計算機雖然有了人工智能的程序支持,但事實上也不能將其機器學習的功能等同于像人類那樣。至少,到目前還不是這樣。那么,向Google的圖片識別或者Facebook的M應用等一類系統(tǒng)
掃描測試是測試集成電路的標準方法。絕大部分集成電路生產測試是基于利用掃描邏輯的 ATPG(自動測試向量生成)。掃描 ATPG 是一項成熟的技術,特點是結果的可預測性高并且效果不錯。它還能實現(xiàn)精確的缺陷診斷,有助于
英特爾工程師上周在舊金山的Game Developers Conference(游戲開發(fā)者大會)上公開該公司第一款繪圖芯片的詳細設計藍圖,向游戲產業(yè)宣告,全球最大的芯片制造商將加入他們的戰(zhàn)
市場研究通過將相應的業(yè)務問題所需的信息具體化,設計具體信息收集的方法、管理并實施數(shù)據(jù)的收集,既而進行分析研究,得出最終結論的過程,其目的在于研究產品/服務的購買者
全國各地已經陸續(xù)開放低空管制,北京也將在2015年全面開放低空領域,這對低空飛行器將是一個十分重大的好消息!低空飛行器也將迎來一個新的發(fā)展春天。實際上,近年四軸飛行器發(fā)展相當迅速,國內的航拍水平越來越高,
集成電路測試(IC測試)主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開,保證產品的質量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展,其規(guī)模越來越大,對電路的質量與可靠性要求進
andrewpei 發(fā)表于 2005-3-10 17:09 Philips ARM ←返回版面 開場白 最近在學習ARM的過程中,遇到了一些以前在8位機、16位機應用中所沒有見過的專業(yè)術語。其中,比較困擾和麻煩的兩個名詞術語就是“Boot&rd
【導讀】2012年2月,臺達高壓調速變頻器在山西立恒鋼鐵有限公司開始運行,至今運作情況良好。用戶的認可和贊賞,再次證明臺達高壓變頻器的研發(fā)、設計及高性能都更貼近中國客戶的各種需求,能為用戶提供最優(yōu)化的解決方
測試設備大廠愛德萬測試(Advantest)將推出射頻IC應用測試模組,預計第2季開始出貨。 愛德萬測試推出兩套測試模組,因應手機與WLAN裝置內、支援802.11ac及LTE-Advanced行動通訊標準的射頻IC測試需求。 愛德萬表
摘要:文章提出一種基于FDR碼改進分組的SoC測試數(shù)據(jù)壓縮方法。經過對原始測試集無關位的簡單預處理,提高確定位0在游程中的出現(xiàn)頻率。在FDR碼的基礎上,改進其分組方式,通過理論證明其壓縮率略高于FDR編碼,尤其是短
CEVA宣布推出全球第一款專門為先進無線基礎設施解決方案所設計的浮點向量(vector floating-point) DSP核心 —— CEVA-XC4500 DSP。 CEVA-XC4500 整合了一系列特性,能支援最嚴苛的基礎設施應用,包括基頻專用指令集架
使用多功能運算IC的向量運算電路
1 引言 電動汽車(ev)是由電機驅動前進的[1],而電機的動力則是來自可循環(huán)充電的電池[2],并且電動汽車對電池的工作特性的要求遠超過了傳統(tǒng)的電池系統(tǒng)。隨著電池技
嵌入式實時面部檢測應用設計指南
近日,瑞薩電子宣布擴展RX63T Group微控制器系列產品。新款RX63T MCU擁有更多腳位數(shù)及更大的記憶體容量,并擴充其內建的功能,例如USB 2.0、10位元D/A轉換器及更快速的ADC (最短轉換時間為0.5微秒(µs)),并提高
引言 近年來,消費者對電子產品的更高性能和更小尺寸的要求持續(xù)推動著SoC(系統(tǒng)級芯片)產品集成水平的提高,并促使其具有更多的功能和更好的性能。要繼續(xù)推動這種無止境的需求以及繼續(xù)解決器件集成領域的挑戰(zhàn),最
在摩爾定律的持續(xù)發(fā)威下,單位面積的電晶體數(shù)目持續(xù)倍增,這樣的趨勢使得產品效能不斷提升,同時尺寸與成本則持續(xù)下降。由于裝置行動化已經是主流,電子產品正在朝向可攜的新趨勢邁進,這使得訊號接收的無線化,也成
1.引言隨著集成電路復雜度越來越高,測試開銷在電路和系統(tǒng)總開銷中所占的比例不斷上升,測試方法的研究顯得非常突出。目前在測試源的劃分上可以采用內建自測試或片外測試。內建自測試把測試源和被測電路都集成在芯片
在風力發(fā)電系統(tǒng)中,隨著風速的變化,要使輸出功率最佳,需對進行預測,從而得到某特定風速下的最佳槳距角。支持向量機(Support Vector Machines,SVM)是根據(jù)統(tǒng)計學理論中最小化原則提出來的,由有限數(shù)據(jù)得到的判別函