測(L3D)技術與產(chǎn)品套件的一大重要組成部分。
該測試成果已經(jīng)在“CERN Industry-Academia Matching Event on SiPM and Related Technologies”(歐洲核電子中心固態(tài)硅光電倍增管及相關技術產(chǎn)學研對接活動)上發(fā)表并公布。此項活動于2011年2月16日至17日在瑞士日內(nèi)瓦舉行,共有120名從事尖端光子探測工作或研究的產(chǎn)業(yè)界與學術界專家參加。
2009年,該公司與Max Planck Society(德國馬普學會)的技術轉讓機構Max Planck Innovation就其超高速、低串擾的固態(tài)硅光電倍增管技術簽訂獨家協(xié)議。硅光電倍增管的光子探測效率高,響應時間短,功耗低,是熒光與分子成像等多種微光應用的理想之選。
Excelitas全球探測業(yè)務部高級副總裁兼總經(jīng)理Michael Ersoni表示:“Excelitas非常高興能夠展示固態(tài)硅光電倍增管技術的突破性技術成果。我們非常高興能夠發(fā)布這項目前最先進的成果,對人們對在真實實驗狀況下測試與評估Excelitas硅光電倍增管技術所表現(xiàn)出的濃厚興趣感到非常欣慰。”
Ersoni先生還補充:“Excelitas堅定不移地致力于實現(xiàn)其微光探測產(chǎn)品與技術的快速增長,以滿足生命科學、臨床診斷以及分析儀器領域最先進應用的大量需求。”
3月13日至18日,Pittcon 2011(2011年美國分析化學和光譜應用會議暨展覽會)將在亞特蘭大喬治亞世界會議中心(Georgia World Congress Center)舉行。屆時Excelitas Technologies將在5060號展位展示專為分析儀器與生命科學市場量身定制的光發(fā)射及微光探測解決方案。