ASE Test選擇惠瑞捷V93000 Port Scale RF進(jìn)行復(fù)雜RF-SOC測(cè)試
ASE Test首席運(yùn)營(yíng)官Tien Wu表示:“為繼續(xù)向客戶(hù)提供最好的測(cè)試服務(wù)及利用最新技術(shù),我們購(gòu)買(mǎi)了最優(yōu)質(zhì)的測(cè)試解決方案。我們的客戶(hù)已經(jīng)采用V93000 Port Scale RF測(cè)試最新、最先進(jìn)的手機(jī)芯片。這是我們使用Port Scale RF在生產(chǎn)中測(cè)試的第一個(gè)器件,我們對(duì)其性能和測(cè)試結(jié)果質(zhì)量非常滿(mǎn)意?!?
惠瑞捷半導(dǎo)體科技有限公司銷(xiāo)售、服務(wù)和支持副總裁Pascal Ronde表示:“對(duì)于能夠進(jìn)一步擴(kuò)展與ASE Test的合作關(guān)系,我們感到非常高興。現(xiàn)在,ASE Test將能夠?yàn)榭蛻?hù)提供包括最新的3G和4G技術(shù)在內(nèi)的全系列復(fù)雜RF-SoCs和RF-SiPs測(cè)試。”