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[導(dǎo)讀]本文還以Analog Devices推出的兩款I(lǐng)C:6通道14位的AD5770R和5通道16/12位的LTC2662為例,著重介紹了電流輸出DAC的有效使用方法。

本文簡要說明為什么電流輸出DAC是行之有效且往往必不可少的解決方案。此外,本文還以Analog Devices推出的兩款I(lǐng)C:6通道14位的AD5770R和5通道16/12位的LTC2662為例,著重介紹了電流輸出DAC的有效使用方法。

DAC對比ADC

DAC是模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 的功能補充,但兩者面臨的挑戰(zhàn)卻截然不同。ADC的主要作用是在存在外部和內(nèi)部噪聲的情況下,將未知的隨機輸入信號連續(xù)數(shù)字化,并將結(jié)果傳輸?shù)郊嫒莸奶幚砥?。不同于ADC,DAC的輸入是來自處理器的穩(wěn)定且有界的數(shù)字信號,不存在信噪比 (SNR) 問題。然而,DAC輸出卻面臨驅(qū)動外部負載的挑戰(zhàn),就電氣上而言,這或許更為困難。

電流輸出DAC對比電壓輸出DAC

某些傳感器和控制回路需要接入DAC來精確控制電流。這些應(yīng)用包括揚聲器線圈、螺線管和電機;開環(huán)和閉環(huán)工業(yè)系統(tǒng)、科學(xué)系統(tǒng)和光學(xué)系統(tǒng)中與控制相關(guān)的設(shè)置;基本電阻加熱器或精密可調(diào)諧激光器;自動測試設(shè)備 (ATE) 探針刺激;用于電池充電的精密電流輸出;以及可調(diào)光 LED(圖1)。

這些往往都是低阻抗電阻、電感和磁性負載。雖然這些負載也可以由電壓驅(qū)動,但是電壓與端部效應(yīng)的關(guān)系較為復(fù)雜,并且通常呈非線性。因此,對于這類傳感器而言,使用電流源更有效、更精確。

設(shè)計人員往往不太熟悉如何使用電流輸出DAC產(chǎn)生精密電流輸出。一種將傳統(tǒng)的電壓輸出DAC轉(zhuǎn)換為電流輸出器件的方法是,添加配置為電壓-電流 (V/I) 轉(zhuǎn)換器的輸出運算放大器(圖2)。

然而,采用這種方法需要在材料清單 (BOM) 和印刷電路板上添加更多有源和無源元器件,并且運算放大器必須具有良好的拉/灌電流能力,否則就必須使用MOSFET升壓。此外,由于添加了更多具有獨立規(guī)格的有源元器件以及無源元器件,因此整個輸出范圍和溫度范圍內(nèi)的數(shù)字輸入/電流輸出傳遞函數(shù)的誤差預(yù)算就變得愈加困難。

變壓器通常被認為是將高速電流輸出DAC的互補輸出轉(zhuǎn)換為單端電壓輸出的最佳選擇,因為變壓器不會增加噪聲,也不會消耗功率.盡管變壓器在高頻信號下表現(xiàn)良好,但它們無法處理許多儀表和醫(yī)療應(yīng)用所需要的低頻信號.這些應(yīng)用要求一個低功耗、低失真、低噪聲的高速放大器,以將互補電流轉(zhuǎn)換成單端電壓.此處展示的三個電路接受來自DAC的互補輸出電流,并提供單端輸出電壓.將后兩者的失真與變壓器解決方案進行比較.

差分放大器: AD8129和AD8130差分轉(zhuǎn)單端放大器(圖15)用于第一個電路(圖16).它們在高頻下具有極高的共模抑制性能.AD8129在增益為10或以上時保持穩(wěn)定,而AD8130則在單位增益下保持穩(wěn)定.它們的用戶可調(diào)增益可以由, RF 和 RG.兩個電阻的比值來設(shè)置.AD8129和AD8130在引腳1和引腳8上具有很高的輸入阻抗,不受增益設(shè)置的影響.基準(zhǔn)電壓 (VREF, 引腳4)可以用來設(shè)置偏置電壓,該偏置電壓被乘以與差分輸入電壓相同的增益.

方程1和方程2所示為放大器的輸出電壓與DAC的互補輸出電流之間的關(guān)系.端接電阻RT,執(zhí)行電流-電壓轉(zhuǎn)換;RF 與RG之比決定了增益. VREF 在方程2中被設(shè)為0.


