在現(xiàn)代雷達(dá)系統(tǒng)中,帶有DSP(數(shù)字信號(hào)處理器)芯片的數(shù)字電路板應(yīng)用很廣。DSP芯片基本支持IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn),并且在電路板中形成了邊界掃描鏈,支持邊界掃描測(cè)試。 在DSP電路板中有這樣一類集成電路,它們屬于非邊界掃描器件,位于電路板邊緣連接器和由DSP芯片形成的邊界掃描鏈之間。這部分器件的功能測(cè)試難以進(jìn)行。首先,這些帶DSP的電路板有獨(dú)立的時(shí)序,所以不能單獨(dú)采用傳統(tǒng)的通過(guò)外部接口輸入測(cè)試矢量的方法進(jìn)行測(cè)試;其次,邊界掃描測(cè)試只能對(duì)與DSP芯片相連的引腳進(jìn)行互連測(cè)試,可檢測(cè)短路故障,但是難以進(jìn)
三菱重工業(yè)、羅姆、凸版印刷和三井物產(chǎn)4公司以及山形大學(xué)研究生院城戶淳二教授,為開展有機(jī)EL照明業(yè)務(wù),成立了驗(yàn)證該業(yè)務(wù)可行性的合資公司“Lumiotec”。該公司將從2009年春季開始制造、銷售樣品面板,力爭(zhēng)3年后實(shí)現(xiàn)
最近出現(xiàn)的系統(tǒng)級(jí)接口器件,為設(shè)計(jì)人員把用于制造測(cè)試的邊界掃描測(cè)試從板級(jí)擴(kuò)展到系統(tǒng)級(jí)提供了靈活條件。擴(kuò)展到系統(tǒng)級(jí)的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)是提供單點(diǎn)接入到多掃描鏈,以支持隔離的診斷能力。這可以用于CPLD和FPGA系統(tǒng)內(nèi)配置的最佳化,以及編程閃存時(shí)存儲(chǔ)器讀/寫周期的最佳化。
本文利用FPGA實(shí)現(xiàn)了基于RU算法的編碼器設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)。在Quartus II軟件環(huán)境下對(duì)LDPC編碼器進(jìn)行仿真,使用Stratix系列EP1s25F672I7芯片,對(duì)碼長(zhǎng)為504的碼字進(jìn)行編碼。
奇美電執(zhí)行副總經(jīng)理吳炳升昨(24)日表示,奇美電與轉(zhuǎn)投資的奇晶光電共同與美國(guó)柯達(dá)公司簽訂AMOLED技術(shù)交互授權(quán)合約,這項(xiàng)合作將使OLED由研發(fā)階段快速提升到成熟量產(chǎn)階段。 奇美電與奇晶光電昨日共同宣布與美國(guó)柯達(dá)
安捷倫科技公司日前宣布,推出安捷倫Medalist VTEP v2.0,這是由非向量測(cè)試功能組成的套件,其中包括新的NPM測(cè)量技術(shù)。
科利登系統(tǒng)公司日前宣布, 它與Cadence合作在Sapphire測(cè)試平臺(tái)和Cadence EncounterTM 之間成功完成了對(duì)一個(gè)良率提高流程的驗(yàn)證。 Sapphire平臺(tái)支持Cadence Encounter Test True-Time Delay Test工具基于STIL的測(cè)試向
介紹了PowerPC系列微處理器的異常和中斷。同時(shí)以MPC555為例對(duì)嵌入式系統(tǒng)從ROM和RAM中的引導(dǎo)特點(diǎn)及技術(shù)實(shí)現(xiàn)方法進(jìn)行了比較,給出了MPC555從RAM快速引導(dǎo)的實(shí)現(xiàn)方法。
文中在以PC機(jī)作為邊界掃描測(cè)試向量生成和故障診斷的基礎(chǔ)上,對(duì)單芯片——EPM9320LC84的印刷電路板故障診斷進(jìn)行了一些討論。
本文詳細(xì)地描述了Fluhrer, S., Mantin, I., Shamir攻擊,同時(shí)針對(duì)802.11網(wǎng)絡(luò)存在的安全問(wèn)題,提出了一些安全建議。
7月初,冒著江淮沿線暴雨成災(zāi)的危險(xiǎn),中國(guó)移動(dòng)通信集團(tuán) 公司總經(jīng)理張立貴一行前往安徽、江蘇、浙江、上海等地調(diào)研。張總一行深入基層營(yíng)業(yè)及網(wǎng)絡(luò)層次 了解情況,并親赴防汛一線檢查移動(dòng)通信保障情況。一路上,張