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基于FPGA的準(zhǔn)單輸入調(diào)變序列生成器設(shè)計(jì)
1.引言隨著集成電路復(fù)雜度越來越高，測(cè)試開銷在電路和系統(tǒng)總開銷中所占的比例不斷上升，測(cè)試方法的研究顯得非常突出。目前在測(cè)試源的劃分上可以采用內(nèi)建自測(cè)試或片外測(cè)試。內(nèi)建自測(cè)試把測(cè)試源和被測(cè)電路都集成在芯片
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支持向量回歸機(jī)在風(fēng)電系統(tǒng)槳距角預(yù)測(cè)中的應(yīng)用
在風(fēng)力發(fā)電系統(tǒng)中，隨著風(fēng)速的變化，要使輸出功率最佳，需對(duì)進(jìn)行預(yù)測(cè)，從而得到某特定風(fēng)速下的最佳槳距角。支持向量機(jī)(Support Vector Machines，SVM)是根據(jù)統(tǒng)計(jì)學(xué)理論中最小化原則提出來的，由有限數(shù)據(jù)得到的判別函
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傳感器在選購時(shí)應(yīng)考慮哪些要素？
在選購傳感器使，很多人面對(duì)各種各樣的傳感器，無從選擇感到十分困擾。選購傳感器要根據(jù)測(cè)量目的、測(cè)量對(duì)象以及測(cè)量環(huán)境而定，不能盲目選擇。一、傳感器種類眾多，工作原理也不盡相同，需根據(jù)被測(cè)量的特點(diǎn)和傳感器的
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STM32 (Cortex-M3) 中NVIC(嵌套向量中斷控制)的理解
STM32 (Cortex-M3) 中NVIC(嵌套向量中斷控制)的理解
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傳感器認(rèn)識(shí)誤區(qū)解讀
現(xiàn)在傳感器的應(yīng)用幾乎無孔不入，面對(duì)琳瑯滿目的傳感器設(shè)備，恐怕了解不是很多的人選擇的時(shí)候可能都會(huì)有以下疑問：到底該怎么樣來選擇呢？對(duì)于參考傳感器的性能，我們又該從何入手呢？本篇文章就從傳感器屬性入手，帶
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靈敏度越高越好？破解傳感器誤區(qū)
在安防系統(tǒng)的應(yīng)用中，防盜報(bào)警器無疑是系統(tǒng)中最為關(guān)鍵的核心設(shè)備之一。而如果要說到報(bào)警器的核心設(shè)備，那么傳感器即使不是獨(dú)一無二，恐怕也注定會(huì)是其中之一了。作為防盜設(shè)備中的重要組成部分，可以說傳感器無時(shí)無刻
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基于GPS的電壓向量測(cè)量的新方法及其應(yīng)用
隨著電力系統(tǒng)體制改革的深化，廠網(wǎng)分家的模式已初步形成。發(fā)電廠上網(wǎng)電量及電網(wǎng)間電量交換的精確計(jì)量直接關(guān)系到結(jié)算雙方的經(jīng)濟(jì)利益，因此減小電能計(jì)量裝置的綜合誤差是十分重要的。實(shí)際測(cè)試的結(jié)果表明，電能計(jì)量綜合
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英菲尼迪Emerg-E初現(xiàn)北美圓石灘老爺車展
第62屆圓石灘老爺車展日前在美國開幕，英菲尼迪Emerg-E增程式電動(dòng)跑車在此次車展上展出，這也是繼日內(nèi)瓦車展和英國古德伍德速度節(jié)后Emerg-E首次在北美亮相。 據(jù)美國Plugincars報(bào)道，英菲尼迪北美地區(qū)副總裁Ben Po
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標(biāo)準(zhǔn)正交基應(yīng)用于通信原理課程的教學(xué)研究
摘要：通信原理是一門具有很強(qiáng)物理意義的專業(yè)理論課，因其內(nèi)容抽象而繁雜，給教學(xué)帶來了一定的困難。基于整合教學(xué)內(nèi)容的目的，本文探討了將眾多調(diào)制方式(包括模擬調(diào)制和數(shù)字調(diào)制)統(tǒng)一為正交調(diào)制模型的教學(xué)方案。為了
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電子裝備數(shù)字電路板自動(dòng)檢測(cè)儀方案設(shè)計(jì)
1 引言 電子裝備在海軍艦艇上應(yīng)用廣泛，如觀通、導(dǎo)航、指揮控制、電子戰(zhàn)和武器控制等，屬于艦艇關(guān)鍵設(shè)備，電子裝備以其智能化、小型化、高速、高復(fù)雜度的特點(diǎn)，在大幅度提高艦艇生命力和作戰(zhàn)效能的前提下，也為艦
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pcb設(shè)計(jì)邏輯芯片功能測(cè)試