一種利用電流輸出DAC構(gòu)建單電源的設(shè)計方法

展示的是電路的無雜散動態(tài)范圍(SFDR),它是頻率的函數(shù),采用DAC和AD8129,其中,RF = 2kΩ, RG = 221Ω, RT = 100Ω, 且VO = 8Vp-p, 兩個電源電壓對應(yīng)的不同值.此處選擇了AD8129,因為它提供較大的輸出信號,在G = 10時保持穩(wěn)定,與AD8130相比,具有較高的增益帶寬積.兩種情況下,SFDR一般都要好于55dB,超過10MHz,在低電源電壓下,約有>3dB的改善.

單位增益下的運算放大器: 第二個電路(圖18)采用了一個高速放大器與兩個 RT電阻.該放大器只是通過, RT將互補電流I1和 I2, 轉(zhuǎn)換成單端輸出電壓, VO這個簡單的電路不允許以放大器為增益模塊放大信號.

方程3所示為VO 與DAC輸出電流之間的關(guān)系.失真數(shù)據(jù)通過與RT并聯(lián)的5pF電容進行測量


一種利用電流輸出DAC構(gòu)建單電源的設(shè)計方法

在電子系統(tǒng)中,數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片(DAC)的功能是將數(shù)字編碼轉(zhuǎn)換成一系列離散的階梯電壓或者電流,是模擬量輸出和控制的核心器件。雖然基本功能簡單,但市場上的DAC芯片型號繁多,了解其具體參數(shù)和內(nèi)部結(jié)構(gòu)對于DAC芯片的選型、系統(tǒng)的優(yōu)化是很有必要的。通用型的DAC芯片大多用來輸出直流信號,精度較高(12~16bit),速度較低(<10MHz),一般稱之為精密DAC。下面我們就結(jié)合DAC的指標(biāo),內(nèi)部結(jié)構(gòu)和應(yīng)用需求,一點點揭開精密DAC的真面目。

一、DAC的指標(biāo)

用戶選擇器件時,可能最關(guān)心精度、速度等有限幾個性能。但這些籠統(tǒng)的性能并非簡單的用DAC標(biāo)稱位數(shù)和更新速度就可以表示。我們必須把系統(tǒng)的需求“翻譯”成正確的DAC指標(biāo),才能做出合理的選型。

DAC的“精度”,一般指DAC的靜態(tài)指標(biāo)(噪聲歸在動態(tài)指標(biāo)中)。而“速度”則對應(yīng)DAC的動態(tài)指標(biāo)。下面將分別介紹。

1.1DAC的靜態(tài)指標(biāo)

靜態(tài)指標(biāo)均基于實際DAC與相同位數(shù)的理想DAC之間的輸出曲線的比較。

首先我們來看DAC的輸出是不是足夠“直”,也就是線性度如何。DAC的線性度一般受芯片內(nèi)部的半導(dǎo)體器件匹配度限制,比如電阻串的匹配,極限在10~12位左右,再高的話需要各種校準(zhǔn)技術(shù)來處理。不同的DAC內(nèi)部結(jié)構(gòu)也對線性度有限制,R2R結(jié)構(gòu)的DAC線性度極限能比R-string的更好(第二部分會涉及)。

下面這兩張圖,表現(xiàn)出實際的三位DAC與理想的三位DAC輸出波形在線性度方面的差異(紅色為實際輸出曲線):


電流輸出DAC對比電壓輸出DAC的優(yōu)勢


電流輸出DAC對比電壓輸出DAC的優(yōu)勢

DNL是微分線性度,指相鄰兩個輸出電平的差相對于理想值(1LSB)的偏差。datasheet中的DNL代表所有臺階中最大的偏差值。由上圖可以看到,如果出現(xiàn)DNL<-1LSB的現(xiàn)象,則DAC的輸出肯定是非單調(diào)的,也就是說數(shù)字編碼增加1,輸出不增加反而會下降。這一點在很多閉環(huán)系統(tǒng)應(yīng)用中是不能接受的,如果DAC出現(xiàn)非單調(diào)的情況,則控制環(huán)路無法收斂。這時一般會選擇DNL<±1LSB的器件。

