任何產(chǎn)品只要使用公共電網(wǎng)或帶有電子電路，都必須滿足 EMC ( 電磁兼容性 ) 要求。而在EMC中， EMI的問(wèn)題始終是工程師關(guān)心的話題。因?yàn)镋MI的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試只能知道產(chǎn)品符不符合EMI的認(rèn)證要求。一旦不符合要求，它無(wú)法提供超標(biāo)的輻射源的位置和傳播途徑，這樣工程師就無(wú)從下手做整改。

EMI輻射近場(chǎng)測(cè)試是一種相對(duì)量測(cè)試，它可以把被測(cè)件的測(cè)試結(jié)果與基準(zhǔn)件的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比較，以預(yù)測(cè)被測(cè)件通過(guò)一致性測(cè)試的可能性，并且通過(guò)探頭的檢測(cè)能快速精準(zhǔn)的告訴工程師，嚴(yán)重的輻射問(wèn)題到底是來(lái)自于 USB、LAN 之類的通信接口，還是來(lái)自殼體的縫隙，或來(lái)自連接的電纜乃至電源線，幫助工程師查找和定位輻射源位置和傳播路徑，及評(píng)估整改后的效果。

因此，近日對(duì)外開放的「世強(qiáng)&Keysight」開放實(shí)驗(yàn)室也針對(duì)EMI預(yù)兼容(輻射)近場(chǎng)測(cè)量提供了N9000B+N6141C+近場(chǎng)探頭，幫助工程師對(duì)你設(shè)計(jì)執(zhí)行預(yù)兼容測(cè)量和診斷評(píng)測(cè)。

據(jù)悉，該實(shí)驗(yàn)室可提供IoT物聯(lián)網(wǎng)射頻性能測(cè)試方案、EMI預(yù)兼容(輻射)近場(chǎng)測(cè)量方案、低功耗測(cè)量方案、無(wú)線充電傳輸效率測(cè)量方案、材料+LCR參數(shù)測(cè)量方案五大方案幫企業(yè)解決測(cè)試場(chǎng)地、資金、技術(shù)支持的等問(wèn)題，能有效縮短研發(fā)時(shí)間。

并且該實(shí)驗(yàn)室對(duì)所有企業(yè)免費(fèi)開放，只要事先在世強(qiáng)元件電商進(jìn)行預(yù)約等級(jí)，即可使用世強(qiáng)&Keysight開放實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行測(cè)試測(cè)量。

其中EMI預(yù)兼容(輻射)近場(chǎng)測(cè)量方案具體包括：

l 輕松識(shí)別超出標(biāo)準(zhǔn)極限值的器件發(fā)射

頻率掃描

l 使用掃描表設(shè)置頻率范圍

使用△至極限值的傳導(dǎo)發(fā)射與掃描表

l 調(diào)諧和偵聽頻率掃描表中的信號(hào)

使用儀表進(jìn)行的輻射掃描

l 使用條形圖查看隨時(shí)間變化的信號(hào)

條形圖

l 生成測(cè)試結(jié)果的報(bào)告

報(bào)告生成

l 時(shí)域掃描加速測(cè)試

分辨率帶寬與FFT采集帶寬的對(duì)比

l 自動(dòng)單擊測(cè)量

簡(jiǎn)化和自動(dòng)執(zhí)行數(shù)據(jù)收集、分析和報(bào)告生成，更高效地完成單擊測(cè)量

l 利用最小的檢測(cè)頻譜找到最大的發(fā)射

檢測(cè)頻譜發(fā)現(xiàn)峰值發(fā)射的頻率

l 準(zhǔn)備執(zhí)行APD測(cè)量

利用APD功能為未來(lái)應(yīng)用做好準(zhǔn)備