安捷倫科技公司宣布，其 Medalist i3070系列5 在線(xiàn)測(cè)試（ICT）解決方案在四月底舉行的Nepcon上海2010展會(huì)上囊括兩項(xiàng)主要的科技獎(jiǎng)。獎(jiǎng)項(xiàng)證明在今天成熟SMT制造環(huán)境下該解決方案在改進(jìn)產(chǎn)品質(zhì)量上的創(chuàng)新和可靠性。
i3070 系列5 分別于 4 月 20日和 21 日，在 Nepcon 上海展會(huì)上榮獲測(cè)試門(mén)類(lèi)的第四屆 SMT China 遠(yuǎn)見(jiàn)獎(jiǎng)和 2010 EM Asia 創(chuàng)新獎(jiǎng)。
此外，i3070 系列 5 還曾獲得 2009 年 EDN 創(chuàng)新獎(jiǎng)，并入圍測(cè)試和測(cè)量世界雜志的 2010 年最佳測(cè)試產(chǎn)品獎(jiǎng)。
安捷倫測(cè)量系統(tǒng)部營(yíng)銷(xiāo)總監(jiān) NK Chari 說(shuō)：“我們榮幸地同時(shí)獲得SMTChina和EM Asia的創(chuàng)新獎(jiǎng)，我們要感謝不僅是亞洲、而且是全世界選擇安捷倫產(chǎn)品的客戶(hù)?？蛻?hù)對(duì)電路板測(cè)試的需要，我們對(duì)未來(lái)挑戰(zhàn)的參與和創(chuàng)新，這兩者的良性互動(dòng)推動(dòng)著在線(xiàn)測(cè)試領(lǐng)域的持續(xù)技術(shù)進(jìn)步。”
i3070系列5是安捷倫公司的最新在線(xiàn)測(cè)試儀。創(chuàng)新包括增加更快測(cè)試吞吐率等特性保持高兼容性的能力。新的 Agilent 多用卡 允許用戶(hù)增加通過(guò)插入電路的自定義功能最大化i3070系列5的能力。系統(tǒng)還提供更廣泛和更靈活的電源管理能力，以及為仍在使用老 Agilent 3070和 Medalist i3070在線(xiàn)測(cè)試儀的用戶(hù)提供可升級(jí)的路徑。 0 0