INL是積分線性度,指實際的輸出相對理想DAC的輸出之間的差異,所以也叫relativeaccuracy,用滿量程的百分比或者LSB來表示。理論上,某個編碼對應(yīng)輸出的INL就是從第一個編碼到這個編碼所有的DNL的積分,也印證了“積分”這個名稱的含義。Datasheet中的INL(或者relativeaccuracy)代表所有輸出值最大的INL。這個指標(biāo)用來衡量DAC輸出的準(zhǔn)確度如何,應(yīng)用比較廣。特別是在開環(huán)應(yīng)用中,應(yīng)當(dāng)關(guān)注INL的指標(biāo)。

除了上面兩個線性度的參數(shù),DAC的實際輸出曲線還存在其它幾種非理想特性,如下面兩圖所示:


電流輸出DAC對比電壓輸出DAC的優(yōu)勢


電流輸出DAC對比電壓輸出DAC的優(yōu)勢

一個無限分辨率的理想DAC輸出特性應(yīng)該是通過原點的一條直線,y=x(這里我們把DAC增益相對理想值歸一化成1),但實際的DAC輸出特性,用靠近首尾兩端的兩點擬合一條直線,特性一般是y=ax+b。其中,a代表DAC實際的輸出增益,即gain。其相對理想增益的偏差,即gainerror。b代表這條直線整體相對原點向上或者向下偏移的幅度,即offseterror

但實際DAC在code為0附近,輸出電壓也很低時,由于內(nèi)部電路接近飽和(特別是帶輸出buffer的DAC),會出現(xiàn)一定的非線性。所以DAC會有一個額外的參數(shù)來標(biāo)定code為0時輸出的偏差,叫zerocodeerror.

另外gain,offset在不同溫度下也會產(chǎn)生變化,即gainshift,offseterrorshift。如果客戶對溫度特性很敏感,要特別關(guān)注這兩個指標(biāo)。

特別要提醒的是,由于上面這幾項因素的影響,我們不能直接用DAC輸出曲線來計算DNL或INL,而必須將gainerror,offseterror計算出來并補償?shù)糁?,再去計算DNL和INL。如果客戶要驗證芯片指標(biāo),還必須注意數(shù)據(jù)手冊中每一項指標(biāo)的測試條件。大部分情況下,INL/DNL基于兩點法擬合直線的基礎(chǔ)上來測量。具體是哪兩點,一般在datasheet中都會注明。

1.2DAC的動態(tài)指標(biāo)

下圖是一個典型的DAC輸出從0附近跳到滿擺幅的輸出波形:


電流輸出DAC對比電壓輸出DAC的優(yōu)勢

輸出從0到滿擺幅變化(或者特定的兩個差異較大的值)的總時間,稱為settlingtime。輸出主要經(jīng)歷兩個階段,一是slewrate,二是linearsettling。slewrate反映了輸出大擺幅下的極限驅(qū)動能力,一般決定了輸出10%~90%變化的時間,。而linearsettling則主要取決于輸出節(jié)點的RC常數(shù)或者輸出buffer的帶寬。Settlingtime是用戶考慮精密DAC速度的重點參數(shù)。


電流輸出DAC對比電壓輸出DAC的優(yōu)勢

如果用戶對DAC輸出變化要求平穩(wěn)不能有毛刺的話,則需要關(guān)注Glitch和Digitalfeedthrough兩個指標(biāo)。

Glitch主要與DAC核心部分的開關(guān)有關(guān)。當(dāng)內(nèi)部開關(guān)從一個點切換到另一個點時,會受到寄生電荷以及開關(guān)切換不能理想同步的影響,從而造成輸出跳動。跳動的幅度和時間都是我們關(guān)注的對象,所以Glitch用nV*S這個二者相乘的單位來表示其能量大小。從其產(chǎn)生原理可見,glitch與具體切換的開關(guān)位置有關(guān)。Code的高位MSB變化時一般會產(chǎn)生較大的glitch,所以datasheet中普遍定義majorcarry處的glitch。Glitch也和結(jié)構(gòu)有關(guān),R-string的glitch一般比R2R結(jié)構(gòu)的glitch小,原因在第二部分有解釋。

Digitalfeedthrough則代表了模擬輸出與數(shù)字輸入的隔離程度。即使DAC沒有被選中進行通信,總線上的數(shù)字IO信號或時鐘跳動通過內(nèi)部信號通路或者電源地的耦合也會造成DAC輸出的跳動,即為digitalfeedthrough。良好的設(shè)計可以保證這個值很小。

