·在 Tessent SiliconInsight 產(chǎn)品中采用業(yè)界首創(chuàng)的 ATE-Connect 技術(shù)，實現(xiàn) Tessent DFT 軟件與 Teradyne 測試儀之間的直接通信，從而將芯片調(diào)通時間從幾周縮短至幾天

·Teradyne 的 UltraFLEX ATE 完全支持采用 ATE-Connect 技術(shù)的 Tessent SiliconInsight 接口

Mentor, a Siemens business 今天宣布在其 Tessent™ SiliconInsight™ 產(chǎn)品中引入 ATE-Connect™ 技術(shù)，用于 IC 調(diào)試和調(diào)通。ATE-Connect 技術(shù)創(chuàng)建了行業(yè)標準接口，以消除測試儀專用軟件與可測試性設計 (DFT) 平臺之間的通信障礙。這項新技術(shù)加速了 IJTAG 器件調(diào)試，加快了產(chǎn)品投入量產(chǎn)，縮短了5G無線通信，自動駕駛和人工智能產(chǎn)品上市時間。Mentor 還宣布 Teradyne 的 UltraFLEX 測試解決方案通過其 PortBridge 技術(shù)，完全支持新的 Mentor 接口。

盡管業(yè)界廣泛采用IJTAG(IEEE 1687)測試架構(gòu)進行芯片級測試，但很多公司在芯片級測試向量轉(zhuǎn)換，以及自動測試設備 (ATE) 調(diào)試測試保留了非常不同的方法。因此，每個特定芯片必須由 DFT 工程師編寫測試向量，然后由測試工程師進行轉(zhuǎn)換，以便在每種測試儀類型上調(diào)試每個場景。測試工程師通常借助時鐘周期在較低細節(jié)層次上工作，而 DFT 工程師通常使用 IJTAG 在較高層次上工作。兩者之間的工具和技術(shù)差異導致在如何最高效地調(diào)試芯片方面出現(xiàn)混亂，進而導致 IC 產(chǎn)品生命周期的較長延遲。

Mentor ATE-Connect 技術(shù)使用 TCP/IP 網(wǎng)絡協(xié)議，為被測器件提供 IJTAG 命令，并從 ATE 上的器件接收數(shù)據(jù) – 同時將敏感設計信息保存在 Tessent SiliconInsight 工具內(nèi)，且為 ATE 上的被測器件提供必需的激勵。通過這種標準網(wǎng)絡通信，客戶能夠充分利用現(xiàn)有的安全網(wǎng)絡，實現(xiàn)與全球各地的測試儀的無縫交互。

Mentor 的 Tessent 產(chǎn)品系列高級營銷總監(jiān) Brady Benware 表示，“我們的客戶需要更出色的解決方案，幫助他們應對芯片調(diào)通挑戰(zhàn)，將 IJTAG 的強大功能與 ATE 直接結(jié)合解決了調(diào)試和特征提取流程中的重要瓶頸。使用這個解決方案，客戶能夠在幾天而不是幾周時間內(nèi)完成芯片調(diào)通。”

除了引入 ATE-Connect 技術(shù)之外，Mentor 的 Tessent 部門還宣布與 Teradyne 及其他重要客戶開展合作，以驗證整個解決方案。Teradyne 是面向測試和工業(yè)應用的自動化設備的領先供應商。Mentor 的Tessent工具與 ATE-Connect 以及UltraFLEX的 Teradyne PortBridge 相結(jié)合，這使得DFT 開發(fā)環(huán)境能夠直接與 Teradyne UltraFLEX 通信，實現(xiàn) IP 模塊的交互調(diào)試，因此測試調(diào)試效率的顯著提升。

“Teradyne 通過各種工具創(chuàng)新和合作伙伴關系，滿足客戶對提高工作效率的需求，”Teradyne 半導體測試部副總裁兼 SoC 業(yè)務組總經(jīng)理 Jason Zee 說道，“與 Mentor 的合作是我們?nèi)绾闻c生態(tài)系統(tǒng)合作伙伴進行協(xié)作，以確?？蛻羧〉贸晒Φ闹匾獙嵗?。”