pcb設(shè)計(jì)邏輯芯片功能測(cè)試用于保證被測(cè)器件能夠正確完成其預(yù)期的功能。為了達(dá)到這個(gè)目的，必須先創(chuàng)建測(cè)試向量或者真值表，才能進(jìn)檢測(cè)代測(cè)器件的錯(cuò)誤。一個(gè)真值表檢測(cè)錯(cuò)誤的能力有一個(gè)統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)，被稱作故障覆蓋率。測(cè)
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多通道相位同調(diào)RF量測(cè)系統(tǒng)設(shè)定
標(biāo)簽：MIMO 基頻信號(hào) 多通道自從傳送出第一筆無線電波之后，工程師就持續(xù)發(fā)明新方法，以優(yōu)化電磁微波訊號(hào)。RF 訊號(hào)已廣泛用于多種應(yīng)用，其中又以無線通信與 RADAR 的 2 項(xiàng)特殊應(yīng)用正利用此常見技術(shù)。就本質(zhì)而言，此
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多通道相位同調(diào)RF量測(cè)系統(tǒng)設(shè)定
標(biāo)簽：MIMO 基頻信號(hào) 多通道自從傳送出第一筆無線電波之后，工程師就持續(xù)發(fā)明新方法，以優(yōu)化電磁微波訊號(hào)。RF 訊號(hào)已廣泛用于多種應(yīng)用，其中又以無線通信與 RADAR 的 2 項(xiàng)特殊應(yīng)用正利用此常見技術(shù)。就本質(zhì)而言，此
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半導(dǎo)體功能測(cè)試基礎(chǔ)術(shù)語
半導(dǎo)體功能測(cè)試包含一些新的術(shù)語，這里先簡單介紹一下：Output Mask 輸出屏蔽，一種在功能測(cè)試期間讓測(cè)試通道的輸出比較功能打開或關(guān)閉的方法，可以針對(duì)單獨(dú)的pin在單獨(dú)的周期實(shí)施。Output Sampling 輸出采樣，在功能
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IC測(cè)試原理解析(第二部分)
芯片測(cè)試原理討論在芯片開發(fā)和生產(chǎn)過程中芯片測(cè)試的基本原理，一共分為四章，下面將要介紹的是第二章。我們?cè)诘谝徽陆榻B了芯片的基本測(cè)試原理，描述了影響芯片測(cè)試方案選擇的基本因素，定義了芯片測(cè)試過程中的常用術(shù)
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無向量測(cè)試是測(cè)試高速I/O的最佳方法
大批量半導(dǎo)體芯片制造商必須解決以下這道難題，即如何經(jīng)濟(jì)高效地測(cè)試嵌入在大型數(shù)字系統(tǒng)級(jí)芯片設(shè)計(jì)中的多個(gè)多通道高速I/O接口(如PCI Express、HyperTransport和 Infiniband)。雖然結(jié)合了閉環(huán)操作的片上內(nèi)置自測(cè)試(BI
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基于掃描的電路設(shè)計(jì)技術(shù)介紹
為了確保芯片在制作完成后的正確性，有關(guān)電路測(cè)試的這個(gè)問題越來越受重視。而且其測(cè)試的難度及成本也越來越高，于是如何有效地檢驗(yàn)電路的正確性，并大幅度地降低測(cè)試成本，成為我們現(xiàn)在研究的熱點(diǎn)。通常我們?cè)谠O(shè)計(jì)芯
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容錯(cuò)系統(tǒng)中的自校驗(yàn)技術(shù)及實(shí)現(xiàn)方法
容錯(cuò)系統(tǒng)中的自校驗(yàn)技術(shù)及實(shí)現(xiàn)方法
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大幅加速流程的無線測(cè)試新方案盤點(diǎn)
隨著頻率逐漸攀升到新的高度，無線和射頻測(cè)試的復(fù)雜度和成本也在不斷增加。事實(shí)上，目前千兆赫級(jí)頻率已相當(dāng)司空見慣了。簡單的AM和FM/PM已被淘汰，為更復(fù)雜的數(shù)字調(diào)制方法所取代。二進(jìn)制相移鍵控(BPSK)，正交相移鍵控
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大幅加速流程的無線測(cè)試新方案盤點(diǎn)
隨著頻率逐漸攀升到新的高度，無線和射頻測(cè)試的復(fù)雜度和成本也在不斷增加。事實(shí)上，目前千兆赫級(jí)頻率已相當(dāng)司空見慣了。簡單的AM和FM/PM已被淘汰，為更復(fù)雜的數(shù)字調(diào)制方法所取代。二進(jìn)制相移鍵控(BPSK)，正交相移鍵控
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