另外,DAC輸出noisedensity也是關(guān)注的一部分。DAC的噪聲來源可以分幾部分:VREF(如果有內(nèi)部基準(zhǔn)源的話,flicknoise+熱噪聲),內(nèi)部電阻串(電阻熱噪聲),輸出buffer(flicknoise+熱噪聲)。用戶需要計算不同帶寬下輸出噪聲帶來的影響。系統(tǒng)設(shè)計時需要限制DAC輸出信號的帶寬來抑制不必要的噪聲。一般來說,不希望帶內(nèi)噪聲限制DAC的輸出精度。

二、DAC的結(jié)構(gòu)

DAC的數(shù)據(jù)手冊中一般會注明內(nèi)部是何種結(jié)構(gòu)。下面我們會結(jié)合DAC的指標(biāo),討論下常見結(jié)構(gòu)DAC的優(yōu)缺點,可以幫助理解為何不同結(jié)構(gòu)的DAC有不同的指標(biāo),在系統(tǒng)上應(yīng)該注意哪些重點。

2.1R-string結(jié)構(gòu)

它采用了一串相等的電阻(即R-string的字面含義),從而獲得與參考電壓成比例的值。典型結(jié)構(gòu)如下圖。


電流輸出DAC對比電壓輸出DAC的優(yōu)勢

這種結(jié)構(gòu)的優(yōu)點顯而易見:

1.當(dāng)電阻串輸出點從下邊的開關(guān)切換到上邊的開關(guān)時,輸出電壓肯定是增加的。所以這種結(jié)構(gòu)天然決定了其良好的單調(diào)特性(DNL不會小于-1),這對系統(tǒng)閉環(huán)應(yīng)用是一個很大的好處。

2.一次code變化僅對應(yīng)兩個開關(guān)之間的切換,glitch很小,而且與code無關(guān)。所以這是一種低glitch結(jié)構(gòu)。缺點是,消耗了大量的電阻和開關(guān)器件,受限于半導(dǎo)體電阻器件的匹配度,很難做到高位數(shù)。由此可以延伸出分段等改進的方式來減少電阻數(shù)量,但校準(zhǔn)代價仍然較大,所以有效精度相對較低。

另外,電阻串總值較大,輸出阻抗高,限制了其工作速度。并且電阻串輸出阻抗隨code在不停變化,需要buffer來提供穩(wěn)定的輸出能力。所以在應(yīng)用上需要注意輸出buffer的驅(qū)動能力和穩(wěn)定性,尤其是負載的電容大小。由于上面的特點,這種結(jié)構(gòu)現(xiàn)在被普遍用于12~16位,DNL<+-1LSB(保證單調(diào)性)但對INL要求不是非常高(INL大多在12~14位精度)的DAC中。

2.2R-2R結(jié)構(gòu)


電流輸出DAC對比電壓輸出DAC的優(yōu)勢

如圖所示,R-2RDAC只使用兩種阻值R和2R的電阻。這種結(jié)構(gòu)的關(guān)鍵在于從任何一個2R電阻的右側(cè)往左看,等效阻抗都是R。可以看到,


電流輸出DAC對比電壓輸出DAC的優(yōu)勢

原理上,N位DAC只需要2*N個電阻,因為電阻數(shù)量少,生產(chǎn)時可以校準(zhǔn)到很高的線性度。

這種結(jié)構(gòu)一般是電壓輸出。而且其輸出阻抗恒定為R,這使得連接到輸出節(jié)點的放大器很容易穩(wěn)定。在使用外部高速buffer時,這種DAC可以達到更高的速度。當(dāng)然,也有些R-2RDAC自帶輸出buffer,這種情況下,速度主要由內(nèi)部的buffer來決定。

但另一方面,圖中的開關(guān)必須在寬電壓范圍(VREF至地)內(nèi)工作,這給設(shè)計和制造都帶來難題。在不同code切換時,高低位的多個開關(guān)會經(jīng)歷同時導(dǎo)通或者關(guān)斷的狀態(tài),加上開關(guān)寄生電荷的影響,輸出會出現(xiàn)較大的glitch。

要特別注意的時,基準(zhǔn)電壓VREF端的輸入阻抗會隨著代碼而大幅改變。因此使用這種DAC時,基準(zhǔn)電壓輸入必須有較強的驅(qū)動能力,有時需要增加buffer,如果芯片內(nèi)部沒有基準(zhǔn)電壓buffer的話。

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