在 20kW 增益和 1VPP 輸出電壓擺幅下,輸入電流為 50mAPP。由于 OPA857 的輸出電壓擺幅是 A 類,而且流過互阻抗的電流是單極的,因此需要正確設(shè)置輸出共模電壓。電流源要具
輕觸啟動(dòng)/測(cè)量鍵,開啟測(cè)距儀。 按需要以加或減鍵更換測(cè)量基準(zhǔn)邊(只對(duì)單次測(cè)量有效),A—前沿;B—儀器支架;C—后沿。 用激光瞄準(zhǔn)目標(biāo),再次輕觸啟動(dòng)/測(cè)量鍵,紀(jì)錄測(cè)量值。 測(cè)量完畢,
為了滿足效率和外形尺寸要求,開關(guān)模式電源制造商不斷采用新的半導(dǎo)體和電路拓?fù)?,同時(shí)還須堅(jiān)持遵守更高的電源完整性標(biāo)準(zhǔn)。因此,設(shè)計(jì)人員必須對(duì)開關(guān)模式波形進(jìn)行更為復(fù)雜的
工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)中,變送器將物理測(cè)量信號(hào)或普通電信號(hào)轉(zhuǎn)換為標(biāo)準(zhǔn)電信號(hào),在現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際環(huán)境中實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)距離信號(hào)采集,包括溫度變送器,壓力變送器,差壓變送器,液位變送器,電流變送器
對(duì)于周期波頻率的測(cè)量方法很多,但大多是通過測(cè)量間接計(jì)算頻率。本文介紹了用目前應(yīng)用比較廣泛的MCS-51系列單片機(jī)對(duì)周期波頻率進(jìn)行測(cè)量,并通過LED以數(shù)字形式直觀地示出頻率,實(shí)現(xiàn)測(cè)量的智能化,省去
以單片機(jī)8031為核心, 利用8279芯片實(shí)現(xiàn)按鍵輸入和利用數(shù)碼管顯示所測(cè)轉(zhuǎn)速,利用ADC0809將輸入電壓模擬量轉(zhuǎn)化為數(shù)字量(實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)部已接好相關(guān)接口)控制電機(jī)轉(zhuǎn)速的目的。然后利用DA0832將電機(jī)上的傳感器
1 引言智能測(cè)量在各行各業(yè)已得到廣泛的應(yīng)用[1][2][3],測(cè)量所得到的數(shù)據(jù)可以通過串口或經(jīng)外部的 USB 橋接器橋接后經(jīng) USB 口與上位機(jī) 交換 數(shù)據(jù)[2] [3][4]。如果單片機(jī)本身已集成了 USB通訊模塊,這將大
為了成為最好,人們會(huì)付出旁人無法想象的努力。例如,運(yùn)動(dòng)員不知疲倦地進(jìn)行訓(xùn)練,只是為了在比賽中能夠快人毫秒。學(xué)生花費(fèi)數(shù)年時(shí)間鉆研學(xué)問,只為獲得頂級(jí)學(xué)術(shù)成就。公司或
引 言 對(duì)于電1子產(chǎn)品來說唯一不可缺少的是電源,但是它除了提供能量外,也帶來了紋波、噪聲等影響電子產(chǎn)品正常工作的影響。紋波電壓對(duì)高放、本振、混頻、濾波、檢波、A/D變換等電路都會(huì)產(chǎn)生影響,在設(shè)計(jì)
一般地,被測(cè)量是非常微弱的,必須用專門的電路來測(cè)量這種微弱的變化,最常用的電路就是各種電橋電路,主要有直流和交流電橋電路。 一、直流測(cè)量電橋分析 如圖1.4.1所示為最常用的電阻電橋,有四個(gè)
對(duì)于像示波器這樣的儀器,一個(gè)主要的需求是快速且可靠地對(duì)已知信號(hào)流中的感興趣事件進(jìn)行檢測(cè)和觸發(fā)。對(duì)特定事件的檢測(cè)越及時(shí),電子設(shè)計(jì)過程中產(chǎn)生的問題就能夠越快地被糾正,從而節(jié)省開發(fā)和生產(chǎn)測(cè)試時(shí)間
多數(shù)人認(rèn)為肉眼無法觀察到視訊中的差動(dòng)增益(DG)與差動(dòng)相位(DP)參數(shù),──由于振幅太小,加上螢?zāi)涣炼茸兓≌诒蔚粽`差的影響,所以一般無法觀察到DG和DP,既然如此,為何還要測(cè)量這些看不見的
摘 要:本文介紹了一個(gè)采用PLD,利用MAX+PLUSⅡ和 EWB等開發(fā)工具,完成了功率因數(shù)精確測(cè)量的設(shè)計(jì)。其核心芯片是Altera公司ACEX 1K系列的EP1K10TC144-3。關(guān)鍵詞:可編程邏輯器件;MAX+PLUSⅡ;功率因數(shù) 引言在電力系統(tǒng)
摘 要: 介紹了以80C196為核心的介質(zhì)損耗因數(shù)自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng),使用了Flash Memory和高速A/D等技術(shù),克服了一般測(cè)量系統(tǒng)在反接測(cè)量時(shí)的絕緣和干擾等問題,達(dá)到了較高的測(cè)量精度。關(guān)鍵詞: 介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ 閃速存儲(chǔ)體
在實(shí)際的項(xiàng)目開發(fā)過程中,常常遇到需要得到一段代碼的運(yùn)行時(shí)間,通常的方法是用示波器來測(cè)量,這篇博文將用SysTick來實(shí)現(xiàn)精確測(cè)量程序運(yùn)行的時(shí)間。STM32F4的內(nèi)核定時(shí)器SysTick是一個(gè)24位的定時(shí)器,需要
內(nèi)容說明本發(fā)明涉及工業(yè)過程控制或監(jiān)測(cè)系統(tǒng)。具體地,本發(fā)明涉及這種系統(tǒng)中被配置以檢測(cè)過程變量的過程變量變送器。發(fā)明背景過程變量變送器用在工業(yè)過程控制環(huán)境中。這種變
發(fā)明背景隨著智能電網(wǎng)的發(fā)展,對(duì)于電能計(jì)量的穩(wěn)定性和可靠性要求越來越高。尤其在一些如關(guān)口計(jì)量和變電站計(jì)量等場(chǎng)合,如果因?yàn)殡娔鼙淼挠?jì)量性能失準(zhǔn),可導(dǎo)致線損超標(biāo)或負(fù)損
1 引 言 在系統(tǒng)可編程模擬電路(In System ProgrammabilityProgrammable Analog Circuits,ispPAC)是可編程模擬器件的一種,其內(nèi)部有可編程的模擬單元(如放大、比較、濾波),他可在不脫離所在應(yīng)用系統(tǒng)的情況下,通
故障原因:電動(dòng)機(jī)有問題,造成過流;變頻器逆變電路有問題,造成缺相、輸出電壓不平衡等。 維修方法:首先進(jìn)行U、V、W電壓測(cè)量,根據(jù)測(cè)量數(shù)據(jù),進(jìn)行正確判斷。問題判斷:如
/*在博文“時(shí)基電路555的應(yīng)用”中,做而論道介紹了使用555構(gòu)成多諧振蕩器,并利用該電路測(cè)量電容器容量的方法。通過合理設(shè)計(jì)電路,可以使得脈沖周期的ms數(shù),等于電容器容量的uF數(shù)。詳細(xì)內(nèi)容可見:http: